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代謝組學在后基因組時代的作用
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2005-02-06 00:00 567閱讀次數(shù)
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代謝組學在后基因組時代的作用
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代謝組學在后基因組時代的作用 代謝組學在后基因組時代的作用[詳細]
2005-02-06 00:00
報價單
基因組時代的高通量篩選方法 有多少miRNA功能性參與了腫瘤的發(fā)生，尤其是腫瘤轉(zhuǎn)移，文中系統(tǒng)的評價了所有的已知人類miRNA，那些能夠調(diào)節(jié)腫瘤轉(zhuǎn)移相關細胞。開發(fā)了一種自組裝的細胞芯片，可通過高通量的檢測儀器-高內(nèi)涵，檢測miRNA對細胞遷移的影響。結果表明，有超過20%的miRNA對多種細胞有調(diào)節(jié)細胞遷移的功能。MiR-23b可YZ人結腸癌，有利調(diào)節(jié)體內(nèi)腫瘤轉(zhuǎn)移中的多種時期，包括腫瘤生長、入侵及血管生成。[詳細]
2021-02-19 13:51
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2007-09-04 00:00
課件
瓶蓋扭矩儀的時代使命 瓶蓋扭矩儀的時代使命[詳細]
2016-08-18 00:00
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跨越時代的細胞膜 跨越時代的細胞膜[詳細]
2024-09-18 18:11
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真核細胞基因組提取 真核細胞基因組提取[詳細]
2016-05-04 00:00
報價單
基因組DNA提取相關 基因組DNA相關基因組DNA提取試劑盒簡介：DNA是遺傳信息的載體，是Z重要的生物信息分子，是分子生物學研究的主要對象，為了進行測序、雜交、基因表達、文庫構建等試驗，獲得高分子量和高純度的基因組DNA是非常重要的前提，因此基因組DNA的提取也是分子生物學試驗技術中Z重要、Z基本的操作之一。Solarbio公司提供各種不同樣品基因組DNA提取試劑盒，如植物、動物、細菌、細胞、血液、酵母等基因組DNA提取試劑盒。所提取的基因組純度高，片段大小在50kb左右。用戶可根據(jù)需要選用不同的試劑盒來進行不同樣品的抽提。基因組DNA提取的原則：1、保證核酸一級結構的完整性（因為遺傳信息全部儲存在核酸一級結構中，故完整的一級結構是保證核酸結構與功能研究的基礎）。2、排除其它分子（如蛋白質(zhì)、多糖、脂類、有機溶劑等）的污染，使下游試驗順利進行?；蚪MDNA提取的原理和方法：DNA與組蛋白構成核小體，核小體纏繞成中空的螺旋管狀結構，即染色絲，染色絲再與許多非組蛋白形成染色體。染色體存在于細胞核中，外有核膜及胞膜。從組織中提取DNA必須先將組織分散成單個細胞，然后破碎胞膜及核膜，使染色體釋放出來，同時去除與DNA結合的組蛋白及非組蛋白。1、樣品預處理從各種不同來源的樣品（如細菌、酵母、血液、動植物組織細胞等）中提取高純度的基因組DNA，因細胞結構及其成分不同，樣品預處理方式也不同，以下簡單介紹常用提取材料的預處理方式，若需詳細了解，請參考本公司各基因組DNA提取試劑盒說明書。部分樣品預處理方式:植物材料液氮研磨動物材料勻漿、液氮研磨培養(yǎng)細胞蛋白酶K處理細菌溶菌酶破壁酵母破壁酶破壁、玻璃珠研磨血液紅細胞裂解液去紅細胞2、細胞裂解CTAB法：適用于植物組織、真菌等。CTAB是一種陽離子去污劑，可溶解細胞膜，并與核酸形成復合物。該復合物在高鹽溶液中（>0.7MNaCl）是可溶的，通過有機溶劑抽提，去除蛋白、多糖、多酚等雜質(zhì)后加入乙醇沉淀即可使核酸分離出來。SDS法：適用于細菌、血液、酵母、動物組織、細胞等。SDS是一種陰離子去污劑，可溶解細胞膜，裂解細胞，使蛋白質(zhì)變性、染色體解體。其它裂解方法：物理方式：機械剪切、超聲波破碎、研磨勻漿等化學方式：異硫氰酸胍、堿裂解等酶法：蛋白酶K3、DNA分離純化純化要求：核酸樣品中不應存在對酶（如核酸內(nèi)切酶、DNA聚合酶等）有YZ作用的成分。其它生物大分子如蛋白質(zhì)、多糖、多酚和脂類分子等污染應降低到Zdi程度。排除其它核酸分子的污染，如提DNA時應去除RNA，反之亦然。純化方法：細胞破碎后，常使用吸附材料結合方法去除雜質(zhì)和純化DNA，主要有硅基質(zhì)材料、陰離子交換樹脂和磁珠等。因硅基質(zhì)材料可特異吸附核酸DNA，使用方便、快捷，不需要使用有毒溶劑如酚、氯仿等，使得提取基因組像過濾一樣簡單，因此硅基質(zhì)材料成為大規(guī)模分離純化DNA的通用方法。硅基質(zhì)材料吸附核酸的原理：主要利用DNA在高鹽低pH值環(huán)境下與硅基質(zhì)材料相結合，在低鹽高pH值環(huán)境下與硅基質(zhì)材料脫離的特征。其機理可能是高濃度鹽離子破壞了硅基質(zhì)水分子結構，形成陽離子橋，當鹽被清除后，再水化的硅石破壞了基質(zhì)和DNA之間的吸引力，因而DNA從硅基質(zhì)上被洗脫下來。注意事項：盡量簡化操作步驟，縮短提取過程，以減少各種有害因素對核酸的破壞。減少化學物質(zhì)對DNA的降解，為避免過酸、過堿對DNA雙鏈中磷酸二酯鍵的破壞，操作多在pH值4.0-10.0的條件下進行。防止基因組DNA的生物降解，主要是DNase降解基因組DNA，DNase需二價金屬陽離子如Mg2+等的激活，可用EDTA等金屬離子螯合劑螯合Mg2+以YZDNase的活性。減少物理因素對DNA的降解，物理降解因素主要包括機械剪切力（如劇烈振蕩、攪拌等），細胞突然置于低滲液中導致的細胞爆炸式破裂，DNase大量釋放，樣品反復凍融和高溫等。4、DNA洗脫收集DNA的洗脫效率取決于以下重要因素：洗脫液成分：采用硅基質(zhì)膜吸附的DNA，可將DNA在低鹽高pH值條件下洗脫下來。pH值在7.0-8.5之間洗脫效率較高，pH值低于7.0則洗脫效率很低。一般基因組提取試劑盒中的洗脫緩沖液就是TE（pH8.0），既為DNA從硅基質(zhì)膜上洗脫下來提供良好的pH環(huán)境，其中的EDTA又能保證DNA不被DNase降解，同時由于EDTA濃度非常低，對核酸內(nèi)切酶、DNA聚合酶的影響非常微弱，不影響后續(xù)實驗，可放心使用。洗脫液體積：當洗脫液體積小于30ul時，洗脫效率很低且不穩(wěn)定；當洗脫液體積在50-200ul時，洗脫效率穩(wěn)定在80-90，并可保證得到Zda產(chǎn)量，因此洗脫液體積不能小于30ul。加洗脫液部位：100-200ul洗脫液能完全覆蓋硅基質(zhì)膜，DNA的洗脫量可得到保證，但當洗脫液體積較少如30-50ul時，須在硅基質(zhì)膜中間部分懸空滴加洗脫液，以確保少量的洗脫液能完全覆蓋硅膠膜。洗脫液的溫度：在加洗脫液之前，先將洗脫液在60-75℃水浴中預熱10分鐘，可有效提高DNA的洗脫效率。洗脫時間和次數(shù)：加入預熱的洗脫液后，可在室溫放置2-5分鐘使DNA完全溶解在洗脫液里通過離心而洗脫下來。同時可進行二次或三次洗脫，即將前次洗脫下來的洗脫液再上柱、離心，使前次沒有洗脫下來的DNA再次溶解在洗脫液里，從而提高DNA的產(chǎn)量。5、DNA的定量及檢測提取得到的DNA*片段需從分子質(zhì)量、濃度、純度等方面進行檢測，從而判斷DNA質(zhì)量。用瓊脂糖凝膠電泳分析DNA分子質(zhì)量：得到的基因組DNA*片段的大小與樣品保存時間、操作過程中的剪切力等因素有關。Solarbio公司的基因組DNA提取試劑盒提取的不同材料基因組DNA*片段大小一般在50kb左右，能很好地滿足后續(xù)試驗的要求。通常用瓊脂糖凝膠電泳分析DNA分子質(zhì)量時，以溴酚藍為示蹤染料，EB染色，紫外觀察，并與DNA分子量標準對照即可判斷所提DNA的平均分子量。高質(zhì)量的基因組DNA應顯示為單一條帶，如DNA降解則表現(xiàn)為彌散條帶。用紫外分光光度計檢測DNA濃度和純度：濃度測定：DNA在OD260處有顯著吸收峰，OD260值為1相當于大約50ug/ml雙鏈DNA。以下簡單介紹OD260的測定方法：所提基因組DNA樣品=100ul進行OD260值測定的待測樣品=20ul所提基因組DNA樣品+180ulTE=200ulDNA稀釋倍數(shù)=200ul/20ul=10倍如200ul待測樣品OD260值=0.2待測樣品濃度（即100ul基因組DNA樣品濃度）=50ug/ml×OD260值×稀釋倍數(shù)=100ug/ml所提100ul基因組DNA樣品總量=100ug/ml×100ul=10ugDNA純度測定：一般用OD260/OD280值檢測DNA樣品的純度。正常OD260/OD280值約為1.7-1.9，說明DNA純度較好；若OD260/OD280值小于1.7，說明可能有蛋白污染；若OD260/OD280值大于2.0，說明可能有RNA污染或DNA已經(jīng)降解。注：因為pH值和離子會影響光吸收值，因此洗脫時如不使用洗脫緩沖液，而使用去離子水，OD260/OD280值會偏低，但并不表示純度低。6、DNA的儲存儲存溶液：DNA為兩性解離分子，在堿性條件下較穩(wěn)定，因此一般用TE（pH8.0）保存。TE的成分為：10mMTris-HCl（Tris與鹽酸形成強的緩沖對）；1mMEDTA（乙二胺四乙酸，能螯合二價金屬陽離子，YZDNase的活性）；pH8.0（堿性條件可減少DNA的脫氨作用，防止降解）。ddH2O的正常pH值為7.0，可作為DNA的儲存液，但有些實驗室制備的ddH2O呈酸性（pH值小于7.0），這不僅影響DNA的洗脫效率，而且導致長時間保存的DNA容易發(fā)生降解。因此建議用TE作為DNA的長期儲存液。儲存條件：為避免DNA降解，提取的DNA應先進行分裝，然后置于-20℃或-70℃保存，同時注意避免反復凍融造成DNA降解。[詳細]
2024-09-29 11:52
產(chǎn)品樣冊
北京時代價目表 北京時代價目表產(chǎn)品名稱型號單價貨期備注數(shù)顯洛氏硬度計TH300403005周標準配置手動洛氏硬度計HR-150A71507天標準配置加高洛氏硬度計HR-150B156007天標準配置塑料洛氏硬度計TXR-150D1248015天標準配置電動洛氏硬度計THR-150D988015天標準配置電動表面洛氏硬度計TMR-45D1248015天標準配置液晶數(shù)顯表面洛氏硬度計TMRP-45E3640015天標準配置液晶數(shù)顯洛氏硬度計THRP-150D2574015天標準配置液晶數(shù)顯洛氏表面洛氏硬度計TSRP-150D5460015天標準配置數(shù)顯布洛維硬度計THBRVP-187.5E5460021天標準配置電動布洛維硬度計THBRV-187.5D1430021天標準配置布氏硬度計HB-3000B-I192407天標準配置電子布氏硬度計THB-3000E2574021天標準配置液晶數(shù)顯布氏硬度計THBS-3000E3484021天標準配置直讀數(shù)顯布氏硬度計THBS-3000DB7540021天標準配置圖像布氏硬度計THBC-3000DB10140021天標準配置手動轉(zhuǎn)塔顯微硬度計TMV-1S3094015天標準配置手動轉(zhuǎn)塔數(shù)顯顯微硬度計TMVS-1S4160015天標準配置自動轉(zhuǎn)塔數(shù)顯顯微硬度計TMVS-14290015天標準配置大屏手動轉(zhuǎn)塔顯微硬度計TMVP-1S5005015天標準配置大屏自動轉(zhuǎn)塔顯微硬度計TMVP-15330015天標準配置觸摸屏顯微硬度計TMVM-15850015天標準配置數(shù)顯手動轉(zhuǎn)塔維氏硬度計THVS-5S4160021天標準配置數(shù)顯自動轉(zhuǎn)塔維氏硬度計THVS-54745021天標準配置大屏自動轉(zhuǎn)塔維氏硬度計THVP-55850021天標準配置數(shù)顯手動轉(zhuǎn)塔維氏硬度計THVS-10S4524021天標準配置數(shù)顯手動轉(zhuǎn)塔維氏硬度計THVS-30S4524021天標準配置數(shù)顯手動轉(zhuǎn)塔維氏硬度計THVS-50S4524021天標準配置數(shù)顯自動轉(zhuǎn)塔維氏硬度計THVS-104940021天標準配置數(shù)顯自動轉(zhuǎn)塔維氏硬度計THVS-304940021天標準配置數(shù)顯自動轉(zhuǎn)塔維氏硬度計THVS-504940021天標準配置大屏數(shù)顯自動轉(zhuǎn)塔維氏硬度計THVP-105850021天標準配置大屏數(shù)顯自動轉(zhuǎn)塔維氏硬度計THVP-305850021天標準配置大屏數(shù)顯自動轉(zhuǎn)塔維氏硬度計THVP-505850021天標準配置維氏硬度圖像測量系統(tǒng)MV-TEST10002327021天標準配置布氏硬度圖像測量系統(tǒng)HB-TEST30005330021天標準配置高端臺式硬度計系列產(chǎn)品名稱型號單價貨期備注光學wan能硬度計TH9002574003個月標準配置顯微硬度計TH7605980030天標準配置顯微硬度計TH7619009030天標準配置顯微硬度計TH7627800030天標準配置顯微硬度計TH76410660030天標準配置維氏硬度計TH7708840030天標準配置維氏硬度計TH77111570030天標準配置維氏硬度計TH7809100030天標準配置維氏硬度計TH78112090030天標準配置金相顯微鏡系列產(chǎn)品名稱型號單價交期備注金相顯微鏡TMBL-11170010天內(nèi)標準配置金相顯微鏡TMV2003A1105010天內(nèi)標準配置金相顯微鏡TMV2030A1131010天內(nèi)標準配置金相顯微鏡TMV2020A1495010天內(nèi)標準配置金相顯微鏡TMV3003A1196020天內(nèi)標準配置金相顯微鏡TMV3030A1274020天內(nèi)標準配置金相顯微鏡TMV3203A1534010天內(nèi)標準配置金相顯微鏡TMV3230A1625010天內(nèi)標準配置金相顯微鏡TMV3230BD4160015天內(nèi)標準配置金相顯微鏡TMV302BD4875020天內(nèi)標準配置金相顯微鏡TMV3230DIC11570040天內(nèi)標準配置金相顯微鏡TMV302DIC11960040天內(nèi)標準配置金相顯微鏡TMV100DIC12350020天內(nèi)標準配置金相顯微鏡TMV1012509015天內(nèi)標準配置金相顯微鏡TMV2012327015天內(nèi)標準配置金相顯微鏡TMV101A2314015天內(nèi)標準配置金相顯微鏡TMV201A2314015天內(nèi)標準配置金相顯微鏡TMV3022470015天內(nèi)標準配置金相顯微鏡TMR17001560010天內(nèi)標準配置金相顯微鏡TMR20002327010天內(nèi)標準配置金相顯微鏡TMR2000BD4550015天內(nèi)標準配置金相顯微鏡TMV1001820020天內(nèi)標準配置金相顯微鏡TMV100BD4160040天內(nèi)標準配置軟件TM1000A（不含電腦）1404010天內(nèi)標準配置軟件TM1000B（不含電腦）2808010天內(nèi)標準配置金相顯微鏡備件數(shù)碼單反相機接頭91010天內(nèi)標準配置金相顯微鏡備件CCD接頭104010天內(nèi)標準配置金相制樣設備系列產(chǎn)品名稱型號單價交貨期備注金相試樣切割機（35×35mm）TQG-1403010天標準配置金相試樣切割機（50×50mm快速夾具）TQG-1A650010天標準配置巖相試樣切割機（65×65mm）TQG-21274010天標準配置金相試樣切割機（85×85mm）立式低噪音防水電機TQG-32730020天標準配置金相試樣切割機（85×85mm）臺式低噪音防水電機TQG-3A2587020天標準配置金相試樣切割機（50×60×80mm）臺式低噪音防水電機TQG-3B1287010天標準配置多能切割機（65×65mm）立式低噪音防水電機TQG-42405020天標準配置多能切割機（65×65mm）立式低噪音防水電機快速夾具TQG-4A2535020天標準配置金相試樣切割機（100×100mm）立式低噪音防水電機TQG-2938020天標準配置金相試樣切割機（120×120mm）立式低噪音防水電機TQG-53185020天標準配置金相試樣預磨機（單頭）TYM-1260010天標準配置金相試樣預磨機（單頭）TYM-1A325010天標準配置金相試樣預磨機（雙頭）TYM-2494010天標準配置金相試樣預磨機（雙頭）TYM-2A585010天標準配置金相試樣鑲嵌機（Ф22mm）TXQ-1A429010天標準配置金相試樣鑲嵌機（Ф30mm）TXQ-1B455010天標準配置金相試樣鑲嵌機（Ф45mm）TXQ-1C546010天標準配置自動金相巖相試樣鑲嵌機（Ф22mm）TZXQ-1A2106020天標準配置自動金相巖相試樣鑲嵌機（Ф30mm）TZXQ-1B2236020天標準配置自動金相巖相試樣鑲嵌機（Ф45mm）TZXQ-1C2262020天標準配置自動金相巖相試樣鑲嵌機（Ф30mm帶水冷）TZXQ-2D2704020天標準配置金相試樣磨平機（不銹鋼）TMPJ-352704020天標準配置金相試樣磨平機TMPJ-251105010天標準配置光譜砂帶磨樣機（不銹鋼）TMY-11144010天標準配置單盤雙速金相試樣磨拋機TMP-1773510天標準配置單盤雙速金相試樣磨拋機（帶自動磨頭）TMP-1B1033510天標準配置金相試樣磨拋機（無級）TMP-1A1157010天標準配置雙盤三速金相試樣磨拋機（不銹鋼、低噪音防水電機）TMP-22340020天標準配置雙盤金相試樣磨拋機（無級、不銹鋼、低噪音防水電機）TMP-2A2860020天標準配置雙盤三速金相試樣磨拋機（部分不銹鋼、低噪音防水電機）TMP-2B1755020天標準配置多能磨拋機（無級、低噪音防水電機）TPW-1B1235010天標準配置金相試樣四速磨拋機（雙頭）TYMP-2A1170010天標準配置金相試樣研磨拋光機（雙頭，無級）TYMP-21794020天標準配置金相試樣磨拋機（玻璃鋼雙頭）TYMP-2B650010天標準配置雙速金相試樣磨拋機（單頭）TYMP-1A897010天標準配置金相試樣研磨拋光機（單頭，無級）TYMP-11261010天標準配置金相試樣拋光機（單頭、低噪音防水電機）TPG-1195010天標準配置金相試樣拋光機（單頭、低噪音防水電機）TPG-1A247010天標準配置金相試樣拋光機（雙頭立式、低噪音防水電機）TPG-2403010天標準配置金相試樣拋光機（雙頭臺式、低噪音防水電機）TPG-2A390010天標準配置臺式雙盤雙速金相試樣拋光機TPG-2B572010天標準配置金相試樣拋光機（雙頭立式、低噪音防水電機）TPG-2C468010天標準配置金相試樣拋光機（柜式雙頭雙速、低噪音防水電機）TPG-2D617510天標準配置金相試樣拋光機（柜式、無級調(diào)速、低噪音防水電機）TPG-2DA1222010天標準配置電解拋光、腐蝕儀TDPF-14940020天標準配置沖擊試驗機系列名稱型號單價供貨期備注半自動金屬擺錘式?jīng)_擊試驗機JB-300B3744015天半自動半自動金屬擺錘式?jīng)_擊試驗機JB-500B6864030天半自動半自動金屬擺錘式?jīng)_擊試驗機JB-500/75015860060天半自動液晶數(shù)顯式?jīng)_擊試驗機JB-S300A6474030天PLC控制液晶數(shù)顯式?jīng)_擊試驗機JB-S500A9074030天PLC控制微機控制擺錘式?jīng)_擊試驗機JB-W300A7540030天PLC控制微機控制擺錘式?jīng)_擊試驗機JB-W500A11570030天PLC控制微機控制擺錘式?jīng)_擊試驗機JB-W500/75024440060天PLC控制半自動金屬擺錘式?jīng)_擊試驗機JB-300C4940060天PLC控制半自動金屬擺錘式?jīng)_擊試驗機JB-500C8060060天PLC控制液晶數(shù)顯式?jīng)_擊試驗機JB-S300C6474060天PLC控制微機控制擺錘式?jīng)_擊試驗機JB-W300C8840060天PLC控制微機控制擺錘式?jīng)_擊試驗機JB-W500C12740060天PLC控制夏比沖擊試樣缺口拉床LS72-U（V）1274015天配置單拉刀夏比沖擊試樣缺口拉床L71-UV3523015天電動自動噴油，配置U、V型拉刀夏比沖擊試樣缺口拉床L72-UV325007天電動手動淋油，配置U、V型拉刀夏比沖擊試樣缺口拉床L73-UV494007天歐標、電動手動淋油，配置U、V型拉刀夏比沖擊試樣缺口拉床LY71-UV387407天液壓傳動沖擊試驗低溫儀DWY-60A406907天-60℃壓縮機制冷沖擊試驗低溫儀DWY-80A455007天-80℃壓縮機制冷，噴塑小容量沖擊試驗低溫儀DWY-100A17940030天-100℃壓縮機制冷沖擊試驗低溫儀DWN-100A10140030天液氮制冷，帶專用液氮瓶沖擊試驗低溫儀DWN-196A10140030天液氮制冷，帶專用液氮瓶沖擊試樣缺口投影儀XT-50175507天國標、放大50倍鋼筋彎曲試驗機GW-40A6084045天普通標準配置鋼筋彎曲試驗機GW-40B634407天數(shù)顯、標準配置鋼筋彎曲試驗機GW-5011674060天標準配置電動標距打點機SDL-300127407天標準配置彈簧試驗機系列名稱型號單價貨期備注彈簧拉壓試驗機TLS-1I1544445天標準配置彈簧拉壓試驗機TLS-2I1544445天標準配置彈簧拉壓試驗機TLS-5I1515845天標準配置彈簧拉壓試驗機TLS-10I1404045天標準配置彈簧拉壓試驗機TLS-20I1404045天標準配置彈簧拉壓試驗機TLS-50I1378045天標準配置彈簧拉壓試驗機TLS-100I1378045天標準配置彈簧拉壓試驗機TLS-200I1378045天標準配置彈簧拉壓試驗機TLS-500I1417045天標準配置彈簧拉壓試驗機TLS-1000I1417045天標準配置彈簧拉壓試驗機TLS-2000I1417045天標準配置彈簧拉壓試驗機TLS-5000I2574045天標準配置彈簧拉壓試驗機TLS-5000I（門式）4030045天標準配置彈簧拉壓試驗機TLS-10000I4030045天標準配置彈簧拉壓試驗機TLS-20000I4030045天標準配置彈簧拉壓試驗機TLS-S11833045天標準配置彈簧拉壓試驗機TLS-S21833045天標準配置彈簧拉壓試驗機TLS-S51833045天標準配置彈簧拉壓試驗機TLS-S101716045天標準配置彈簧拉壓試驗機TLS-S201716045天標準配置彈簧拉壓試驗機TLS-S50I1833045天標準配置彈簧拉壓試驗機TLS-S100I1833045天標準配置彈簧拉壓試驗機TLS-S200I1833045天標準配置彈簧拉壓試驗機TLS-S500I1950045天標準配置彈簧拉壓試驗機TLS-S1000I1950045天標準配置彈簧拉壓試驗機TLS-S2000I1950045天標準配置彈簧拉壓試驗機TLS-S5000I3692045天標準配置彈簧拉壓試驗機TLS-S5000I（門）4576045天標準配置彈簧拉壓試驗機TLS-S10000I4576045天標準配置彈簧拉壓試驗機TLS-S20000I4576045天標準配置彈簧扭轉(zhuǎn)試驗機TNS-S5001976075天標準配置彈簧扭轉(zhuǎn)試驗機TNS-S10001976075天標準配置彈簧扭轉(zhuǎn)試驗機TNS-S20001976075天標準配置彈簧扭轉(zhuǎn)試驗機TNS-S50002002075天標準配置彈簧扭轉(zhuǎn)試驗機TNS-S100003276075天標準配置彈簧扭轉(zhuǎn)試驗機TNS-S200003276075天標準配置彈簧拉壓試驗機TLS-S20II3874060天標準配置彈簧拉壓試驗機TLS-S50II3874060天標準配置彈簧拉壓試驗機TLS-S100II3874060天標準配置彈簧拉壓試驗機TLS-S200II3874060天標準配置彈簧拉壓試驗機TLS-S500II3874060天標準配置彈簧拉壓試驗機TLS-S1000II3874060天標準配置彈簧拉壓試驗機TLS-S2000II3874060天標準配置彈簧拉壓試驗機TLS-S5000II4264060天標準配置彈簧拉壓試驗機TLS-S5000II（門）5460060天標準配置彈簧拉壓試驗機TLS-S10000II5460060天標準配置彈簧拉壓試驗機TLS-S20000II5460060天標準配置彈簧扭轉(zhuǎn)試驗機TNS-S50L2028060天標準配置彈簧扭轉(zhuǎn)試驗機TNS-S100L1976060天標準配置彈簧扭轉(zhuǎn)試驗機TNS-S200L1976060天標準配置彈簧扭轉(zhuǎn)試驗機TNS-S500L1976060天標準配置彈簧扭轉(zhuǎn)試驗機TNS-S1000L1976060天標準配置彈簧扭轉(zhuǎn)試驗機TNS-S2000L1976060天標準配置彈簧扭轉(zhuǎn)試驗機TNS-S5000L2080060天標準配置線材扭轉(zhuǎn)試驗機TNS-EZ1A2340070天標準配置線材扭轉(zhuǎn)試驗機TNS-EZ3A2340070天標準配置線材扭轉(zhuǎn)試驗機TNS-EZ104966070天標準配置彈簧疲勞試驗機TPJ-16240070天標準配置彈簧疲勞試驗機TPJ-26240070天標準配置彈簧疲勞試驗機TPJ-G10003510070天標準配置彈簧疲勞試驗機TPJ-G20003510070天標準配置彈簧疲勞試驗機TPJ-G30004004070天標準配置電子wan能試驗機系列產(chǎn)品名稱型號單價供貨期備注電子式wan能試驗機WDW-J0022600025標準配置電子式wan能試驗機WDW-J0052600025標準配置電子式wan能試驗機WDW-J012600025標準配置電子式wan能試驗機WDW-J022600025標準配置電子式wan能試驗機WDW-J052600025標準配置電子式wan能試驗機WDW-J12600025標準配置電子式wan能試驗機WDW-J22600025標準配置電子式wan能試驗機WDW-J52860025標準配置電子式wan能試驗機WDW-J106500030標準配置電子式wan能試驗機WDW-J206500030標準配置電子式wan能試驗機WDW-J507150030標準配置電子式wan能試驗機WDW-J1008580035標準配置電子式wan能試驗機WDW-J20019500035標準配置電子式wan能試驗機WDW-J30020800035標準配置微機控制電子式wan能試驗機WDW-0026760025標準配置微機控制電子式wan能試驗機WDW-0056760025標準配置微機控制電子式wan能試驗機WDW-016760025標準配置微機控制電子式wan能試驗機WDW-026760025標準配置微機控制電子式wan能試驗機WDW-056760025標準配置微機控制電子式wan能試驗機WDW-16760025標準配置微機控制電子式wan能試驗機WDW-26760025標準配置微機控制電子式wan能試驗機WDW-57280025標準配置微機控制電子式wan能試驗機WDW-1010140030標準配置微機控制電子式wan能試驗機WDW-2010140030標準配置微機控制電子式wan能試驗機WDW-5010400030標準配置微機控制電子式wan能試驗機WDW-10014300035標準配置微機控制電子式wan能試驗機WDW-20020800035標準配置微機控制電子式wan能試驗機WDW-30022100035標準配置微機控制電子式wan能試驗機WDW-10E9750030標準配置微機控制電子式wan能試驗機WDW-20E9750030標準配置微機控制電子式wan能試驗機WDW-50E10400030標準配置微機控制電子式wan能試驗機WDW-100E16640035標準配置微機控制電子式wan能試驗機WDW-200E23140035標準配置微機控制電子式wan能試驗機WDW-300E24440040標準配置微機控制電子式wan能試驗機WDW-500E55900060標準配置電子式人造板試驗機MWD-J106500030標準配置電子式人造板試驗機MWD-J206500030標準配置電子式人造板試驗機MWD-J507150030標準配置電子式人造板試驗機MWD-J1008580035標準配置微機控制電子式人造板試驗機MWD-W1010140030標準配置微機控制電子式人造板試驗機MWD-W2010140030標準配置微機控制電子式人造板試驗機MWD-W5010400030標準配置微機控制電子式人造板試驗機MWD-W10014300035標準配置微機控制電子式wan能試驗機WDW-B017540030標準配置微機控制電子式wan能試驗機WDW-B027540030標準配置微機控制電子式wan能試驗機WDW-B057540030標準配置微機控制電子式wan能試驗機WDW-B17540030標準配置微機控制電子式wan能試驗機WDW-B27540030標準配置微機控制電子式wan能試驗機WDW-B57540030標準配置微機控制電子式wan能試驗機WDW-B1011700030標準配置微機控制電子式wan能試驗機WDW-B2011700030標準配置微機控制電子式wan能試驗機WDW-B5012350030標準配置微機控制電子式wan能試驗機WDW-B10020800040標準配置微機控制電子式wan能試驗機WDW-B20026000040標準配置微機控制電子式wan能試驗機WDW-B30027300045標準配置測溫儀、熱像儀、測距儀、紫外線燈產(chǎn)品名稱型號單價備注測溫儀MT4939標準配置測溫儀ST2030609標準配置測溫儀ST6057739標準配置測溫儀F621208標準配置測溫儀3ILTDL3U32760標準配置測溫儀3ILTCL3U32760標準配置測溫儀3ILRS3U32760標準配置測溫儀3ILRL3U32760標準配置測溫儀3ILRSC/L2U36790標準配置測溫儀3I1MSCU32760標準配置測溫儀3I1MS3U35490標準配置測溫儀3I1MSC/L2U39390標準配置測溫儀3I2MSCU35490標準配置測溫儀3I2ML3U35490標準配置測溫儀3I2MSC/L2U39390標準配置測溫儀3IP7DL3U35490標準配置測溫儀3IG5SCU35490標準配置測溫儀TN4355460標準配置紅外熱像儀I538740標準配置測距儀D22080標準配置測距儀D33120標準配置測距儀D54940標準配置紫外線燈LUV-40025740標準配置紫外線燈LP-365D11440標準配置紫外線燈LPX-3654940標準配置紫外線防護面罩LUV-40884標準配置紫外線防護面罩LUV-20494標準配置紫外線防護面罩LUV-10234標準配置氣體檢測儀、表面粗糙度儀系列產(chǎn)品名稱型號單價備注單一氣體檢測儀O24160標準配置H2S3510標準配置CO3510標準配置H27150標準配置SO27540標準配置復合氣體檢測儀SP12C79750標準配置可燃氣體檢測器LPG/LNG6240標準配置氫氣檢測器H27670標準配置便攜式表面粗糙度儀泰勒2555250標準配置[詳細]
2018-09-04 10:00
產(chǎn)品樣冊
基于 Orbitrap GC-MS 的非靶向代謝組學 基于 Orbitrap GC-MS 的非靶向代謝組學[詳細]
2015-11-20 00:00
應用文章
解碼姥鯊基因組 解碼姥鯊基因組[詳細]
2014-02-12 00:00
標準
血液基因組DNA提取試劑盒 資料名稱：血液基因組DNA提取試劑盒
適用產(chǎn)品：使用本試劑盒回收的D N A 可適用于各種常規(guī)操作， 包括酶切、P C R 、文庫構建、Southern雜交等實驗。
正文語言：中文
文件編號：BP024-1
文件版本：1.0
文件格式：PDF
文件大小：0.9MB
內(nèi)容簡介：本試劑盒采用酶裂解法裂解血液樣本，適用于從新鮮、加抗凝血劑或冷凍的血液樣本中提取基因組DNA。離心吸附柱采用的硅基質(zhì)材料為本公司特有新型材料，可特異性、GX、專一吸附DNA，可Zda限度去除雜質(zhì)蛋白及細胞中其他有機化合物。提取的基因組DNA片段大，純度高，質(zhì)量穩(wěn)定可靠。[詳細]
2018-05-23 09:43
其它
土壤基因組DNA提取試劑盒 資料名稱：土壤基因組DNA提取試劑盒
適用產(chǎn)品：適用于新鮮的土壤樣本（如花盆土、農(nóng)田土、花壇土、濕泥、河流沉積物等）中提取基因組DNA。
正文語言：中文
文件編號：BP028-1
文件版本：1.0
文件格式：PDF
文件大?。?.8MB
內(nèi)容簡介：本試劑盒采用獨特的硅膠膜吸附技術，能夠快速提取和純化土壤基因組DNA，適用于新采取的土壤樣本，如農(nóng)田土、花壇土、濕泥等。本試劑盒采用獨特的緩沖液系統(tǒng)，可將土壤樣本中的腐殖酸等雜質(zhì)盡量去除，經(jīng)裂解后的DNA可GX結合到吸附柱上，殘留的少量雜質(zhì)可使用漂洗液進行去除，Z后使用洗脫液進行洗脫收集，獲得高純度的基因組DNA。用本試劑盒提取的土壤基因組DNA可適用于各種常規(guī)操作，包括酶切、PCR、文庫構建等分子生物學下游實驗。[詳細]
2018-05-23 16:29
其它
植物基因組DNA提取試劑盒 資料名稱：植物基因組DNA提取試劑盒
適用產(chǎn)品：本試劑盒采用獨特的硅膠膜吸附技術，能夠快速提取植物基因組DNA，適用于從植物組織細胞中提取總基因組DNA，提取的基因組DNAZda長度可達到50 kb。
正文語言：中文
文件編號：BP029-1
文件版本：1.0
文件格式：PDF
文件大?。?.9MB
內(nèi)容簡介：本試劑盒采用獨特的硅膠膜吸附技術，能夠快速提取植物基因組DNA，適用于從植物組織細胞中提取總基因組DNA，提取的基因組DNAZda長度可達到50 kb。本試劑盒采用獨特的緩沖液系統(tǒng)，可Zda限度的去除雜蛋白及其他有機物等雜質(zhì)，經(jīng)裂解后的DNA可GX結合到吸附柱上，殘留的少量雜質(zhì)可使用漂洗液進行去除，Z后使用洗脫液進行洗脫收集，獲得高純度的基因組DNA。用本試劑盒提取的植物基因組DNA可適用于各種常規(guī)操作，包括酶切、PCR、文庫構建等分子生物學下游實驗。[詳細]
2018-05-23 16:30
其它
土壤基因組DNA提取試劑盒 資料名稱：土壤基因組DNA提取試劑盒
適用產(chǎn)品：適用于新鮮的土壤樣本（如花盆土、農(nóng)田土、花壇土、濕泥、河流沉積物等）中提取基因組DNA。
正文語言：中文
文件編號：BP028-1
文件版本：1.0
文件格式：PDF
文件大?。?.8MB
內(nèi)容簡介：本試劑盒采用獨特的硅膠膜吸附技術，能夠快速提取和純化土壤基因組DNA，適用于新采取的土壤樣本，如農(nóng)田土、花壇土、濕泥等。本試劑盒采用獨特的緩沖液系統(tǒng)，可將土壤樣本中的腐殖酸等雜質(zhì)盡量去除，經(jīng)裂解后的DNA可GX結合到吸附柱上，殘留的少量雜質(zhì)可使用漂洗液進行去除，Z后使用洗脫液進行洗脫收集，獲得高純度的基因組DNA。用本試劑盒提取的土壤基因組DNA可適用于各種常規(guī)操作，包括酶切、PCR、文庫構建等分子生物學下游實驗。[詳細]
2018-05-24 10:22
其它
植物基因組DNA提取試劑盒 資料名稱：植物基因組DNA提取試劑盒
適用產(chǎn)品：本試劑盒采用獨特的硅膠膜吸附技術，能夠快速提取植物基因組DNA，適用于從植物組織細胞中提取總基因組DNA，提取的基因組DNAZda長度可達到50 kb。
正文語言：中文
文件編號：BP029-1
文件版本：1.0
文件格式：PDF
文件大小：0.9MB
內(nèi)容簡介：本試劑盒采用獨特的硅膠膜吸附技術，能夠快速提取植物基因組DNA，適用于從植物組織細胞中提取總基因組DNA，提取的基因組DNAZda長度可達到50 kb。本試劑盒采用獨特的緩沖液系統(tǒng)，可Zda限度的去除雜蛋白及其他有機物等雜質(zhì)，經(jīng)裂解后的DNA可GX結合到吸附柱上，殘留的少量雜質(zhì)可使用漂洗液進行去除，Z后使用洗脫液進行洗脫收集，獲得高純度的基因組DNA。用本試劑盒提取的植物基因組DNA可適用于各種常規(guī)操作，包括酶切、PCR、文庫構建等分子生物學下游實驗。[詳細]
2018-05-24 10:37
其它
細菌基因組DNA提取試劑盒 資料名稱：細菌基因組DNA提取試劑盒
適用產(chǎn)品：本試劑盒采用獨特的硅膠膜吸附技術，能夠快速提取細菌的基因組DNA，提取的基因組DNA片段大，純度高，質(zhì)量穩(wěn)定可靠。
正文語言：中文
文件編號：BP035-1
文件版本：1.0
文件格式：PDF
文件大?。?.8MB
內(nèi)容簡介：本試劑盒采用獨特的硅膠膜吸附技術，能夠快速提取細菌的基因組DNA，提取的基因組DNA片段大，純度高，質(zhì)量穩(wěn)定可靠。本試劑盒采用獨特的緩沖液系統(tǒng)，可Zda限度的去除雜蛋白及其他有機物，經(jīng)裂解后的DNA可GX結合到吸附柱上，殘留的少量雜質(zhì)可使用漂洗液進行去除，Z后使用洗脫液進行洗脫收集，獲得高純度的基因組DNA。用本試劑盒提取的細菌基因組DNA可適用于各種常規(guī)操作，包括酶切、PCR、文庫構建等分子生物學下游實驗。[詳細]
2018-05-24 11:15
其它
代謝組學研究在微生物育種中的應用 本文向您介紹以生成半胱氨酸的大腸桿菌為樣品，在合成半胱氨酸時使用的硫源中添加硫代硫酸或硫酸，使用LC/MS分析相關含硫代謝物隨著培養(yǎng)時間的延長所發(fā)生變化的分析示例。[詳細]
2018-08-26 10:00
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