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  2018-10-08 10:00

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  2018-10-05 10:01

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  標(biāo)準(zhǔn)編號:GB/T5170.14-2009中文標(biāo)準(zhǔn)名稱:環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢驗方法振動（正弦）試驗用電動振動臺代替標(biāo)準(zhǔn)號:GB/T5170.14-1985電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動（正弦）試驗用電動振動臺,標(biāo)準(zhǔn)簡介:本部分規(guī)定了振動（正弦）試驗用電動振動臺在進(jìn)行定型鑒定、出廠檢驗和定期檢驗時的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗條件、檢驗時的一般規(guī)定、檢驗方法及檢驗結(jié)果等內(nèi)容。本部分適用于對GB/T2423.10《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗　第2部分:試驗方法　試驗Fc和導(dǎo)則:振動（正弦）》進(jìn)行振動試驗用電動振動臺系統(tǒng)（以下簡稱振動臺）基本參數(shù)的檢驗方法。對于帶有水平工作臺的振動臺,檢驗項目中除頻率指示誤差、頻率穩(wěn)定度、振動幅值指示誤差、掃頻速率誤差、臺面溫度外,其余均應(yīng)參照檢驗方法中的相應(yīng)條款進(jìn)行檢驗。本部分也適用于類似試驗設(shè)備的檢驗。國際標(biāo)準(zhǔn)分類號:19.040ZG標(biāo)準(zhǔn)分類號:K04標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)前言:GB/T5170分為如下部分:---GB/T5170.1電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法總則---GB/T5170.2電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法溫度試驗設(shè)備---GB/T5170.5電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法濕熱試驗設(shè)備---GB/T5170.8電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法鹽霧試驗設(shè)備---GB/T5170.9電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法太陽輻射試驗設(shè)備---GB/T5170.10電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法高低溫低氣壓試驗設(shè)備---GB/T5170.11電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法腐蝕氣體試驗設(shè)備---GB/T5170.13電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動（正弦）試驗用機(jī)械振動臺---GB/T5170.14電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動（正弦）試驗用電動振動臺---GB/T5170.15電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動（正弦）試驗用液壓振動臺---GB/T5170.16電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法穩(wěn)態(tài)加速度試驗用離心機(jī)---GB/T5170.17電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫/低氣壓/濕熱綜合順序試驗設(shè)備---GB/T5170.18電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度/濕度組合循環(huán)試驗設(shè)備---GB/T5170.19電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度/振動（正弦）綜合試驗設(shè)備---GB/T5170.20電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法水試驗設(shè)備---GB/T5170.21電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢驗方法振動（隨機(jī)）試驗用液壓振動臺本部分是GB/T5170的第14部分。本部分代替GB/T5170.14-1985電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動（正弦）試驗用電動振動臺《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動（正弦）試驗用電動振動臺》。本部分與GB/T5170.14-1985相比,技術(shù)內(nèi)容主要有如下變化:---標(biāo)準(zhǔn)名稱《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動（正弦）試驗用電動振動臺》改為《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢驗方法振動（正弦）試驗用電動振動臺》。---增加了范圍一章。---增加了規(guī)范性引用文件一章。---增加了術(shù)語和定義一章。---在檢驗用主要儀器及要求一章中,給出了檢驗用儀器的測量結(jié)果擴(kuò)展不確定度（d=2）的要求。---增加了檢驗條件一章。---在一般規(guī)定一章,要求檢驗用負(fù)載表面光潔度不低于7級改為表面粗糙度Ra優(yōu)于6.4μm;將第3條移至范圍一章。---在檢驗方法一章,對圖1進(jìn)行了修改,刪除了圖2~圖7;關(guān)于Zda動態(tài)力的檢驗,運動部件等效質(zhì)量改用動圈質(zhì)量,并刪除了對應(yīng)的附錄運動部件等效質(zhì)量的測量方法;增加了8.3.4臺面一階共振頻率的檢驗和圖2;加速度單位由改為m/s2;加速度波形失真度的檢驗改為臺面加速度諧波失真度的檢驗;對臺面加速度幅值均勻度的檢驗1條進(jìn)行了修改;本底噪聲加速度的檢驗改為試驗系統(tǒng)加速度信噪比的檢驗;修改了8.12掃頻速率誤差的檢驗。---增加了數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗結(jié)果一章。---增加了檢驗周期一章。---附錄A改為資料性附錄,并對檢驗項目的選擇作出了修改。---附錄B改為資料性附錄,并對基本參數(shù)的指標(biāo)要求作出了修改。本部分的附錄A、附錄B為資料性附錄。本部分由ZG電器工業(yè)協(xié)會提出。本部分由全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會歸口。本部分起草單位:信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所。本部分主要起草人:鄭術(shù)力、肖建紅。本部分所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為:---GB/T5170.14-1985。引用標(biāo)準(zhǔn):下列文件中的條款通過GB/T5170的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本部分,然而,鼓勵根據(jù)本部分達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的Zxin版本。凡是不注日期的引用文件,其Zxin版本適用于本部分。GB/T2423.10-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Fc:振動（正弦）電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Fc和導(dǎo)則:振動（正弦）（IEC6006826:1995,IDT）GB/T5170.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法總則標(biāo)準(zhǔn)關(guān)注次數(shù):11次標(biāo)準(zhǔn)上傳日期:2009-9-13[詳細(xì)]

  2018-09-05 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GBT 5170.5-2008 設(shè)備檢驗方法 濕熱試驗設(shè)備

  GBT5170.5-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法濕熱試驗設(shè)備[詳細(xì)]

  2018-09-14 10:00

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