資料庫
硅片探針臺,顯微鏡使用,適合小于4英寸的晶圓測量,是理想的硅片儀器.
-
本文由 孚光精儀（香港）有限公司 整理匯編
2013-10-24 00:00 652閱讀次數(shù)
文檔僅可預(yù)覽首頁內(nèi)容，請下載后查看全文信息！
-
立即下載
硅片探針臺,顯微鏡使用,適合小于4英寸的晶圓測量,是理想的硅片儀器.
登錄或新用戶注冊
請用手機微信掃描下方二維碼
快速登錄或注冊新賬號
微信掃碼，手機電腦聯(lián)動
更多資料
-
硅片探針臺,顯微鏡使用,適合小于4英寸的晶圓測量,是理想的硅片儀器.- 硅片探針臺,顯微鏡使用,適合小于4英寸的晶圓測量,是理想的硅片儀器.[詳細]
-
2013-10-24 00:00
產(chǎn)品樣冊
-
- 探針微定位器,適合各種探針和探針臺的定位器.
- 探針微定位器,適合各種探針和探針臺的定位器.[詳細]
-
2013-10-24 00:00
操作手冊
-
- FTIR通過真空模型測量硅片
- FTIR通過真空模型測量硅片[詳細]
-
2024-09-29 08:51
選購指南
-
- FTIR通過真空模型測量硅片
- FTIR通過真空模型測量硅片[詳細]
-
2024-09-29 04:22
選購指南
-
- 硅片測厚用什么儀器好
- CHY-CA薄膜測厚儀是濟南賽成研發(fā)的，采用機械接觸式測量原理，嚴格按照標準方法進行測量，有效保證了測試的規(guī)范性和準確性。專業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度極ng確測量。[詳細]
-
2019-08-30 15:52
應(yīng)用文章
-
- 太陽能電池硅片測厚儀
- 太陽能電池硅片測厚儀采用機械接觸式測量方式，嚴格符合標準要求，有效保證了測試的規(guī)范性和準確性。專業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。[詳細]
-
2024-09-28 01:24
產(chǎn)品樣冊
-
- 單晶硅片 中缺陷的研究
- 單晶硅片 中缺陷的研究[詳細]
-
2024-09-16 12:37
實驗操作
-
- 硅片少子壽命測試解決方案
- 硅片少子壽命測試解決方案[詳細]
-
2024-09-28 00:34
專利
-
晶圓檢測- 晶圓檢測[詳細]
-
2024-09-17 10:26
安裝說明
-
- Sinton+wct120+BCT400+sunsvoc+少子壽命測試儀+硅片測試
- Sinton+wct120+BCT400+sunsvoc+少子壽命測試儀+硅片測試[詳細]
-
2024-09-18 02:53
其它
-
- Instec 將顯微鏡改造成溫控顯微探針臺的解決方案
- Instec 將顯微鏡改造成溫控顯微探針臺的解決方案[詳細]
-
2015-08-28 00:00
其它
-
- 變焦實體顯微鏡,適合工業(yè)應(yīng)用和生物研究以及教學(xué)使用,是獲得銳利三維圖像的顯微鏡.
- 變焦實體顯微鏡,適合工業(yè)應(yīng)用和生物研究以及教學(xué)使用,是獲得銳利三維圖像的顯微鏡.[詳細]
-
2013-10-22 00:00
操作手冊
-
- 6英寸晶圓檢測顯微鏡：可靠觀察細微高度差異
- 電子和半導(dǎo)體行業(yè)如何從用于半導(dǎo)體組件檢測的自動化和可重復(fù)的DIC顯微鏡中受益
電子和半導(dǎo)體行業(yè)如何從用于半導(dǎo)體組件檢測的自動化和可重復(fù)的DIC顯微鏡中受益 在半導(dǎo)體器件生產(chǎn)過程中，晶圓檢驗對于識別和減少可能影響器件性能的缺陷至關(guān)重要。為了提高檢驗的精確性和效率，光 學(xué)顯微鏡方案應(yīng)結(jié)合不同的對比方法，提供關(guān)于圖案化晶圓上可能存在的任何缺陷的準確可靠信息。其中，在晶圓檢驗中起 重要作用的一種對比方法是微分干涉對比（DIC）。[詳細]
-
2024-08-22 14:48
選購指南
-
- 一種用于化學(xué)與生物傳感器的Iridescent光學(xué)納米硅片
- 一種用于化學(xué)與生物傳感器的Iridescent光學(xué)納米硅片[詳細]
-
2024-09-21 00:30
實驗操作
-
- 鼎竑離子減薄儀 GU-AI9000 減薄硅片
- 上透射電鏡拍攝的樣品薄片的厚度不能超過 200 納米，因此在上透射電鏡前要進行前處理，離子減薄儀的作用就是將樣品薄片減薄至 200 納米以下。硅片在生活中很常見，且在電子電器行業(yè)中也使用的非常多[詳細]
-
2024-05-16 16:58
應(yīng)用文章
-
- 奧林巴斯顯微鏡100x物鏡是怎么使用的
- 奧林巴斯顯微鏡100x物鏡是怎么使用的[詳細]
-
2014-03-29 00:00
實驗操作
-
- 美國MTI 測量硅片幾何參數(shù)(TTV/BOW/WARP/FLATNESS)產(chǎn)品樣冊
- 美國MTI 測量硅片幾何參數(shù)(TTV/BOW/WARP/FLATNESS)產(chǎn)品樣冊[詳細]
-
2024-09-17 01:56
應(yīng)用文章
-
- 8英寸晶圓隔紙
- 8英寸晶圓隔紙硅片隔離紙晶圓硅片測試片隔紙由上海書培實驗設(shè)備有限公司生產(chǎn)提供，產(chǎn)品規(guī)格齊全，質(zhì)量優(yōu)越，歡迎客戶來電咨詢選購。8英寸晶圓隔紙硅片隔離紙晶圓硅片測試片隔紙產(chǎn)品介紹：IC紙,,表面電阻在107-109次方，電子產(chǎn)品隔離紙,無塵級別：100級，8英寸晶圓隔紙硅片隔離紙晶圓硅片測試片隔紙規(guī)格表格：產(chǎn)品名稱產(chǎn)品尺寸包裝規(guī)格產(chǎn)品單價品牌晶圓隔紙4英寸100張/包80元上海書培晶圓隔紙6英寸100張/包110元上海書培晶圓隔紙8英寸100張/包150元上海書培[詳細]
-
2018-11-18 10:00
產(chǎn)品樣冊
-
- WCT-120PL產(chǎn)品分別采用標準QSSPC方法和光致發(fā)光法測量硅片的載流子壽命產(chǎn)品樣冊
- WCT-120PL產(chǎn)品分別采用標準QSSPC方法和光致發(fā)光法測量硅片的載流子壽命產(chǎn)品樣冊[詳細]
-
2016-10-18 14:23
選購指南
-
- 晶圓上的光刻膠殘留和有機污染物的可視化
- 電子行業(yè)如何通過使用熒光顯微鏡對晶圓和半導(dǎo)體進行檢測？無論是質(zhì)量控制、失 效分析和研發(fā)都能從中受益 對更強大、更快速的電子設(shè)備（智能手機、計算機、平板電腦、顯示器等）的需求不斷增長，這推動了集成電路（IC）芯片 和半導(dǎo)體組件的圖案尺寸縮小到10納米以下[1-3]。為了實現(xiàn)更小的納米級尺寸，紫外光刻圖案化步驟的數(shù)量已經(jīng)增加，隨 之而來的是刻蝕過程中的缺陷和有機污染的可能性增加[2]。這種殘留污染可能對工藝控制、產(chǎn)量以及電子組件的性能和可 靠性產(chǎn)生負面影響[詳細]
-
2024-08-22 14:50
選購指南
- 該會員其他資料
- 機載成像光譜儀資料
- 高光譜成像系統(tǒng)資料孚光精儀
- 優(yōu)質(zhì)進口Nd:YLF晶體資料
- X射線衍射應(yīng)力分析儀基于X射線衍射技術(shù)，是世界上非常適合測量大型工件的殘余應(yīng)力的工具
- 便攜式X射線衍射儀采用獨特的具有ZL技術(shù)的曲線弧型探測器代替?zhèn)鹘y(tǒng)的機械掃描測角儀器,實現(xiàn)實時高速測量
- 分子雜交儀具有微處理控制溫度功能,溫控精度高達0.1攝氏度,可連續(xù)地高精度編程控制溫度.
- 分子雜交爐,具有微處理控制溫度功能,溫控精度高達0.1攝氏度,可連續(xù)地高精度編程控制溫度
- 藍光透照儀適合日常的凝膠,照明樣本,核酸實驗等
- 超聲波細胞破碎儀采用優(yōu)質(zhì)材料,優(yōu)化設(shè)計,長時間耐損抗疲勞試驗,振幅自動調(diào)節(jié)
- 數(shù)碼顯微鏡,效果可與傳統(tǒng)顯微鏡相媲美,LED等亮度可調(diào)，照明物體.
Copyright 2004-2026 yiqi.com All Rights Reserved , 未經(jīng)書面授權(quán) , 頁面內(nèi)容不得以任何形式進行復(fù)制
在線留言
滬公網(wǎng)安備 31011502008050號
參與評論
登錄后參與評論