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  G150-4環(huán)境試驗方法低溫試驗[詳細]

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  G150-4設(shè)備環(huán)境試驗方法低溫試驗.pdf[詳細]

  2018-09-04 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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  本部分規(guī)定的低溫試驗適用于非散熱和散熱試驗樣品，試驗Ab和Ad與早期版本無實質(zhì)性的差異。[詳細]

  2018-10-13 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗試驗方法低溫

  本部分規(guī)定的低溫試驗適用于非散熱和散熱試驗樣品。試驗Ab和試驗Ad與早期版本無實質(zhì)性的差異，增加試驗Ae的目的主要是檢測那些要求在整個試驗過程包括降溫調(diào)節(jié)期間都要通電運行的設(shè)備。本低溫試驗的目的于用來確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低溫環(huán)境下使用、運輸或貯存的能力。本低溫試驗不能用來評價試驗樣品耐溫度變化的能力和在溫度變化環(huán)境下的運行能力，在這種情況下，應(yīng)采用GB/T2433.22。[詳細]

  2018-10-13 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• 低溫環(huán)境試驗方法

  低溫環(huán)境試驗方法[詳細]

  2018-10-05 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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  G150-12環(huán)境試驗方法沙塵試驗設(shè)備.pdf[詳細]

  2018-10-05 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• 環(huán)境試驗方法 加速度試驗

  環(huán)境試驗方法 加速度試驗[詳細]

  2014-02-28 00:00

  安裝說明

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• 環(huán)境試驗方法-加速度試驗

  環(huán)境試驗方法-加速度試驗[詳細]

  2018-10-05 10:00

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• 環(huán)境試驗方法-太陽輻射試驗

  環(huán)境試驗方法-太陽輻射試驗[詳細]

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  G150-7環(huán)境試驗方法太陽輻射試驗方法[詳細]

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  GB_T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗A低溫相應(yīng)試驗由中科美其（北京）科技有限公司試驗設(shè)備公司的高低溫試驗箱執(zhí)行。[詳細]

  2018-09-05 10:00

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• GB_T_2423.1-2008_電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗_第2_部分：試驗方法_試驗A：低溫

  GB_T_2423.1-2008_電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗_第2_部分：試驗方法_試驗A：低溫免費下載地方:http://www.bjzkhs.com北京中科環(huán)試儀器有限公司[詳細]

  2018-09-29 10:01

  產(chǎn)品樣冊

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  GBT2423.1-2008_電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗_第2部分：試驗方法_試驗A：_低溫[詳細]

  2018-10-02 10:03

  產(chǎn)品樣冊

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• GB/T2423.1-2008試驗方法_試驗A：低溫

  GB/T2423.1-2008_電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗_第2_部分：試驗方法_試驗A：低溫GB/T2423的本部分規(guī)定的低溫試驗適用于非散熱和散熱試驗樣品。試驗AB和試驗AD與早期版本無實質(zhì)性的差異，增加試驗AE的目的主要是檢測那些要求在整個試驗過程包括降溫調(diào)節(jié)期間都要通電運行的設(shè)備[詳細]

  2018-10-25 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• 環(huán)境試驗試驗方法---B試驗高溫

  本高溫試驗的目的于用來確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在高溫環(huán)境下使用，運輸和貯存的能力[詳細]

  2018-10-13 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• 裝備實驗室環(huán)境試驗方法【加速度試驗方法】

  中華人民共和國國家標準：裝備實驗室環(huán)境方法【加速度試驗方法】本部分（GJB150.1-2009裝備實驗室環(huán)境方法）規(guī)定了裝備的實驗室加速度實驗的目的與應(yīng)用、剪裁指南、信息要求、試驗要求、試驗過程和結(jié)果分析的內(nèi)容。本部分適用于對裝備進行加速度試驗。上海林頻儀器股份有限公司座落于ZG上海市科技產(chǎn)業(yè)基地閔行經(jīng)濟技術(shù)開發(fā)區(qū)，是一家專業(yè)從事環(huán)境試驗設(shè)備研發(fā)、生產(chǎn)與銷售于一體的高新技術(shù)股份制企業(yè)。歷經(jīng)市場洗禮和多年的拼搏積淀，林頻儀器現(xiàn)已發(fā)展成為環(huán)境試驗設(shè)備領(lǐng)域的龍頭企業(yè)之一。公司專業(yè)生產(chǎn)各類環(huán)境試驗設(shè)備：高低溫低氣壓試驗箱、液氮深冷低溫箱、CASS交變鹽霧箱、高低溫沖擊試驗箱、太陽能光伏組件濕凍試驗設(shè)備、溫度老化試驗室及各類非標產(chǎn)品,“林頻”生產(chǎn)的試驗設(shè)備可滿足GB、GJB、MIL、DIL、IEC等各行業(yè)各國家的標準，關(guān)于產(chǎn)品細節(jié)請致電021-34098999，如果您需要下載相關(guān)標準或產(chǎn)品技術(shù)資料，請登陸：http://www.linpin.com.cn！[詳細]

  2018-09-03 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• 低溫恒溫試驗箱試驗方法

  低溫恒溫試驗箱詳細介紹一、產(chǎn)品介紹1、產(chǎn)品特點：外形美觀大方，底座為萬向輪方便移動結(jié)構(gòu)合理科學，獨特的風道循環(huán)系統(tǒng)，溫濕度偏差小且均勻度更高進口制冷機組及電氣控制零配件，大大提高了設(shè)備運行的可靠性系統(tǒng)操作簡單，性能穩(wěn)定，設(shè)備維護方便維護成本低廉2、產(chǎn)品用途：對電工、電子、家用電器、汽車、摩托車、化工及其它產(chǎn)品零部件和材料進行溫度、低溫恒溫試驗二、設(shè)備執(zhí)行與滿足標準及試驗方法1、GB10586-89低溫試驗箱技術(shù)條件2、GB2423.1-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗A：低溫試驗方法3、GJB150.4-86設(shè)備環(huán)境試驗方法低溫試驗4、GB/T2423.22-2001溫度變化試驗方法5、IEC60068-2-1.1990低溫試驗箱試驗方法溫度控制采用日本RKC數(shù)顯觸摸按鍵，觸控式設(shè)定、數(shù)位及直接顯示，溫度控制輸出功率均由P.I.D微電腦演算，以達高精度及GX率之用電效益。如發(fā)生錯誤時，會提供警示迅號。制冷機采用法國原裝“泰康"全封閉壓縮機。干燥過濾器、冷媒流量視窗、修理閥、油分離器、電磁閥、貯液筒均采用進口原裝件低溫恒溫試驗箱采用多翼式送風機QL送風循環(huán)，避免任何死角，可使測試區(qū)域內(nèi)溫度分布均勻。風路循環(huán)出風回風設(shè)計，風壓、風速均符合測試標準，并可使開門瞬間溫度回穩(wěn)時間快。升溫、降溫、系統(tǒng)完全獨立可提GX率，降低測試成本，增長壽命，減低故障率。整體設(shè)備超溫；整體設(shè)備欠相/逆相；整體設(shè)備過載；制冷機組超壓；整體設(shè)備定時；其它還有漏電、運行指示，故障報警后自動停機等保護。型號SDHS-100SDHS-225SDHS-500SDHS-800SDHS-010工作室尺寸D×W×H450×450×500500×600×750800×700×9001000×800×10001000×1000×1000外形尺寸D×W×H1020×880×15801070×1030×18251370×1130×19751570×1230×21251570×1430×2125總功率2.8KW3.5KW3.8KW4.2KW4.5KW凈重170kg200kg240kg330kg410kg性能指標溫度范圍RT+10℃~100℃波動/均勻度≤±0.5℃/±2℃溫度偏差+2％升溫時間室溫~100℃約30min控制溫度±1℃溫濕度運行控制系統(tǒng)控制器進口微電腦濕溫度集成控制器（溫度直接顯示百分數(shù)）精度范圍設(shè)定精度：溫度±0.1℃.指示精度：溫度±0.1℃、溫度±0.1％RH溫濕度傳感器鉑鉑金電阻PT100Ω加熱系統(tǒng)完全獨立系統(tǒng)，鎳鉻合金電加熱式加熱器循環(huán)系統(tǒng)耐溫低噪音空調(diào)型電機，多葉式離心風輪[詳細]

  2018-11-01 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• G150-7 環(huán)境試驗設(shè)備 太陽輻射試驗方法

  G150-7環(huán)境試驗設(shè)備太陽輻射試驗方法[詳細]

  2018-10-05 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• G150-7 環(huán)境試驗方法 太陽輻射試驗

  G150-7環(huán)境試驗方法太陽輻射試驗.pdf[詳細]

  2018-08-19 10:00

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• G150-9 環(huán)境試驗方法 溫熱試驗

  G150-9環(huán)境試驗方法溫熱試驗[詳細]

  2018-09-14 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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