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Axetris 微光學透鏡產品樣冊
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本文由 萊丹塑料焊接技術(上海)有限公司 整理匯編
2016-10-20 09:35 591閱讀次數
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- C12562型光學納米膜厚測量系統是一款小型緊湊、節(jié)省空間、安裝方便的非接觸式薄膜厚測量系統。在半導體工業(yè)中,硅通孔技術的普及使得硅厚度測量變得必不可少;在薄膜生產工業(yè)中,越來越高的產品需求使得粘合層薄膜的制作朝著越來越薄的方向發(fā)展。因此,這些工業(yè)領域需要更高精度、測量范圍可以覆蓋1μm到300μm的厚度測量系統。C12562可以對厚度范圍從0.5μm到300μm的薄膜進行極ng確測量,包括薄膜鍍層厚度和薄膜襯底厚度以及總厚度。C12562可以進行高達100 Hz的快速測量,因此非常適合高速生產線測量。 [詳細]
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