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為什么掃描電鏡是納米顆粒的重要表征技術(shù)
本文由 復(fù)納科學(xué)儀器(上海)有限公司 整理匯編
2018-08-22 10:00 675閱讀次數(shù)
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隨著微觀顆粒應(yīng)用的持續(xù)增加,更加需要極ng確控制其性能。我們將解釋為什么需要極ng確的監(jiān)測和表征顆粒,以及說明掃描電鏡是您的重要表征方法,特別是它的廣泛用途和高分辨率?!邦w粒(particle)”是一個(gè)很常見的術(shù)語,它表示材料中任何不連續(xù)的子部分。它的范圍可以從亞原子尺度(大小10-15m)到原子(0.3)和分子(nm-μm)的微觀顆粒,直到可以包括灰塵、油污、皮膚(mm-cm)的宏觀顆粒,甚至銀河系里的行星(地球約為106m)。因此,對(duì)“顆?!睒Ong確定義是相當(dāng)困難的任務(wù)。通常理解的粒子在尺寸和形狀方面可能會(huì)有很大變化?,F(xiàn)在,我們專注上述的顆粒種類之一,微觀顆粒。這一類顆粒是非常有趣的,因?yàn)樗鼈冇泻芏鄬?shí)際應(yīng)用,例如陶瓷、食品工業(yè)、電子產(chǎn)品、聚合物和塑料、化妝品和制藥領(lǐng)域。事實(shí)已經(jīng)證明,這類粒子的尺寸和形狀會(huì)影響對(duì)應(yīng)的材料性能。原理上,大多數(shù)材料是依賴尺寸的;納米級(jí)材料的物理性質(zhì)可能與晶粒尺寸較大的相同材料的物理性質(zhì)不同。這由以下幾個(gè)因素決定。首先,當(dāng)涉及到納米維度時(shí),經(jīng)典力學(xué)不再適用,應(yīng)該被量子力學(xué)替代。此外,比表面積大大增加,潛在地影響材料的某些特性(圖1)。圖1:顆粒聚合物與大晶粒材料的表面積與體積比增加許多納米材料相對(duì)于大晶粒材料具有不同的性質(zhì)。例如,金的光學(xué)性質(zhì)在大晶粒和納米尺度上是非常不同的。我們都知道黃金是黃色的,但是對(duì)于金納米顆粒來說卻并非如此。它們的顏色可以在紫色和紅色之間變化,這取決于它們的尺寸(圖2)。此外,與用于防曬霜的大晶粒ZnO相比,ZnO納米顆粒并不能散射可見光。圖2:隨著金顆粒尺寸減小光學(xué)特性的變化此外,不僅光學(xué)性能會(huì)改變,電性能也可能在納米尺度會(huì)改變。大晶粒作為導(dǎo)體的一些材料可以成為半導(dǎo)體,反之亦然。因此,顯而易見的是,顆粒的尺寸在許多不同應(yīng)用中可能是影響其性能的重要因素。例如,它可以影響YL應(yīng)用中的輸送效率,催化過程中的反應(yīng)性和溶解速率,用作涂料和油墨時(shí)的外觀以及產(chǎn)品的孔隙率。這種尺寸的顆粒由于其比表面積的增加以及具有吸收和攜帶幾種化合物的能力,從而在藥物遞送劑等醫(yī)學(xué)應(yīng)用中具有前景。除了尺寸外,顆粒的形狀也會(huì)影響材料的性質(zhì)以及材料的應(yīng)用。與尺寸類似,形狀可以改變食品的口感和體驗(yàn),藥物和其它應(yīng)用中藥劑的流動(dòng)性和反應(yīng)性。此外,像凸度和圓形度這樣的顆粒特征也十分重要,它們同樣可以影響顆粒的性質(zhì)。顯然,這些顆粒的可調(diào)節(jié)性是令人著迷的,由于它們在應(yīng)用中的巨大潛力和巨大變化,已經(jīng)吸引了世界各地許多研究團(tuán)隊(duì)的目光。原理上,材料的性質(zhì)可以通過改變尺寸和形狀進(jìn)行調(diào)整。為實(shí)現(xiàn)這一點(diǎn),已經(jīng)采用了許多表征技術(shù)來獲得顆粒的形狀和尺寸的分布。獲取顆粒圖像的同時(shí)統(tǒng)計(jì)出測量結(jié)果是Z理想的,但充滿了挑戰(zhàn)。自動(dòng)化分析程序如PaticleMetric(圖3)則可以幫助您實(shí)現(xiàn)這個(gè)目標(biāo)。它包含高分辨率的電子成像,以及對(duì)圖像中的粒子進(jìn)行自動(dòng)分析和分類。這不僅取決于它們的尺寸和形狀,還取決于許多其他特征,例如顆粒的凸度,圓形度,表面積和體積。圖3:ParticleMetric操作界面。上圖,獲取到的SEM圖像和識(shí)別出來的顆粒。下圖,展示出了分析結(jié)果;尺寸和形狀分布以及其它重要特征的分布結(jié)果要獲得高質(zhì)量的微觀粒子照片,樣品制備是至關(guān)重要的。如果您想了解如何制備您的顆粒樣品用以掃描電子顯微鏡分析,您可以進(jìn)一步與我們聯(lián)系。
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為什么掃描電鏡是納米顆粒的重要表征技術(shù)
隨著微觀顆粒應(yīng)用的持續(xù)增加,更加需要極ng確控制其性能。我們將解釋為什么需要極ng確的監(jiān)測和表征顆粒,以及說明掃描電鏡是您的重要表征方法,特別是它的廣泛用途和高分辨率。“顆粒(particle)”是一個(gè)很常見的術(shù)語,它表示材料中任何不連續(xù)的子部分。它的范圍可以從亞原子尺度(大小10-15m)到原子(0.3)和分子(nm-μm)的微觀顆粒,直到可以包括灰塵、油污、皮膚(mm-cm)的宏觀顆粒,甚至銀河系里的行星(地球約為106m)。因此,對(duì)“顆?!睒Ong確定義是相當(dāng)困難的任務(wù)。通常理解的粒子在尺寸和形狀方面可能會(huì)有很大變化?,F(xiàn)在,我們專注上述的顆粒種類之一,微觀顆粒。這一類顆粒是非常有趣的,因?yàn)樗鼈冇泻芏鄬?shí)際應(yīng)用,例如陶瓷、食品工業(yè)、電子產(chǎn)品、聚合物和塑料、化妝品和制藥領(lǐng)域。事實(shí)已經(jīng)證明,這類粒子的尺寸和形狀會(huì)影響對(duì)應(yīng)的材料性能。原理上,大多數(shù)材料是依賴尺寸的;納米級(jí)材料的物理性質(zhì)可能與晶粒尺寸較大的相同材料的物理性質(zhì)不同。這由以下幾個(gè)因素決定。首先,當(dāng)涉及到納米維度時(shí),經(jīng)典力學(xué)不再適用,應(yīng)該被量子力學(xué)替代。此外,比表面積大大增加,潛在地影響材料的某些特性(圖1)。圖1:顆粒聚合物與大晶粒材料的表面積與體積比增加許多納米材料相對(duì)于大晶粒材料具有不同的性質(zhì)。例如,金的光學(xué)性質(zhì)在大晶粒和納米尺度上是非常不同的。我們都知道黃金是黃色的,但是對(duì)于金納米顆粒來說卻并非如此。它們的顏色可以在紫色和紅色之間變化,這取決于它們的尺寸(圖2)。此外,與用于防曬霜的大晶粒ZnO相比,ZnO納米顆粒并不能散射可見光。圖2:隨著金顆粒尺寸減小光學(xué)特性的變化此外,不僅光學(xué)性能會(huì)改變,電性能也可能在納米尺度會(huì)改變。大晶粒作為導(dǎo)體的一些材料可以成為半導(dǎo)體,反之亦然。因此,顯而易見的是,顆粒的尺寸在許多不同應(yīng)用中可能是影響其性能的重要因素。例如,它可以影響YL應(yīng)用中的輸送效率,催化過程中的反應(yīng)性和溶解速率,用作涂料和油墨時(shí)的外觀以及產(chǎn)品的孔隙率。這種尺寸的顆粒由于其比表面積的增加以及具有吸收和攜帶幾種化合物的能力,從而在藥物遞送劑等醫(yī)學(xué)應(yīng)用中具有前景。除了尺寸外,顆粒的形狀也會(huì)影響材料的性質(zhì)以及材料的應(yīng)用。與尺寸類似,形狀可以改變食品的口感和體驗(yàn),藥物和其它應(yīng)用中藥劑的流動(dòng)性和反應(yīng)性。此外,像凸度和圓形度這樣的顆粒特征也十分重要,它們同樣可以影響顆粒的性質(zhì)。顯然,這些顆粒的可調(diào)節(jié)性是令人著迷的,由于它們在應(yīng)用中的巨大潛力和巨大變化,已經(jīng)吸引了世界各地許多研究團(tuán)隊(duì)的目光。原理上,材料的性質(zhì)可以通過改變尺寸和形狀進(jìn)行調(diào)整。為實(shí)現(xiàn)這一點(diǎn),已經(jīng)采用了許多表征技術(shù)來獲得顆粒的形狀和尺寸的分布。獲取顆粒圖像的同時(shí)統(tǒng)計(jì)出測量結(jié)果是Z理想的,但充滿了挑戰(zhàn)。自動(dòng)化分析程序如PaticleMetric(圖3)則可以幫助您實(shí)現(xiàn)這個(gè)目標(biāo)。它包含高分辨率的電子成像,以及對(duì)圖像中的粒子進(jìn)行自動(dòng)分析和分類。這不僅取決于它們的尺寸和形狀,還取決于許多其他特征,例如顆粒的凸度,圓形度,表面積和體積。圖3:ParticleMetric操作界面。上圖,獲取到的SEM圖像和識(shí)別出來的顆粒。下圖,展示出了分析結(jié)果;尺寸和形狀分布以及其它重要特征的分布結(jié)果要獲得高質(zhì)量的微觀粒子照片,樣品制備是至關(guān)重要的。如果您想了解如何制備您的顆粒樣品用以掃描電子顯微鏡分析,您可以進(jìn)一步與我們聯(lián)系。[詳細(xì)]
2018-08-22 10:00
產(chǎn)品樣冊
為什么掃描電鏡(SEM)的束斑直徑那么重要
近年來,隨著科技的發(fā)展和材料尺寸的不斷縮小,掃描電鏡(SEM)已經(jīng)成為一種非常有價(jià)值的表征方法。SEM作為一種通用的工具,方便用戶可以對(duì)各種各樣的材料進(jìn)行多種不同類型的分析。為獲得更好的結(jié)果,用戶應(yīng)該仔細(xì)設(shè)定SEM參數(shù)。其中一個(gè)設(shè)置是束斑直徑,即照射在樣品上的電子束直徑。在這篇博客中,闡述了如何在SEM中調(diào)整束斑直徑,以及如何在高分辨率成像和大束流之間實(shí)現(xiàn)平衡,以獲得**結(jié)果。如何在SEM下調(diào)整束斑直徑描述SEM中電子束性質(zhì)的四個(gè)主要參數(shù)如圖1所示:使電子在電鏡腔室中運(yùn)動(dòng)的加速電壓電子束的會(huì)聚角轟擊樣品的電子束流大小到達(dá)樣品表面的Z終束斑直徑。圖1:SEM中電子束的四個(gè)主要參數(shù):加速電壓、會(huì)聚角、電子束流和束斑直徑[詳細(xì)]
2018-08-22 10:00
產(chǎn)品樣冊
使用 ICP-MS 表征水樣中的納米顆粒
使用 ICP-MS 表征水樣中的納米顆粒[詳細(xì)]
2020-05-08 10:15
應(yīng)用文章
臺(tái)式掃描電鏡:為什么選擇CeB6燈絲
如果你正在調(diào)研掃描電鏡(SEM),你可能已經(jīng)知道,燈絲是電鏡中Z重要的部分之一。在這篇博客,我們將仔細(xì)討論鎢燈絲和CeB6燈絲。如何選擇掃描電鏡燈絲?對(duì)于不同的燈絲,就性能而言,場發(fā)射(FEG)掃描電鏡圖像的分辨率是Z高的。但是就電鏡的日常使用而言,Z重要的一點(diǎn)還是以低成本獲得高質(zhì)量的圖像,這樣一來場發(fā)射電子槍就不再那么吸引人了,因?yàn)樗蟮恼婵斩群芨?,需要一個(gè)高價(jià)的真空設(shè)計(jì)。電子槍的成本效率是相對(duì)于它的使用壽命和日常維護(hù)而言的。這就是為什么經(jīng)??吹芥u燈絲和CeB6燈絲出現(xiàn)在(臺(tái)式)SEM供應(yīng)商的配置清單中。圖一:鎢燈絲與CeB6燈絲燈絲是一種耗材通常情況下,我們都希望燈絲使用壽命能夠貫穿SEM的整個(gè)生命周期,可能需要10年甚至10年以上。不幸的是,燈絲是消耗品,不可避免地會(huì)“磨損”。燈絲的壽命取決于兩個(gè)主要因素:1)運(yùn)行的真空度,2)燈絲溫度。低真空度和溫度過高都會(huì)導(dǎo)致燈絲壽命減短。而高真空度,低溫可以延長燈絲的壽命,但也會(huì)降低圖像質(zhì)量。因此,在Zyou條件下運(yùn)行燈絲很重要。SEM真空系統(tǒng)不同的燈絲,SEM真空系統(tǒng)的設(shè)計(jì)有所不同。在鎢燈絲系統(tǒng)中,燈絲的真空度受到運(yùn)行狀態(tài)影響。例如,每次加載或卸載樣品時(shí),都會(huì)有空氣進(jìn)入真空柱,影響燈絲的使用壽命。觀察不導(dǎo)電樣品時(shí),通常需要低真空,也會(huì)縮短燈絲壽命。對(duì)于CeB6系統(tǒng),比如飛納電鏡,內(nèi)置渦輪分子泵,采用分級(jí)真空系統(tǒng),通過壓差光闌使得真空柱的各部分具有不同的真空度,保證燈絲時(shí)刻處于高真空的狀態(tài)下。這意味著,在低真空環(huán)境下加載和觀測樣品不會(huì)影響燈絲壽命。圖2:真空柱的截面圖與電子槍結(jié)構(gòu)示意圖SEM燈絲壽命的終結(jié)如何判斷燈絲壽命的盡頭?對(duì)于鎢燈絲,你根本看不到它的到來。這意味著燈絲可能在成像或分析過程斷裂,這會(huì)帶來很多不便。來自燈絲的碎片也可能污染真空柱的其他部件,這不僅需要換燈絲,還要清理、甚至更換其他部件,如韋氏帽。當(dāng)然,可以在使用壽命結(jié)束前更換燈絲,但它沒有得到充分利用,因此需要頻繁地更換。如果您有大量的SEM用戶,您不可能總有機(jī)會(huì)及時(shí)更換燈絲除非整個(gè)團(tuán)隊(duì)都接受了更換燈絲的培訓(xùn)。而且更換燈絲后常常會(huì)引起燈絲不居中。CeB6燈絲在壽命的盡頭將會(huì)有一個(gè)緩慢的性能退化過程。這意味著您將看到它的到來,CeB6燈絲不會(huì)突然中斷,因此可以有計(jì)劃地安排更換。我們是可以看到CeB6燈絲老化的跡象的,如為了獲得與平時(shí)同樣質(zhì)量的圖片時(shí),用戶需要將對(duì)比度和亮度調(diào)得更大,或者使用更大的束斑。燈絲:使用壽命鎢燈絲的平均壽命取決于它的使用,大約是150小時(shí)。有一些技巧可以延長燈絲的使用壽命。一種是當(dāng)測完樣品后,不要急著卸載樣品,可以先等5分鐘。這使燈絲冷卻一點(diǎn),減少氧化。當(dāng)然,這個(gè)小技巧會(huì)降低測樣效率,因?yàn)樾枰嗟?分鐘。另一種選擇是使用低加速電壓、低束流成像,這可以增加燈絲壽命,但往往會(huì)降低降低圖片質(zhì)量,特別是低加速電壓下成像。CeB6燈絲的平均壽命大約為2000小時(shí)。在它的使用壽命中,即使加載和卸載許多樣品,或者使用低真空成像,性能依舊保持良好。燈絲:維護(hù)一般用戶可以更換鎢燈絲,這是一個(gè)必要的先決條件,因?yàn)楦鼡Q燈絲的頻率很高,有時(shí)候一周一次。摘除、安裝和校準(zhǔn)燈絲是很容易的,它只是需要時(shí)間。更換燈絲所需的時(shí)間取決于舊燈絲的狀態(tài)。如果舊燈絲沒有斷裂,那么您將可能在20分鐘內(nèi)啟動(dòng)系統(tǒng)并再次運(yùn)行。如果真的斷裂了,就需要更多的時(shí)間來清理韋氏帽等其他部件,以保證同樣的性能。CeB6燈絲也可以被用戶更換。但是更換的頻率比較低,一般2-3年才更換一次。因此,這不像鎢燈絲是一個(gè)“常規(guī)”的工作。更好的方法是計(jì)劃更換,并由售后工程師完成。這意味著用戶不用進(jìn)行庫存。就像在你的車更換機(jī)油:你可以自己做,但你更喜歡一輛在車庫里進(jìn)行定期檢查時(shí)才需要更換機(jī)油的汽車。掃描電鏡燈絲:推薦通過考慮以上所有的優(yōu)點(diǎn)和缺點(diǎn),我們可以得出結(jié)論,對(duì)于鎢燈絲和CeB6燈絲來說,拍出每張圖片的成本可能是差不多的。然而,考慮到無憂的、方便的使用和操作,以及每一張圖片的質(zhì)量,顯然,CeB6燈絲更好。[詳細(xì)]
2018-08-22 10:00
產(chǎn)品樣冊
保證掃描電鏡樣品清潔有多重要?
掃描電鏡(SEM)主要用于微觀形貌分析,其測試結(jié)果的好壞,一方面是由儀器的性能、測試條件和操作人員水平?jīng)Q定,另一方面還與樣品制備過程有關(guān)。
SEM 樣品需要保持清潔、無污染物,盡量把污染程度降到。因此要求我們在拿取與制備樣品時(shí)需要佩戴干凈無粉手套,使用的剪刀、鑷子等制樣工具亦要保持干凈。 [詳細(xì)]
2020-06-30 11:26
應(yīng)用文章
制冷機(jī)組的選材是Z重要的一環(huán)
制冷機(jī)組的選材是Z重要的一環(huán)[詳細(xì)]
2024-09-14 11:12
課件
Eclipse-MALLS是表征病毒粒子
Eclipse-MALLS是表征病毒粒子[詳細(xì)]
2024-09-17 05:06
安裝說明
為什么高科技紡織工程需要掃描電鏡分析
在新石器時(shí)代,人類就開始利用樹皮等韌皮纖維紡紗織布。自古以來,紡織工業(yè)基本上都是以天然纖維作為原材料的,并對(duì)天然纖維過度依賴。在過去的幾十年里,合成纖維逐漸引起了人們的興趣,其價(jià)格便宜,容易生產(chǎn),而且性能更好。與此同時(shí),為了提高產(chǎn)品的質(zhì)量,人們研究了很多化學(xué)處理方法來提高天然纖維和合成纖維的光滑度與韌性。閱讀這篇博客,可以了解掃描電鏡如何在這一發(fā)展過程中發(fā)揮基礎(chǔ)性作用。高性能運(yùn)動(dòng)服的秘密不僅在于設(shè)計(jì),而且在于產(chǎn)品背后的創(chuàng)新技術(shù)。特殊的編織技術(shù),結(jié)合極為先進(jìn)的紡織材料,是開發(fā)新穎高性能運(yùn)動(dòng)服,軍裝和其他許多高級(jí)工程織物中兩個(gè)Z重要的方面。合成纖維的發(fā)展,使得紡織品的彈性大幅度提高,并降低了與空氣或水的摩擦系數(shù)。如何用掃描電鏡觀察各類化學(xué)物質(zhì)在纖維中的作用為了提供這些技術(shù)參數(shù),我們需要對(duì)纖維的化學(xué)成分,尺寸和表面形貌進(jìn)行研究。纖維這些特征的尺寸對(duì)于光學(xué)顯微鏡來說太小,難以觀察,所以掃描電鏡顯成為紡織材料開發(fā)人員的普遍選擇。掃描電鏡不僅可以提供編織圖案的圖像,而且還可以檢測纖維的實(shí)際表面以及所有的表面缺陷。圖1&2:在掃描電鏡中,不同放大倍率和不同角度下的一種羊毛樣品紡織材料通常是非導(dǎo)電的,因此,擁有低真空的掃描電鏡(SEM)對(duì)于得到好的圖片是非常重要的。通過特定的化學(xué)處理可以去除表面雜質(zhì)或粗糙部分,從而平滑表面。掃描電鏡(SEM)可以用來關(guān)聯(lián)曝光時(shí)間和化學(xué)品的濃度,以優(yōu)化生產(chǎn)率,和減少不必要的成本開銷??招睦w維要求更精密的生產(chǎn)流程,但Z終產(chǎn)品的附加值引起了許多大廠商的注意。除了在原材料上的節(jié)省,纖維還可以應(yīng)用于更加多樣化的領(lǐng)域,并提高彈性和降低重量。熱交換特性也可以根據(jù)應(yīng)用程序設(shè)計(jì)。研究這些纖維的空腔形狀,對(duì)于驗(yàn)證生產(chǎn)過程的準(zhǔn)確性,以及觀察和測量它們對(duì)熱和張力響應(yīng)關(guān)系是至關(guān)重要的。為什么SEM技術(shù)非常適合新材料的研究與開發(fā)飛納電鏡擁有各種各樣的配件以及快速成像的特點(diǎn),成為新材料研究和開發(fā)的一種強(qiáng)有力的工具,其對(duì)于Z終產(chǎn)品的檢測可以成為質(zhì)量檢測的一部分。利用掃描電鏡,可以觀察和記錄纖維在拉伸或者溫度變化過程中的變化情況。將纖維用樹脂包埋,做成金相,還可以觀察到纖維的截面形貌。[詳細(xì)]
2018-08-22 10:00
產(chǎn)品樣冊
什么是高性能數(shù)字壓力計(jì)的最重要指標(biāo)
什么是高性能數(shù)字壓力計(jì)的最重要指標(biāo)[詳細(xì)]
2024-09-11 18:00
產(chǎn)品樣冊
掃描電鏡(SEM)是如何檢測樣品信息的
掃描電鏡(SEM)是一種用途廣泛的科學(xué)儀器,它可以根據(jù)用戶的需求提供樣品不同類型的信息。在這里我們將闡述在掃描電鏡(SEM)中產(chǎn)生的不同類型的電子,它們是如何被檢測出來的,以及它們可以提供的信息等。電子顯微鏡是通過電子束來成像的。在圖1中,您可以看到電子與物質(zhì)相互作用所產(chǎn)生的各種信號(hào),所有這些不同類型的信號(hào)攜帶著關(guān)于樣品的不同的有用信息,由電子顯微鏡的操作人員根據(jù)需要選擇接收的信號(hào)。例如在透射電鏡(TEM)中,正如它的名字所示,檢測到的信號(hào)是透過樣品的電子,會(huì)提供樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)的信息。在掃描電鏡(SEM)下,通常需要檢測兩種類型的信號(hào):背散射電子(BSE)和二次電子(SE)。圖1:電子與物質(zhì)相互作用區(qū)域,產(chǎn)生不同類型的信號(hào)[詳細(xì)]
2018-08-22 10:00
產(chǎn)品樣冊
冷凍掃描電鏡技術(shù)(CryoSEM技術(shù))
冷凍掃描電鏡技術(shù)(CryoSEM技術(shù))[詳細(xì)]
2024-09-28 01:06
標(biāo)準(zhǔn)
什么是 濁度為什么要測濁度
什么是 濁度為什么要測濁度[詳細(xì)]
2016-07-25 00:00
產(chǎn)品樣冊
放大倍數(shù)是掃描電鏡分析樣品的關(guān)鍵嗎?
放大倍數(shù)是一個(gè)非常簡單的概念,但是由于其自身的定義有時(shí)會(huì)產(chǎn)生混亂。這個(gè)博客的目的是澄清這個(gè)話題,并探討其他可以更好地描述一個(gè)對(duì)象有多大的參數(shù)。**個(gè)放大鏡可以追溯到希臘時(shí)期,阿里斯托芬首先使用其描述了孩子們試圖看到小細(xì)節(jié)的休閑活動(dòng)。這是**次“放大”這個(gè)詞語出現(xiàn)在我們的語言中。隨著時(shí)代的發(fā)展進(jìn)步,人們在科學(xué)探索中對(duì)微觀和納米世界的興趣呈指數(shù)級(jí)增長,從而需要量化放大倍數(shù)。現(xiàn)代科學(xué)對(duì)于放大倍率的定義是兩次測量之間的比率,這意味著需要兩個(gè)對(duì)象來正確評(píng)估該值。**個(gè)對(duì)象顯然是樣品,第二個(gè)是它的圖片。事實(shí)上,雖然樣品尺寸不變,但圖片可以以任意大小打印。所以請(qǐng)?jiān)试S我做一些計(jì)算:這意味著如果我打印蘋果照片時(shí)**次打印時(shí)選擇標(biāo)準(zhǔn)打印機(jī)的紙張,再次打印時(shí)選擇用于覆蓋建筑物的海報(bào),則兩次放大倍數(shù)值將發(fā)生顯著變化。[詳細(xì)]
2018-08-22 10:00
產(chǎn)品樣冊
糖酸比是決定龍眼品種果實(shí)風(fēng)味的重要指標(biāo)
糖酸比是決定龍眼品種果實(shí)風(fēng)味的重要指標(biāo)[詳細(xì)]
2024-09-20 13:37
報(bào)價(jià)單
TG-DTG技術(shù)表征橡膠的硫化
TG-DTG技術(shù)表征橡膠的硫化[詳細(xì)]
2016-03-30 00:00
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太赫茲技術(shù)的分子光譜表征
太赫茲技術(shù)的分子光譜表征[詳細(xì)]
2012-04-16 00:00
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納米顆粒跟蹤分析技術(shù)在生物醫(yī)學(xué)中的應(yīng)用
納米顆粒跟蹤分析技術(shù)在生物醫(yī)學(xué)中的應(yīng)用[詳細(xì)]
2015-08-28 00:00
操作手冊
流動(dòng)表征:選擇合適的測量技術(shù)
流動(dòng)表征:選擇合適的測量技術(shù)[詳細(xì)]
2024-09-27 23:46
安裝說明
微加工研究人員如何使掃描電鏡來表征納米結(jié)構(gòu)
微加工能制造出微米尺寸的結(jié)構(gòu)特征,是制造新一代半導(dǎo)體、處理器以及芯片實(shí)驗(yàn)室微流系統(tǒng)的關(guān)鍵工具,其中芯片實(shí)驗(yàn)室的微流系統(tǒng)建立在化學(xué)分析系統(tǒng)上,小到能夠放在手心上。目前為止,微加工依賴于掩模技術(shù),例如光刻,使得可生產(chǎn)結(jié)構(gòu)的多樣性受到了限制。然而,Zxin研究的微米尺寸的3D打印系統(tǒng)可以組裝比以前尺寸更小的3D復(fù)雜形貌。未來發(fā)展趨勢TommasoBaldacchini是Newport公司技術(shù)和應(yīng)用ZX(TAC)的一名微加工研究人員。在他研究激光輔助納米微加工的工作中,飛納臺(tái)式掃描高分辨率專業(yè)版PhenomPro型號(hào)掃描電鏡是一個(gè)重要的工具。同大學(xué)里常見的實(shí)驗(yàn)室相比,Newport公司的TAC實(shí)驗(yàn)室更小,但他們和學(xué)術(shù)界用戶保持著密切的合作關(guān)系。TAC為學(xué)術(shù)界很多研究領(lǐng)域進(jìn)行實(shí)驗(yàn)、并加工微型裝置與器件。目前微加工發(fā)展?fàn)顩r目前,大多數(shù)微加工以傳統(tǒng)機(jī)械加工和光刻為主,這就是平板印刷技術(shù)。TommasoBaldacchini透露,光刻技術(shù)的確能生產(chǎn)十分精密的高通量結(jié)構(gòu),但是這種方法于二維空間。Baldacchini說:這就意味著加工錯(cuò)失了一整個(gè)維度。其他的局限性還包括:加工這些結(jié)構(gòu)的儀器費(fèi)用高常常需要干凈的工作空間基板和材料種類于硅和半導(dǎo)體Baldacchini提到:十分有必要去打破這些限制性的障礙,來發(fā)明一些新的微納加工裝置。打破納米微加工的障礙在加工納米微結(jié)構(gòu)的過程中存在著許多挑戰(zhàn)。這些挑戰(zhàn)主要來自制造微結(jié)構(gòu)的技術(shù)和結(jié)構(gòu)自身特性(如大小,形狀和表面積)。激光輔助納米微加工技術(shù)(JournalofLaserApplications24,042007(2012))為建立納米和微米尺寸結(jié)構(gòu)提供了一整套獨(dú)特方案。激光照射到樣品表面會(huì)產(chǎn)生很多影響,包括局部發(fā)熱、熔化、燒蝕、分解和光化學(xué)反應(yīng),進(jìn)而可以獲得一些例如石墨烯、碳納米管、甚至聚合物和陶瓷材料形成的多種復(fù)雜納米結(jié)構(gòu)。表征當(dāng)表征微結(jié)構(gòu)時(shí),擁有一個(gè)能在納米精度下準(zhǔn)確測量加工微結(jié)構(gòu)尺寸的工具是十分關(guān)鍵的。有必要觀察加工結(jié)構(gòu)的拓?fù)湫蚊埠途鶆蛐?,進(jìn)而確?!皹?gòu)建”質(zhì)量達(dá)到設(shè)計(jì)要求。能夠表征新材料表面成分甚至是內(nèi)部成分同樣重要。飛納臺(tái)式掃描電鏡在放大2150倍(左)和8300倍(右)數(shù)下觀察燒蝕樣品掃描電鏡(SEM)是這類工作的理想工具,能夠聚焦到納米級(jí)、觀察小尺寸和納米樣品特征。Baldacchini說:一臺(tái)掃描電鏡是表征樣品寶貴的工具。當(dāng)樣品燒蝕時(shí),我們能觀察其表面的變化,或者我們可以觀察含添加劑樣品的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)。技術(shù)創(chuàng)新TAC已經(jīng)研發(fā)出一種高分辨,納米3D打印技術(shù),稱作雙光子聚合。使用雙光子聚合能夠制造精細(xì)的三維聚合物結(jié)構(gòu),這一幾十微米大的結(jié)構(gòu)往往具有納米尺度特征。掃描電鏡SEM在表征結(jié)構(gòu)特征方面經(jīng)常使用,可作為檢驗(yàn)已生產(chǎn)納米結(jié)構(gòu)的一種方法。除此之外,Baldacchini的研究還應(yīng)用了非線性光學(xué)顯微鏡,例如用相干反斯托克斯-拉曼散射顯微鏡研究雙光子聚合生成微米結(jié)構(gòu)的化學(xué)和機(jī)械特征。他們在TAC開發(fā)了一種激光輔助微加工工具,稱作LaserFAB。這是一個(gè)可以把客戶自有的激光連接到機(jī)器上,并執(zhí)行不同類型激光微加工的整套工具。該系統(tǒng)提供的軟件可以使用戶導(dǎo)入一個(gè)二維圖形,并通過移動(dòng)帶有固定激光器的臺(tái)子將圖形重塑。系統(tǒng)也允許用戶創(chuàng)建他們想要生產(chǎn)的任何三維結(jié)構(gòu)。利用SEM表征因此,通過Newport公司的Baldacchini例子,表明一臺(tái)掃描電鏡是表征產(chǎn)品和驗(yàn)視納米微結(jié)構(gòu)的重要工具。如果你想了解更多關(guān)于TAC利用掃描電鏡SEM驗(yàn)視納米微結(jié)構(gòu),請(qǐng)聯(lián)系我們info@phenom-china.com免費(fèi)獲取該案例研究。[詳細(xì)]
2018-08-22 10:00
產(chǎn)品樣冊
超臨界CO2流體技術(shù)與納米顆粒制備
超臨界CO2流體技術(shù)與納米顆粒制備[詳細(xì)]
2003-07-07 00:00
其它
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