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• GB/T 2424.15-92代替GB 2424.15-81電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī) 溫度/低氣壓綜合試驗導則

  GB/T2424.15-92代替GB2424.15-81電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)溫度/低氣壓綜合試驗導則本標準等效采用國際電工委員會IEC68-3-2（1976）《基本環(huán)境試驗規(guī)程第三部分背景資料第二篇溫度/低氣壓綜合試驗》[詳細]

  2018-10-25 10:00

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• GB/T 2424.15-92代替GB 2424.15-81電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī) 溫度/低氣壓綜合

  GB/T2424.15-92代替GB2424.15-81電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)溫度/低氣壓綜合試驗導則本標準等效采用國際電工委員會IEC68-3-2（1976）《基本環(huán)境試驗規(guī)程第三部分背景資料第二篇溫度/低氣壓綜合試驗》[詳細]

  2018-09-29 10:01

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• GB/T 2424.13-81電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)溫度變化試驗導則

  GB/T2424.13-81電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)溫度變化試驗導則本導則為有關設計和試驗人員在應用GB2423.22-81時提供指導。溫度變化試驗目的，在于確定一次或連續(xù)多次溫度變化對試驗樣品的影響。而不是適用于僅僅是考核高溫或低溫的影響作用的試驗，即不用作評定在兩種極端溫度的穩(wěn)定狀態(tài)下工作時，產品的電氣機械性能或材料的性能變化。[詳細]

  2018-10-25 10:00

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• GB/T 2424.13-81電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程溫度變化試驗導則

  GB/T2424.13-81電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程溫度變化試驗導則本導則為有關設計和試驗人員在應用GB2423.22-81時提供指導。溫度變化試驗目的，在于確定一次或連續(xù)多次溫度變化對試驗樣品的影響。而不是適用于僅僅是考核高溫或低溫的影響作用的試驗，即不用作評定在兩種極端溫度的穩(wěn)定狀態(tài)下工作時，產品的電氣機械性能或材料的性能變化。免費下載地址:http://www.bjzkhs.com北京中科環(huán)試儀器有限公司[詳細]

  2018-09-29 10:01

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• GB_T 2424.15-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 溫度_低氣壓綜合試驗導則

  GB_T 2424.15-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 溫度_低氣壓綜合試驗導則[詳細]

  2014-07-22 00:00

  期刊論文

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• GB 2424.2-93代替GB 2424.2-81電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 濕熱試驗導則

  GB2424.2-93代替GB2424.2-81電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程濕熱試驗導則本標準等效采用國際標準IEC68-2-28【基本環(huán)境試驗規(guī)程第2部分：試驗-濕熱試驗導則】（1990年第三版）本標準介紹了濕熱環(huán)境、產生濕度的方法、濕度的物理現象、物理過程的加速、恒定濕熱試驗與交變濕熱試驗的比較和試驗環(huán)境對試驗樣品的影響等。[詳細]

  2018-09-19 10:00

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• GB 2424.1-89代替GB 2424.1-81電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 高溫低溫試驗導則

  GB2424.1-89代替GB2424.1-81電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程高溫低溫試驗導則本標準等效采用國際標準IEC68-3-1【基本環(huán)境試驗規(guī)程第三部分：背景材料-寒冷和干熱試驗】（1974年版）及其**次補充文件IEC68-3-1A（1978）免費下載地址:http://www.bjzkhs.com北京中科環(huán)試儀器有限公司[詳細]

  2018-09-29 10:01

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• GB/T 2424.22-1986 電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 溫度（低溫、高溫）和振動 （正弦） 綜合試驗導則

  GB/T2424.22-1986電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程溫度（低溫、高溫）和振動（正弦）綜合試驗導則等同于國際標準IEC68-2-53（1984），該標準規(guī)定的是組合試驗的試驗箱標準。試驗箱采用武漢尚測試驗設備有限公司的溫濕振三綜合試驗箱進行試驗。[詳細]

  2018-10-08 10:00

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• GB/T 2424.10-93代替GB 2424.10-81電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 大氣腐蝕加速試驗的通用導則

  GB/T2424.10-93代替GB2424.10-81電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程大氣腐蝕加速試驗的通用導則本標準等效采用國際標準IEC-355【大氣腐蝕加速試驗的問題評價】（1971年**版）本標準論述大氣腐蝕加速試驗條件、方法的適用可能性及各種加速試驗的應用。本標準供編制大氣加速腐蝕試驗方法標準、規(guī)程及進行人工加速腐蝕試驗時參考。[詳細]

  2018-09-19 10:00

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• GB/T 2424.10-93代替GB 2424.10-81電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程大氣腐蝕加速試驗的通用導則

  GB/T2424.10-93代替GB2424.10-81電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程大氣腐蝕加速試驗的通用導則本標準等效采用國際標準IEC-355【大氣腐蝕加速試驗的問題評價】（1971年**版）本標準論述大氣腐蝕加速試驗條件、方法的適用可能性及各種加速試驗的應用。本標準供編制大氣加速腐蝕試驗方法標準、規(guī)程及進行人工加速腐蝕試驗時參考。[詳細]

  2018-09-29 10:01

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• GB/T 2424.2-2005 電工電子產品環(huán)境試驗 濕熱試驗導則

  GBT2424.2-2005電工電子產品環(huán)境試驗濕熱試驗導則高低溫濕熱試驗箱適用于電子電工、船舶鐵路、汽車摩托車、化工冶金、質檢計量、科研單位、高等院校、企事業(yè)單位、各種電子元氣件等相關產品的零部件及材料在高溫、低溫、恒溫及濕熱環(huán)境下貯存和使用時的適應性試驗，是產品模擬環(huán)境試驗必備設備。一、技術參數：1.溫度范圍：0℃、-20℃、-40℃、-60℃、-70℃～150℃2.濕度范圍：30%～98%R.H(溫度在25℃～80℃)3.溫度均勻度：≤±2℃(空載時)4.溫度波動度：≤±0.5℃(空載時)5.濕度波動度：+2%、-3%R.H6.升溫速度：1～3℃/min(升溫速率可按客戶要求特殊定制)7.降溫速度：0.7～1.2℃/min(降溫速率可按客戶要求特殊定制)8.溫度偏差：≤±2℃9.時間設定范圍：1～9999h10.樣品托架：2層(標配)[詳細]

  2018-09-03 10:00

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• GB/T 2424.2-2005電工電子產品環(huán)境試驗濕熱試驗導則

  GB/T2424.2-2005電工電子產品環(huán)境試驗濕熱試驗導則等同于IEC60068-3-4:2001GB/T2424.2-2005濕熱試驗主要用于確定電工電子產品對高濕度環(huán)境的適應能力（不論是否出現凝露），特別是產品的電氣性能和機械性能的變化，但可用于檢查試驗樣品耐受某些腐蝕的能力。試驗濕熱環(huán)境可使用武漢尚測試驗設備有限公司生產的高低溫濕熱試驗箱模擬試驗。SC/GDW100高低溫濕熱試驗箱:內膽尺寸：450x450x500mm外箱尺寸：1100x750x1600mm溫度范圍：B：-20℃~150℃；C：-40℃~150℃；D：-60℃~150℃（三個型號可選）總功率：B:3.0KW;C:4.0K[詳細]

  2018-10-08 10:00

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• GB/T 2424.14-1995代替GB 2424.14-81電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法太陽輻射試驗導則

  GB/T2424.14-1995代替GB2424.14-81電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法太陽輻射試驗導則本標準等同采用國際電工委員會標準IEC68-2-9《基本環(huán)境試驗規(guī)程第2部分：試驗方法太陽輻射試驗導則》1975版。本標準介紹地面太陽輻射對設備和元件影響的模擬方法。擬環(huán)境的主要特性是地面上所觀測的太陽光譜能量分布和與控制溫度條件綜合吸收能量的強度。[詳細]

  2018-10-25 10:00

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• GB 2424.1-89電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 高溫低溫試驗導則

  GB2424.1-89代替GB2424.1-81電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程高溫低溫試驗導則本標準等效采用國際標準IEC68-3-1【基本環(huán)境試驗規(guī)程第三部分：背景材料-寒冷和干熱試驗】（1974年版）及其**次補充文件IEC68-3-1A（1978）.[詳細]

  2018-09-19 10:00

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• GB_T 2424.13-1981 電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 溫度變化試驗導則

  GB_T 2424.13-1981 電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 溫度變化試驗導則[詳細]

  2014-07-16 00:00

  其它

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• GB/T 2424.12-82電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 接觸點和連接件的硫化氫試驗導則

  GB/T2424.12-82電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程接觸點和連接件的硫化氫試驗導則接觸點和連接件在預期壽命期間的良好性能取決于許多參數，其中某些參數是其設計決定（如型式、材料、力等）；另一些參數則由對其有影響的環(huán)境決定?？紤]環(huán)境的影響，特別要注意大氣中所含（通常含量很少）的污染物。在城市和工業(yè)大氣中二氧化硫是Z主要的污染物之一。[詳細]

  2018-09-19 10:00

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• GB/T 2424.11-82電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 接觸點和連接件的二氧化硫試驗導則

  GB/T2424.11-82電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程接觸點和連接件的二氧化硫試驗導則接觸點和連接件在預期壽命期間的良好性能取決于許多參數，其中某些參數是其設計決定（如型式、材料、力等）；另一些參數則由對其有影響的環(huán)境決定?？紤]環(huán)境的影響，特別要注意大氣中所含（通常含量很少）的污染物。在城市和工業(yè)大氣中二氧化硫是Z主要的污染霧之一。[詳細]

  2018-09-19 10:00

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• GB/T2423.5-1995代替GB/T2423.5-81 GB/T2424.3-81電工電子產品環(huán)境試驗第2部分；試驗方法試驗Ea和導則：沖擊

  GB/T2423.5-1995代替GB/T2423.5-81GB/T2424.3-81電工電子產品環(huán)境試驗第2部分；試驗方法試驗Ea和導則：沖擊本標準等同采用國際電工委員會標準IEC68-2-27“環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Ea和導則：沖擊“1987年第3版免費下載地址:http://www.bjzkhs.com北京中科環(huán)試儀器有限公司[詳細]

  2018-09-29 10:01

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• GB/T 電工電子產品環(huán)境試驗第2部分 試驗Ea和導則：沖擊

  GB/T2423.5-1995電工電子產品環(huán)境試驗第2部分試驗Ea和導則：沖擊[詳細]

  2018-09-14 10:00

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• GB/T 2424.13-2002溫度變化試驗導則

  GB/T2424.13-2002電工電子產品環(huán)境試驗第2部分試驗方法溫度變化試驗導則是推薦給有關設計和試驗人員在應用溫度變化試驗規(guī)范時提供指導。溫度變化試驗的目的在于確定溫度變化或連續(xù)溫度變化對試驗樣品的影響。溫度變化試驗的作用取決于：1、溫度條件試驗的高溫和低溫溫度值；2、試驗樣品保持在這些溫度條件中的試驗時間；3、由高到低（或由低到高）溫度間的變化速率；4、條件試驗的循環(huán)次數；5、試驗樣品輸入或輸出的總熱量。在電子設備和元件中，通常出現溫度變化是逐漸的，設備內部的零件，在設備沒有工作時，其所受溫度的變化比那些設備外表面的零件慢些。溫度變化試驗導則包含多種溫度試驗箱（高低溫試驗、恒溫恒濕試驗箱、高低溫沖擊試驗箱等），根據不同試驗需要，可選擇對應的溫度試驗設備。[詳細]

  2018-10-08 10:00

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