本文由 武漢尚測(cè)試驗(yàn)設(shè)備有限公司 整理匯編

2018-10-08 10:00 1136閱讀次數(shù)

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• GB/T 2424.2-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 濕熱試驗(yàn)導(dǎo)則

  GBT2424.2-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)濕熱試驗(yàn)導(dǎo)則高低溫濕熱試驗(yàn)箱適用于電子電工、船舶鐵路、汽車摩托車、化工冶金、質(zhì)檢計(jì)量、科研單位、高等院校、企事業(yè)單位、各種電子元?dú)饧认嚓P(guān)產(chǎn)品的零部件及材料在高溫、低溫、恒溫及濕熱環(huán)境下貯存和使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)，是產(chǎn)品模擬環(huán)境試驗(yàn)必備設(shè)備。一、技術(shù)參數(shù)：1.溫度范圍：0℃、-20℃、-40℃、-60℃、-70℃～150℃2.濕度范圍：30%～98%R.H(溫度在25℃～80℃)3.溫度均勻度：≤±2℃(空載時(shí))4.溫度波動(dòng)度：≤±0.5℃(空載時(shí))5.濕度波動(dòng)度：+2%、-3%R.H6.升溫速度：1～3℃/min(升溫速率可按客戶要求特殊定制)7.降溫速度：0.7～1.2℃/min(降溫速率可按客戶要求特殊定制)8.溫度偏差：≤±2℃9.時(shí)間設(shè)定范圍：1～9999h10.樣品托架：2層(標(biāo)配)[詳細(xì)]

  2018-09-03 10:00

  產(chǎn)品樣冊(cè)

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• GB/T 2424.2-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)濕熱試驗(yàn)導(dǎo)則

  GB/T2424.2-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)濕熱試驗(yàn)導(dǎo)則等同于IEC60068-3-4:2001GB/T2424.2-2005濕熱試驗(yàn)主要用于確定電工電子產(chǎn)品對(duì)高濕度環(huán)境的適應(yīng)能力（不論是否出現(xiàn)凝露），特別是產(chǎn)品的電氣性能和機(jī)械性能的變化，但可用于檢查試驗(yàn)樣品耐受某些腐蝕的能力。試驗(yàn)濕熱環(huán)境可使用武漢尚測(cè)試驗(yàn)設(shè)備有限公司生產(chǎn)的高低溫濕熱試驗(yàn)箱模擬試驗(yàn)。SC/GDW100高低溫濕熱試驗(yàn)箱:內(nèi)膽尺寸：450x450x500mm外箱尺寸：1100x750x1600mm溫度范圍：B：-20℃~150℃；C：-40℃~150℃；D：-60℃~150℃（三個(gè)型號(hào)可選）總功率：B:3.0KW;C:4.0K[詳細(xì)]

  2018-10-08 10:00

  產(chǎn)品樣冊(cè)

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• GB_T 2424.2-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 濕熱試驗(yàn)導(dǎo)則

  GB_T 2424.2-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 濕熱試驗(yàn)導(dǎo)則[詳細(xì)]

  2014-07-04 00:00

  安裝說(shuō)明

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• 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 濕熱試驗(yàn)導(dǎo)則

  GB_T2424.2-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)濕熱試驗(yàn)導(dǎo)則[詳細(xì)]

  2018-10-05 10:00

  產(chǎn)品樣冊(cè)

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• GB 2424.2-93代替GB 2424.2-81電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 濕熱試驗(yàn)導(dǎo)則

  GB2424.2-93代替GB2424.2-81電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程濕熱試驗(yàn)導(dǎo)則本標(biāo)準(zhǔn)等效采用國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)IEC68-2-28【基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程第2部分：試驗(yàn)-濕熱試驗(yàn)導(dǎo)則】（1990年第三版）本標(biāo)準(zhǔn)介紹了濕熱環(huán)境、產(chǎn)生濕度的方法、濕度的物理現(xiàn)象、物理過(guò)程的加速、恒定濕熱試驗(yàn)與交變濕熱試驗(yàn)的比較和試驗(yàn)環(huán)境對(duì)試驗(yàn)樣品的影響等。[詳細(xì)]

  2018-09-19 10:00

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• 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則

  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則[詳細(xì)]

  2018-09-14 10:00

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• 環(huán)境試驗(yàn) 濕熱試驗(yàn)導(dǎo)則標(biāo)準(zhǔn)

  GB_T2424.2-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)濕熱試驗(yàn)導(dǎo)則.pdf[詳細(xì)]

  2018-10-05 10:00

  產(chǎn)品樣冊(cè)

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• GB/T 2424.13-81電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則

  GB/T2424.13-81電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則本導(dǎo)則為有關(guān)設(shè)計(jì)和試驗(yàn)人員在應(yīng)用GB2423.22-81時(shí)提供指導(dǎo)。溫度變化試驗(yàn)?zāi)康?，在于確定一次或連續(xù)多次溫度變化對(duì)試驗(yàn)樣品的影響。而不是適用于僅僅是考核高溫或低溫的影響作用的試驗(yàn)，即不用作評(píng)定在兩種極端溫度的穩(wěn)定狀態(tài)下工作時(shí)，產(chǎn)品的電氣機(jī)械性能或材料的性能變化。免費(fèi)下載地址:http://www.bjzkhs.com北京中科環(huán)試儀器有限公司[詳細(xì)]

  2018-09-29 10:01

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• GB/T 2424.13-81電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則

  GB/T2424.13-81電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則本導(dǎo)則為有關(guān)設(shè)計(jì)和試驗(yàn)人員在應(yīng)用GB2423.22-81時(shí)提供指導(dǎo)。溫度變化試驗(yàn)?zāi)康模谟诖_定一次或連續(xù)多次溫度變化對(duì)試驗(yàn)樣品的影響。而不是適用于僅僅是考核高溫或低溫的影響作用的試驗(yàn)，即不用作評(píng)定在兩種極端溫度的穩(wěn)定狀態(tài)下工作時(shí)，產(chǎn)品的電氣機(jī)械性能或材料的性能變化。[詳細(xì)]

  2018-10-25 10:00

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• GB 2424.1-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則

  GB2424.1-89代替GB2424.1-81電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則本標(biāo)準(zhǔn)等效采用國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)IEC68-3-1【基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程第三部分：背景材料-寒冷和干熱試驗(yàn)】（1974年版）及其**次補(bǔ)充文件IEC68-3-1A（1978）.[詳細(xì)]

  2018-09-19 10:00

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• GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分 試驗(yàn)Ea和導(dǎo)則：沖擊

  GB/T2423.5-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)Ea和導(dǎo)則：沖擊[詳細(xì)]

  2018-09-14 10:00

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• GB/T 2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)

  GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2_部分：試驗(yàn)方法_試驗(yàn)B：高溫GB/T2423.2是GB/T2423.2標(biāo)準(zhǔn)的第2部分，GB/T2423標(biāo)準(zhǔn)的組成部分見(jiàn)資料附錄NA.本部分等同采用IEC60068-2-2：2007(環(huán)境試驗(yàn)第2-2部分：試驗(yàn)試驗(yàn)B：干熱)。本部分與IEC60068-2-2：2007相比，主要做了下列編輯性修改：--本部分的名稱改為：（電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)B：高溫）；--"本標(biāo)準(zhǔn)"一詞改為："本部分"；--刪除了IEC60068-2-2：2007前言；--刪除了IEC60068-2-2：2007引言，將其內(nèi)容轉(zhuǎn)化為增加的資料性附錄NB的內(nèi)容；[詳細(xì)]

  2018-10-25 10:00

  產(chǎn)品樣冊(cè)

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• GB_T 2424.1-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則

  GB_T 2424.1-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則[詳細(xì)]

  2014-07-03 00:00

  報(bào)價(jià)單

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• 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 恒定濕熱試驗(yàn)

  電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cab:恒定濕熱試驗(yàn)GB/T2423的本部分適用于確定電工電子產(chǎn)品、元件或設(shè)備在高濕度的條件下使用、貯存和運(yùn)輸時(shí)的適應(yīng)性。本部分規(guī)定了試驗(yàn)的嚴(yán)酷等級(jí)，如高溫度、高濕度和持續(xù)時(shí)間等。本部分用于散熱和非散熱樣品。本部分適用于小型設(shè)備及元件，同時(shí)也適用于與試驗(yàn)箱外的測(cè)試裝置有復(fù)雜聯(lián)接的大型設(shè)備，這種聯(lián)接需要一定的裝配時(shí)間。在安裝期間，可以不用預(yù)熱或維持特點(diǎn)的試驗(yàn)條件。[詳細(xì)]

  2018-10-25 10:00

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• GB/T 2423.3-93電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 試驗(yàn)Ca：恒定濕熱試驗(yàn)方法

  GB/T2423.3-93電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)試驗(yàn)Ca：恒定濕熱試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了恒定濕熱試驗(yàn)的試驗(yàn)程序、嚴(yán)酷等級(jí)和對(duì)試驗(yàn)箱（室）的在本要求等。本標(biāo)準(zhǔn)適用于確定電工電子產(chǎn)品、件、材料等在恒定濕熱條件下使用和貯存的適應(yīng)性。標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：已作廢[詳細(xì)]

  2018-09-13 10:00

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• GB/T 2424.15-92代替GB 2424.15-81電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī) 溫度/低氣壓綜合試驗(yàn)導(dǎo)則

  GB/T2424.15-92代替GB2424.15-81電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)溫度/低氣壓綜合試驗(yàn)導(dǎo)則本標(biāo)準(zhǔn)等效采用國(guó)際電工委員會(huì)IEC68-3-2（1976）《基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程第三部分背景資料第二篇溫度/低氣壓綜合試驗(yàn)》[詳細(xì)]

  2018-10-25 10:00

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• GB 2424.1-89代替GB 2424.1-81電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則

  GB2424.1-89代替GB2424.1-81電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則本標(biāo)準(zhǔn)等效采用國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)IEC68-3-1【基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程第三部分：背景材料-寒冷和干熱試驗(yàn)】（1974年版）及其**次補(bǔ)充文件IEC68-3-1A（1978）免費(fèi)下載地址:http://www.bjzkhs.com北京中科環(huán)試儀器有限公司[詳細(xì)]

  2018-09-29 10:01

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• GBT2423.38-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 水試驗(yàn)方法和導(dǎo)則

  GBT2423.38-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)水試驗(yàn)方法和導(dǎo)則[詳細(xì)]

  2018-09-19 10:00

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• 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)方法：《試驗(yàn)Ea和導(dǎo)則：沖擊》

  （電工電子產(chǎn)品試驗(yàn)Ea和導(dǎo)則：沖擊)本試驗(yàn)的目的是用來(lái)揭露機(jī)械弱點(diǎn)和（或）性能下降情況，并且利用這些資料，結(jié)合有關(guān)規(guī)范，來(lái)解決樣品是否可以接收。在某些情總下，本沖擊試驗(yàn)也可以用來(lái)確定樣品的結(jié)構(gòu)完好性，或作為質(zhì)量控制的手段。進(jìn)行沖擊和碰撞試驗(yàn)時(shí)，是將樣品固定在試驗(yàn)臺(tái)上的。而進(jìn)行傾跌與翻倒、自由跌落重復(fù)自由跌落和彈跳試驗(yàn)時(shí)，樣品是不固定的。冷熱沖擊試驗(yàn)箱是我們公司的主打產(chǎn)品，按照國(guó)家技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)生產(chǎn)，研發(fā)的。所以需要的客戶可致電咨詢。[詳細(xì)]

  2018-11-09 10:00

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• GB/T 2424.12-82電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 接觸點(diǎn)和連接件的硫化氫試驗(yàn)導(dǎo)則

  GB/T2424.12-82電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程接觸點(diǎn)和連接件的硫化氫試驗(yàn)導(dǎo)則接觸點(diǎn)和連接件在預(yù)期壽命期間的良好性能取決于許多參數(shù)，其中某些參數(shù)是其設(shè)計(jì)決定（如型式、材料、力等）；另一些參數(shù)則由對(duì)其有影響的環(huán)境決定?？紤]環(huán)境的影響，特別要注意大氣中所含（通常含量很少）的污染物。在城市和工業(yè)大氣中二氧化硫是Z主要的污染物之一。[詳細(xì)]

  2018-09-19 10:00

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