一、采用經(jīng)典的Agilent MSD Chemstation Data Analysis軟件分析質(zhì)譜數(shù)據(jù)時(shí)，除了可以調(diào)用.d數(shù)據(jù)外，還可以導(dǎo)入AIA數(shù)據(jù)。


二、但采用較新版本的Agilent MassHunter Qualitative Analysis軟件分析時(shí)，卻只能導(dǎo)入.d數(shù)據(jù)，有什么辦法可以導(dǎo)入通用的AIA質(zhì)譜數(shù)據(jù)呢？

示波器和頻譜儀都是電子測試測量中必不可少的測試設(shè)備，分別用于觀察信號的時(shí)域波形和頻譜。時(shí)域波形是信號最原始的信息，而頻譜的引入主要是為了便于分析信號，比如諧波和雜散的測試，從時(shí)域上很難觀察到，但是從頻域就可以非常明了的區(qū)分開。

示波器除了具有采集信號的基本功能，還可以對信號進(jìn)行 FFT 變換得到頻譜，從而兼具頻譜分析功能。幾乎所有的中高端示波器均支持 FFT 頻譜分析。本文安泰測試將要介紹的是泰克示波器的頻譜分析功能——Spectrum View，是一款功能強(qiáng)大的頻譜分析工具，它的引入開啟了全新的時(shí)頻域信號分析。

結(jié)合了 TEK049 ASIC 創(chuàng)新平臺及 TEK061 低噪聲前端放大芯片的頻譜模式 -- Spectrum View 是獲得高動態(tài)、低噪底的強(qiáng)有力保證。

圖 1. TEK049 平臺和超低噪聲前端 TEK061

SpectrumView 特性一覽

從實(shí)現(xiàn)方法上講，Spectrum View 也是采用 FFT，但并不是直接處理采集的樣點(diǎn)，而是先通過數(shù)字下變頻(DDC 技術(shù) ) 得到 IQ 數(shù)據(jù)，然后經(jīng)過 FFT 得到信號頻譜。這也是相對于傳統(tǒng) FFT 的一大特色。與原始采集信號相比，IQ 信號攜帶的頻率要低很多，對 IQ 數(shù)據(jù)重采樣無需太高采樣率，大大降低了數(shù)據(jù)量，提高了處理速度。

無論與頻譜儀比較，還是與示波器傳統(tǒng)的 FFT 方法相比，Spectrum View 都具有自己的特色：

· Spectrum View 使得時(shí)、頻域捕獲時(shí)間相互獨(dú)立，當(dāng)設(shè)置較小的 RBW 時(shí)依然可以保證示波器的處理速度。傳統(tǒng) FFT 測試需要通過調(diào)整水平時(shí)基來改變RBW，在要求 RBW 很小的測試場景，需要增大水平時(shí)基，嚴(yán)重影響了示波器處理速度。

· Spectrum View 具有標(biāo)準(zhǔn)頻譜儀的操作設(shè)置，如圖2 所示，具有更友好的交互界面，可以直接設(shè)置zhongxin頻率、Span、RBW 及時(shí)域窗口的類型。

· Spectrum View 支持豐富的探測方式，且能夠測試極低頻率信號頻譜，是普通頻譜儀所不能及的；

· 支持多通道時(shí)、頻域聯(lián)合分析，而且支持觸發(fā)捕獲， 使其可以分析瞬態(tài)或者間歇性信號的頻譜；

· 支持多種時(shí)間窗類型，可以根據(jù)待測信號的特性進(jìn)行選擇，以保證測試結(jié)果的精確性；

· 支持峰值自動搜索功能，可以設(shè)定峰值搜索閾值，可顯示多達(dá) 11 個(gè) Peak Marker；

· 支持 Normal、Max. Hold、Min. Hold 以及 Average 等四種跡線顯示模式；

· 當(dāng)顯示多個(gè)通道的頻譜時(shí)，既可以“堆棧 (Stacked) ”顯示，也可以“重疊 (Overlay) ”顯示；

· 所有通道具有相同的 Span、RBW、FFT Window 及 Spectrum Time，但ZX頻率可以獨(dú)立設(shè)定。

圖 2. Spectrum View 操作界面

時(shí)頻域并行分析

圖 3 給出了信號采集和處理架構(gòu)示意圖，模擬信號經(jīng)過ADC轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號后，時(shí)域和頻域是并行處理的，從而可以獨(dú)立設(shè)置時(shí)域和頻域捕獲時(shí)間。SpectrumView支持滑動 Spectrum Time 的位置，對不同時(shí)段的信號作頻譜測試，這使得對信號進(jìn)行時(shí)頻域聯(lián)動測試成為可能。

圖 3. 信號采集和分析架構(gòu)示意圖

作為示例，圖4 給出了一個(gè)跳頻信號分析結(jié)果，同時(shí)給出了時(shí)域波形、頻譜及跳頻序列的結(jié)果。圖中紅色標(biāo)記處為 Spectrum Time，即用于 FFT 分析的時(shí)間，其位置是可以移動的，測試的頻譜就是當(dāng)前位置對應(yīng)的頻譜。拖動 Spectrum Time 的位置，可以分別對不同的頻點(diǎn)進(jìn)行觀測，當(dāng)前觀測的是頻率切換過程中的頻譜變化。

圖 4. 時(shí)域、頻域和調(diào)制域聯(lián)動分析

多通道頻譜測試

頻譜應(yīng)用過程中，Spectrum View 與頻譜儀 FFT 模式下的數(shù)據(jù)處理過程相同，雖然測試動態(tài)不如頻譜儀，但是 Spectrum View 有著自己的優(yōu)勢，比如可以測試極低頻率的信號，具有豐富靈活的探測方式，以及時(shí)頻分析的相關(guān)性。此外，Spectrum View 還支持多通道頻譜測試，這得益于 TEK049 支持同時(shí)對每個(gè)通道的信號作頻譜分析處理。

類似于 TEK049 的多通道時(shí)域波形顯示方式，所激活的頻譜既可以“堆棧 (Stacked) ”顯示，也可以“重疊 (Overlay) ”顯示。圖 5 同時(shí)觀測了兩個(gè)通道的時(shí)域波形及頻譜，并且采用了重疊顯示，以便于頻譜之間的對比。

所 有 通 道 的 頻 譜 共 用相 同 的 Span、RBW、FFTWindow 及 Spectrum Time，這一點(diǎn)與時(shí)域要求多通道間共用采樣率、水平時(shí)基及觸發(fā)類似。盡管如此，各個(gè)通道的zhongxin頻率可以獨(dú)立設(shè)置，默認(rèn)是聯(lián)動的，也可以根據(jù)需要設(shè)置為不同值。

Spectrum View 支持自動搜索峰值，最多支持 11 個(gè)PeakMarker，幅值zui大的頻點(diǎn)自動標(biāo)記為“Ref.Marker”，其它 Marker 的頻點(diǎn)和幅值可以顯示為juedui值，也可以顯示為相對于“Ref.Marker”的相對值。如果所需要的 Marker 數(shù)目超過限制，還可以通過使用頻域的 cursor 確定頻率和幅值。

圖 5. 同時(shí)觀測兩個(gè)通道的時(shí)域波形及頻譜

以上關(guān)于泰克示波器功能介紹內(nèi)容由西安安泰測試整理，如需了解更多泰克示波器相關(guān)知識歡迎訪問安泰測試網(wǎng)。

歡迎來自世界各地的表面分析用戶加入我們于10月15日16:00舉辦的Ignite Surface Analysis網(wǎng)絡(luò)研討會，本次研討會將邀請到多位頂 尖表面分析專家，與您分享他們的ZX想法和研究成果，以幫助您控制產(chǎn)品質(zhì)量、改進(jìn)失效分析方法，以及實(shí)現(xiàn)科研的突破。

隨著人們對高性能材料需求的增加，表面分析技術(shù)的重要性也隨之增加。材料表面是樣品和環(huán)境發(fā)生相互作用的位置，因此，只有了解材料表面或界面處發(fā)生的物理和化學(xué)相互作用，才能解決與現(xiàn)代材料相關(guān)的許多問題，諸如腐蝕速率、催化活性、粘合性能、潤濕性、接觸電勢和失效機(jī)理等。表面改性技術(shù)可用于改變或改善這些特性，因此，表面分析技術(shù)對于了解材料的表面化學(xué)性質(zhì)以及研究表面改性，材料失效機(jī)理或開發(fā)新器件非常重要。

快來加入我們與專家一起：

1 加深您對表面分析的了解

2 突破生產(chǎn)力和創(chuàng)新的界限

3 學(xué)習(xí)可靠的實(shí)驗(yàn)工具和可復(fù)制的解決方案，以簡化和加速您的工作流程

此次研討會還特設(shè)“Ask the applications team”圓桌討論環(huán)節(jié)。您對如何進(jìn)行表面分析實(shí)驗(yàn)或如何處理數(shù)據(jù)有疑問嗎？您想知道如何為一個(gè)復(fù)雜的樣本建立實(shí)驗(yàn)流程嗎？千萬不要錯(cuò)過向我們的科學(xué)家尋求幫助的機(jī)會！從XPS分析的基礎(chǔ)知識到PCA分析等高級處理，包括ISS、REELS和UPS等相關(guān)技術(shù)，我們的專家將在研討會上提供答案！

研討會日程：北京時(shí)間 10月15日

報(bào)名方式

報(bào)名后請關(guān)注郵件通知，系統(tǒng)將自動發(fā)送觀看方式。

賽默飛XPS系列產(chǎn)品

現(xiàn)在就注冊，在線參與我們的網(wǎng)絡(luò)研討會吧！

拓展紅外分析新境界，全新的Spectrum 3? FT-IR光譜儀在近紅外、中紅外、遠(yuǎn)紅外三個(gè)紅外光譜范圍內(nèi)，都能達(dá)到非凡的分析性能，具有wu與倫比的性能和取樣靈活性。

Spectrum 3 FT-IR

shou個(gè)提供全集成的熱重—紅外（TG-IR）聯(lián)用解決方案的FTIR光譜儀平臺。

快速掃描能力，掃描速度可達(dá)100次/秒，為新材料開展高級研發(fā)，提供了新一代研究手段。

通過云連接共享IR數(shù)據(jù)，加快新產(chǎn)品的開發(fā)速度，可以隨時(shí)隨地，使用任意設(shè)備進(jìn)行協(xié)作。

現(xiàn)在，所有Spectrum 3 FT-IR應(yīng)用資料，我們?yōu)槟鷾?zhǔn)備好啦！

互動宣傳冊

Spectrum 3 FT-IR互動宣傳冊

應(yīng)用案例

使用 Spectrum 3紅外光譜儀對原料藥進(jìn)行分析

在快速掃描FT-IR光譜儀上使用停流系統(tǒng)對快速化學(xué)反應(yīng)進(jìn)行監(jiān)測

采用FT-IR光譜儀，在遠(yuǎn)紅外光譜區(qū)域中的衰減全反射(ATR)測量

氰基丙烯酸酯固化的時(shí)間分辨FT-IR分析

Spectrum 3紅外光譜儀的多波段紅外應(yīng)用案例

使用我們提供的全套材料表征產(chǎn)品，重新裝備您的實(shí)驗(yàn)室！

了解更多應(yīng)用資料和產(chǎn)品信息，掃描下方二維碼，下載珀金埃爾默Spectrum 3相關(guān)資料。