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離子源的離子束的主要參數(shù)

蘇尛柒我等你 2018-12-06 02:23:19 391  瀏覽
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離子源的離子束的主要參數(shù)
 
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二氧化硅 (SiO_2) 薄膜具有硬度高、耐磨性好、絕緣性好等優(yōu)點常作為絕緣層材料在薄膜傳感器生產(chǎn)中得到廣泛應用. 某光學薄膜制造商為了獲得高品質的 SiO_2薄膜引進伯東 KRI 聚焦型射頻離子源 RFICP 380輔助離子束濺射鍍制SiO_2薄膜.

 

該制造商的離子束濺射鍍膜組成系統(tǒng)主要由濺射室、雙離子源、濺射靶、基片臺、真空氣路系統(tǒng)以及控制系統(tǒng)等部分組成.

 

離子源濺射離子源采用進口的 KRI 聚焦型射頻離子源 RFICP 380, 其參數(shù)如下:

伯東 KRI 聚焦型射頻離子源 RFICP 380 技術參數(shù):

射頻離子源型號

RFICP 380

Discharge 陽極

射頻 RFICP

離子束流

>1500 mA

離子動能

100-1200 V

柵極直徑

30 cm Φ

離子束

聚焦

流量

15-50 sccm

通氣

Ar, Kr, Xe, O2, N2, H2, 其他

典型壓力

< 0.5m Torr

長度

39 cm

直徑

59 cm

中和器

LFN 2000

 

推薦理由:

1. 聚焦型濺射離子源一方面可以增加束流密度, 提高濺射率

2. 另一方面減小離子束的散射面積, 減少散射的離子濺射在靶材以外的地方引起污染

 

其真空氣路系統(tǒng)真空系統(tǒng)需要沉積前本底真空抽到 8×10-4 Pa, 經(jīng)推薦采用伯東泵組  Hicube 80 Pro, 其技術參數(shù)如下:

 

分子泵組 Hicube 80 Pro 技術參數(shù):

進氣法蘭

氮氣抽速
 N2,l/s

極限真空 hpa

前級泵

型號

前級泵抽速
 m3/h

前級真空
安全閥

DN 40 ISO-KF

35

< 1X10-7

Pascal 2021

18

AVC 025 MA

 

運行結果:

  1. SiO_2薄膜沉積速率比以前更加快速

  2. 薄膜均勻性明顯提高

  3. 成膜質量高、膜層致密、缺陷少

 

伯東是德國 Pfeiffer 真空泵, 檢漏儀, 質譜儀, 真空計, 美國 KRI 考夫曼離子源, 美國HVA 真空閥門, 美國 inTEST 高低溫沖擊測試機, 美國 Ambrell 感應加熱設備和日本 NS 離子蝕刻機等進口知名品牌的指定代理商.

 

 


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伯東 KRI 雙離子源輔助離子束濺射技術獲取高反射吸收Ta2

伯東 KRI 雙離子源輔助離子束濺射技術獲取高反射吸收Ta2O5薄膜


為了獲取高性能紫外激光薄膜元件, 急需研制紫外高吸收薄膜, 某研究所采用伯東 KRI 雙離子源輔助離子束濺射沉積技術鍍制 Ta2O5 薄膜進行研究.

 

其系統(tǒng)工作示意圖如下:

 

 

該研究所的離子束濺射鍍膜組成系統(tǒng)主要由濺射室、雙離子源、濺射靶、基片臺等部分組成.

 

其中雙離子源中的一個離子源適用于濺射靶材, 另個離子源是用于基材的預清洗.

 

用于濺射的離子源采用伯東的 KRI 聚焦型射頻離子源 380, 其參數(shù)如下:

 

伯東 KRI 聚焦型射頻離子源 RFICP 380 技術參數(shù):

射頻離子源型號

RFICP 380

Discharge 陽極

射頻 RFICP

離子束流

>1500 mA

離子動能

100-1200 V

柵極直徑

30 cm Φ

離子束

聚焦

流量

15-50 sccm

通氣

Ar, Kr, Xe, O2, N2, H2, 其他

典型壓力

< 0.5m Torr

長度

39 cm

直徑

59 cm

中和器

LFN 2000

 

理由:

聚焦型濺射離子源一方面可以增加束流密度, 提高濺射率; 另一方面減小離子束的散射面積, 減少散射的離子濺射在靶材以外的地方引起污染

 

用于預清洗的離子源是采用伯東 KRI 霍爾離子源 Gridless eH 3000

 

KRI 霍爾離子源 Gridless eH 3000 技術參數(shù):

離子源型號

 

霍爾離子源

eH3000
eH3000LO
eH3000MO

Cathode/Neutralizer

HC

電壓

50-250V
50-300V
50-250V

電流

20A
10A
15A

散射角度

>45

可充其他

Ar, O2, N2, H2, organic precursors, others

氣體流量

5-100sccm

高度

6.0“

直徑

9.7“

水冷

可選

 

其濺射室需要沉積前本底真空抽到 1×10-5Pa, 采用伯東分子泵組  Hicube 80 Pro, 其技術參數(shù)如下:

進氣法蘭

氮氣抽速
 N2,l/s

極限真空 hpa

前級泵

型號

前級泵抽速
 m3/h

前級真空
安全閥

DN 40 ISO-KF

35

< 1X10-7

Pascal 2021

18

AVC 025 MA

 

運行結果:

伯東 KRI 雙離子源輔助離子束濺射技術可以制備不同吸收率的355nm高反射吸收 Ta2O5 薄膜.

 

伯東是德國 Pfeiffer 真空泵, 檢漏儀, 質譜儀, 真空計, 美國 KRI 考夫曼離子源, 美國HVA 真空閥門, 美國 inTEST 高低溫沖擊測試機, 美國 Ambrell 感應加熱設備和日本 NS 離子蝕刻機等進口知名品牌的指定代理商.

 

 


2020-10-16 11:46:53 641 0
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芯片洗干儀主要參數(shù)

本文聚焦芯片洗干儀的核心參數(shù)及其對制程穩(wěn)定性的關鍵作用。通過系統(tǒng)梳理從基本規(guī)格到運行工藝的多維指標,揭示各項參數(shù)如何直接影響清洗均勻性、干燥效率、設備可靠性與良率波動。本文面向半導體制程中的設備選型、工藝設定與日常維護,提供一個清晰的參數(shù)框架,幫助工程技術人員在實際應用中做出科學決策。


  • 一、基本規(guī)格與機械參數(shù)


  • 大處理容量與槽體容積


  • 片徑覆蓋范圍與托架適配性


  • 傳送帶速度范圍與可控精度


  • 外形尺寸、重量、占地需求


  • 電源、總功率、能耗等級


  • 控制系統(tǒng)的接口兼容性與擴展性


  • 二、清洗工藝參數(shù)


  • 清洗劑類型與化學兼容性(水基、溶劑等)


  • 清洗溫度范圍及溫控穩(wěn)定性


  • 清洗時間窗口與工藝重復性


  • 循環(huán)流量、噴淋壓力與分布均勻性


  • 清洗模式(單槽/多槽、循環(huán)/再循環(huán))與工藝柔性


  • 輔助技術(如超聲、振動等)的應用條件


  • 三、干燥與熱管理參數(shù)


  • 干燥方式(熱風、惰性氣體、真空等)及切換能力


  • 干燥溫度、風速與濕度控制范圍


  • 干燥時間窗與干燥均勻性指標


  • 干燥后殘留水膜及干燥后檢測方法


  • 熱源效率、能源回收與熱管理設計


  • 四、環(huán)境安全與合規(guī)性


  • 材料與密封件的化學兼容性壽命


  • 廢氣處理、廢水回收與排放接口


  • 安全防護設計、泄漏監(jiān)控與緊急停機


  • 符合的國際或區(qū)域認證(如RoHS、CE等)及數(shù)據(jù)記錄要求


  • 維護與檢修的可操作性、備件可得性


  • 五、智能化與數(shù)據(jù)能力


  • PLC/上位機聯(lián)動與自動化控制水平


  • 過程數(shù)據(jù)采集、工藝卡與追溯能力


  • 遠程診斷、廠內(nèi)診斷工具與維護預測


  • 標準接口與集成到MES/SCADA的能力


  • 設備自診斷與故障預警的有效性



選型要點與調試要點


  • 根據(jù)產(chǎn)線片徑、產(chǎn)能與清洗劑兼容性確定技術邊界,優(yōu)先考慮工藝窗口的寬裕性。
  • 進行工藝窗口測試,驗證清洗均勻性、干燥一致性和重復性,記錄穩(wěn)定區(qū)間。
  • 關注能耗、占地與維護成本的綜合平衡,評估供貨商的服務與備件周期。
  • 清晰制定調試計劃,包含參數(shù)設定、數(shù)據(jù)采集點與異常處置流程。

通過上述參數(shù)框架,企業(yè)在芯片洗干儀的選型、工藝優(yōu)化與日常運維中,能夠實現(xiàn)清洗質量與干燥穩(wěn)定性的持續(xù)提升,進一步降低良率波動與運營成本。綜合考慮材料兼容性、安全合規(guī)性與數(shù)據(jù)化能力,方可確保設備在高端制造環(huán)境中的長期可靠運行。


2025-09-23 19:00:21 112 0

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