高溫介電溫譜儀是什么？

 　　高溫介電溫譜儀是一款專門用于評估電介質材料高溫介電機制（材料極化、儲能、馳豫、相變、微結構變化、分子團重新取向等）的重要測量系統(tǒng)，該系統(tǒng)通過測量介電常數(shù)、介電損耗和阻抗、相位隨溫度、頻率變化的關系，直接得出電介質材料的溫度譜、頻率譜、阻抗譜、Cole-Cole圖等重要的物理性能參數(shù)。高溫介電溫譜儀是科研實驗室新材料的開發(fā)和研究、生產(chǎn)質量控制和生產(chǎn)工藝優(yōu)化的重要工具。

　　高溫介電溫譜儀從專業(yè)角度來說，其實就是高溫介電溫譜測量系統(tǒng)。高溫介電溫譜測量系統(tǒng)是為了滿足材料在高溫環(huán)境下的介電性能測量需求而設計的。它由硬件設備和測量軟件組成，包括高溫測試平臺、高溫測試夾具、阻抗分析儀和高溫介電測量系統(tǒng)軟件四個組成部分。高溫測試平臺是為樣品提供一個高溫環(huán)境；高溫測試夾具提供待測試樣品的測試平臺；阻抗分析儀則負責測試各組參數(shù)數(shù)據(jù)。Z后，再通過測量軟件將這些硬件設備的功能整合在一起，形成一套由實驗方案設計到溫度控制、參數(shù)測量、圖形數(shù)據(jù)顯示與數(shù)據(jù)分析于一體的高溫介電溫譜測量系統(tǒng)。

　　高溫介電溫譜測量系統(tǒng)就是可以在高溫、真空、氣氛測量條件下測量電介質材料的介電常數(shù)和損耗、阻抗譜COLE-COLE圖、機電耦合系數(shù)Kp的科研儀器設備。除高溫介電溫譜測量系統(tǒng)外，北京華測試驗儀器有限公司還有高低溫介電溫譜測量系統(tǒng)、低溫介電溫譜測量系統(tǒng)（由低溫真空探針臺和介電測量套件組成）等。

高溫介電溫譜測試系統(tǒng)

       高溫介電溫譜測試系統(tǒng)運用三電極法設計原理測量。并參考美國 A.S.T.M 標準。重復性與穩(wěn)定性更好，采用雙屏蔽高頻測試線纜，提高測試參數(shù)的準確度，同時抗干擾能力更強。本設備也可應用于產(chǎn)品檢測以及新材料電學性能研究等用途。

       搭配Labview系統(tǒng)開發(fā)的Huacepro軟件，具備彈性的自定義功能，可進行介電溫譜、頻譜、升溫速度、測量參數(shù)等設置，符合壓電陶瓷與其它新材料測試多樣化的需求。電壓、過電流、超溫等異常情況以保證測試過程的安全；資料保存機制，當遇到電腦異常瞬時斷電可將資料保存于控制器中，不丟失試驗數(shù)據(jù)，設備重新啟動后可恢復原有試驗數(shù)據(jù)。

       目前電網(wǎng)中大量使用變頻器等高頻、高功率設備，將對電網(wǎng)造成諧波干擾。從而在高頻、弱信號測量過程中影響弱信號的采集，華測儀器公司推出的抗干擾模塊以及采用新的參數(shù)分析技術,實現(xiàn)了高達120MHz的高頻測量,從而滿足了很多半導體,功能材料和納米器件的測試需求.

消除不規(guī)則輸入的自動平均值功能 更強數(shù)據(jù)處理及內部屏蔽

       華測系列阻抗分析儀是華測儀器電子事業(yè)部采用當前先進的自動平衡電橋原理研制成功的新一代阻抗測試儀器，為國產(chǎn)阻抗測試儀器的新的高度。解決同類儀器，在測量10Hz-50MHz的頻率瓶頸；解決了國外同類儀器只能分析、無法單獨測試的缺陷；采用單測和分析兩種界面，讓測試更簡單。得益于先進的自動平衡電橋技術，在10Hz-50MHz的頻率范圍可以保證0.05%的基本精度。 快達5ms的測試速度及高達50M的阻抗測試范圍可以滿足元件與材料的測量要求，特別有利于低損耗(D)電容器和高品質因數(shù)(Q)電感器的測量。四端對的端口配置方式可有效消除測試線電磁耦合的影響，將低阻抗測試能力的下限比常規(guī)端配置的儀器向下擴展了十倍。

專用高頻測試線纜，更適合高頻測量

測試引線使用4端子對配置以擴展測量端口，附帶BNC陽頭連接板，用于連接高溫爐的測試夾具，同時測試線采用高頻測試專用測試線，設計兩層屏蔽。更適合高頻介電參數(shù)測量。

儀器優(yōu)勢：

1、它可以勻速、階梯（升\降溫）、循環(huán)沖擊，真空、氣氛等多種的加熱方式。

2、采用全新的移相觸發(fā)技術，完全可實現(xiàn)控制精度波動±0.25°c 以內，溫控精度更高。

3、加熱速度更快、更快，同時它可以提供了材料的更多的測試環(huán)境。

設備優(yōu)勢

1、高速加熱與冷卻方式

       高能量的紅外燈和鍍金反射方式允許高速加熱到高溫。同時爐體可配置水冷系統(tǒng)，增設氣體冷卻裝置，可實現(xiàn)快速冷卻。

2、溫度高精度控制

        近紅外鍍金聚焦爐和溫度控制器的組合使用，可以準確控制樣品的溫度(遠比普通加溫方式)。此外，冷卻速度和保持在任何溫度下可提供高精度。

3、不同環(huán)境下的加熱與冷卻

       加熱/冷卻可用真空、氣氛環(huán)境、低溫（高純度惰性氣體 靜態(tài)或流動），操作簡單，使用石英玻璃制成。紅外線可傳送到加熱/冷卻室。

更強的擴展能力，實現(xiàn)一機多用

█ 多功能真空加熱 爐，可實現(xiàn)高溫、真空、氣氛環(huán)境下電學測試

█ 采用鉑金材料作為測量導線、以減少信號衰減、提高測試精度

█ 設備配置水冷裝置，降溫速度更快、效率更高

█ 可實現(xiàn)介電溫譜、介電頻譜等測量功能

█ 進口溫度傳感器、PID自動溫度控制，使測量溫度更準確

█ 近紅外加熱，樣品受熱更均勻，不存在感應電流，達到JZ測量

█ 10寸進口觸摸屏設計，一體化設計機械結構，更加穩(wěn)定、可靠

█ 采用進口高頻測試線，抗干擾能力更強，采集精度更高

█ 99氧化鋁陶瓷絕緣，配和鉑金電極夾具

█ huace pro 強大的控制分析軟件與功能測試平臺系統(tǒng)相互兼容

設備測量參數(shù)

溫度范圍： RT-800 (高達1650)°C

樣品尺寸：φ＜25mm，d＜4mm

控溫精度：±0.25°C

電極材料：鉑金

升溫斜率：10°C/min（可設定）

夾具輔助材料：99氧化鋁陶瓷

測試頻率 : 10Hz~120MHz

絕緣材料：99氧化鋁陶瓷

加熱方式：近紅外加熱

測試功能：介電溫譜、頻譜

冷卻方式：水冷

數(shù)據(jù)傳輸：4個USB接口

輸入電壓：110~220V

設備尺寸：600x500x350mm

ε介電常數(shù)、（ε'、ε''介電常數(shù)實部與虛部）、C電容、(C’、C''電容實部與虛部、D損耗、R電阻、(R'、R''電阻實部與虛部）、Z、（Z'、Z''阻抗實部與虛部）、

Y導納、Y’、Y''（導納實部與虛部）、X電抗、Q品質因數(shù)、cole-cole圖譜、機電耦合系數(shù)Kp、等一系列測量參數(shù)及介電溫譜與頻譜等測試功能。

高、低溫介電測量系統(tǒng)用于分析寬頻、高、低溫環(huán)境條件下被測樣品的阻抗Z、電抗X、導納Y、電導G、電納B、電感L、介電損耗D、品質因數(shù)Q等物理量，同時還可以分析被測樣品隨溫度、頻率、時間、偏壓變化的曲線，是專業(yè)從事材料介電性能、溫度弛豫、電弛豫研究的理想測試工具。用戶通過軟件可以直接得出介電間、頻率、偏壓變化的曲線，高溫介電測量系統(tǒng)是功能材料測試必備電學性能評估設備。系統(tǒng)搭配Labview系統(tǒng)開發(fā)的hcpro軟件，具備彈性的自定義功能，可進行頻率、溫度、時間、測試項等設置，符合材料測試多樣化測試的需求。

本系統(tǒng)主要用于材料在不同溫度不同頻率下的電學性能測試，系統(tǒng)包含高、低溫環(huán)境、阻抗分析儀、測試夾具，測試軟件于一體，可測試材料的介電常數(shù)，介質損耗，阻抗譜Co-Co圖，機電耦合系數(shù)等，同時可分析被測樣品隨溫度，頻率，時間變化的曲線，測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項目要求選購；,實現(xiàn)了自動完成不同環(huán)境下的阻抗、介電參數(shù)的測量與分析。另外，還可根據(jù)用戶提供的其他LCR品牌或型號完成定制需求。軟件可根據(jù)實驗方案設計，通過測量C和D值，自動完成介電常數(shù)和介電損耗隨頻率、電壓、偏壓、溫度、時間多維變化的曲線。一次測量，同時輸出，測量效率高、數(shù)據(jù)豐富多樣。

寬頻介電阻抗譜測試儀系統(tǒng)

系統(tǒng)功能：

寬頻介電譜儀可以通過與寬頻阻抗的完mei結合達到極寬的頻率范圍（20HZ-120M）；能靈敏地測量高分子材料介電常數(shù)及損耗等參數(shù)；具有極寬的阻抗分析范圍（10mΩ~100TΩ）；可以測量各種固體、薄膜材料。其自主研發(fā)的全自動在線控制軟件可以實時進行多達不同參數(shù)的測量與分析。

本儀器還可以進行不同溫度范圍的測量，自主研發(fā)精確溫度控制系統(tǒng)，可以滿足不同電介質材料測量時對溫度范圍和控溫精度的不同要求，配合高低溫測試模塊，用于研究電介質材料在高溫條件下的介電性能。

寬頻介電阻抗譜儀不僅是實驗室開發(fā)和研究新材料的重要測量手段，也是生產(chǎn)質量控制和優(yōu)化生產(chǎn)工藝的強有力的工具。寬頻介電阻抗譜儀廣泛應用于化學、物理化學、電化學、電子、電工工程、材料科學、生物學和制藥等領域，特別是聚合物、樹脂、陶瓷、橡膠、玻璃、液晶、石油及懸浮體等材料的研究。

設備單元框圖

寬頻介電阻抗譜儀測試系統(tǒng)硬件主要包括阻抗分析儀、高阻計、高壓放大器、溫控模塊，高低溫測試環(huán)境（測試夾具）、工控電腦、供電及測試線纜構成。

設備測試功能框圖

寬頻介電譜儀可實現(xiàn)常溫環(huán)境下的介電常數(shù)及損耗測量、高低溫環(huán)境下的介電溫譜及介電頻譜測量，也可以進行不同溫度下超高阻測量以及TSDC熱激勵電流測量功能。

介電測試儀出阻抗嗎?