電子器件在實(shí)際服役過(guò)程中，由于設(shè)計(jì)原因或器件與環(huán)境相互作用，性能或結(jié)構(gòu)發(fā)生變化，可能會(huì)出現(xiàn)性能下降或者破壞，需要對(duì)失效的原理、機(jī)理進(jìn)行明確的分析并制定相應(yīng)的改善措施。

失效分析對(duì)于糾正設(shè)計(jì)和研發(fā)錯(cuò)誤、完善產(chǎn)品、提高產(chǎn)品良品率和可靠性有重要意義，飛納電鏡可以提供簡(jiǎn)單、高效、精確的電子半導(dǎo)體材料檢測(cè)方案，對(duì)于失效模式的確定有極大的幫助。

1. 案例一 

電子器件的異物分析

在電子器件的生產(chǎn)中，往往由于原料不純、制程污染等原因引入一些雜質(zhì)，這些異物對(duì)產(chǎn)品性能有很大影響，常會(huì)造成器件的失效。在分析的過(guò)程中，利用搭載 EDS 的掃描電鏡的形貌分析能力和元素分析能力，可以很好的找到異物，并對(duì)異物形態(tài)、成分、位置進(jìn)行確認(rèn)，進(jìn)而幫助異物的溯源和工藝的改善。如下述案例中所示為鋁墊表面的異物分析，在光學(xué)顯微鏡下可以發(fā)現(xiàn)鋁墊表面存在的一些白點(diǎn)，利用 Phenom 電鏡的光鏡—電鏡聯(lián)動(dòng)功能，可以快速的進(jìn)行缺陷的定位，再通過(guò) EDS-mapping 進(jìn)行成分分析可以明顯的發(fā)現(xiàn)含 Cl、Ag 的異物，殘留的氯會(huì)導(dǎo)致打線的結(jié)合力變差而引起失效。

鋁墊表面異物的 EDS 分析 

在制備過(guò)程中利用化鎳金作為最 后的保護(hù)層已經(jīng)成為越來(lái)越多的電子產(chǎn)品的制備工藝了，但是化鎳金的表面也有可能遇到吃錫不良的問(wèn)題，金面污染和鎳腐蝕就是兩種典型的原因。如下案例中 (A)、(B) 所示，在金面上 EDS 分析發(fā)現(xiàn)了明顯的 C、O、S 等雜質(zhì)元素，這些污染物就會(huì)導(dǎo)致焊接過(guò)程中出現(xiàn)吃錫不良。另外一種吃錫不良的原因-鎳腐蝕通過(guò)表面往往很難發(fā)現(xiàn)，這時(shí)可以借助離子切割獲得平整的斷面，對(duì)斷面進(jìn)行 EDS 分析就可以對(duì)是否是鎳腐蝕造成吃錫不良進(jìn)行分析了。

吃錫不良缺陷的 EDS 分析 

02. 案例二

材料的斷面分析

對(duì)于電子半導(dǎo)體材料而言，其失效缺陷很多時(shí)候在表面是難以發(fā)現(xiàn)的，如上述案例中提到的化鎳金吃錫不良，這種時(shí)候借助斷面分析往往可以得到更多的收獲。如下圖 (A)、(B) 所示為吃錫不良處的掃描電鏡 (SEM) 圖像分析，無(wú)法發(fā)現(xiàn)太多異狀，但是，對(duì)比 (C)、(D) 的斷面分析可以清楚的看到鎳腐蝕已經(jīng)深入銅層。

對(duì)于 PCB 板，鍍銅層是否存在“柱狀結(jié)晶”等嚴(yán)重影響鍍層熱可靠性異的結(jié)晶狀態(tài)、鍍層間是否存在“空洞”、“裂紋”等不易監(jiān)控到的異常、IMC 層是否連續(xù)均勻......這些問(wèn)題都需要利用斷面分析來(lái)進(jìn)行判斷。如下述案例 (A)、(B) 中所示的夾雜物，案例 (C)、(D) 所展示的為有無(wú) IMC 層及 IMC 層是否連續(xù)均勻的觀察，沒(méi)有連續(xù)均勻的 IMC 層往往容易導(dǎo)致焊點(diǎn)間的結(jié)合不牢。

03.

Webinar 預(yù)告

為了進(jìn)一步促進(jìn) PCB 行業(yè)相關(guān)客戶的深度交流與溝通，飛納電鏡 —— 復(fù)納科學(xué)儀器（上海）有限公司聯(lián)合北京軟件產(chǎn)品質(zhì)量檢測(cè)檢驗(yàn)中心以及廣州皓悅新材料科技有限公司一起圍繞“PCB 行業(yè)產(chǎn)品檢測(cè)分析”這一話題展開(kāi)討論，探討 PCB 行業(yè)最 新行業(yè)解決方案及測(cè)試分析方法。

直播時(shí)間

2023 年 1 月 12 日 14:00-16:00

組織機(jī)構(gòu)

主辦方：

復(fù)納科學(xué)儀器（上海）有限公司

協(xié)辦方：

北京軟件產(chǎn)品質(zhì)量檢測(cè)檢驗(yàn)中心

廣州皓悅新材料科技有限公司

掃描二維碼

預(yù)約會(huì)議

江海燕

北京軟件產(chǎn)品質(zhì)量檢測(cè)檢驗(yàn)中心

集成電路測(cè)評(píng)實(shí)驗(yàn)室測(cè)試工程師

報(bào)告題目：失效分析技術(shù)與檢測(cè)方法

報(bào)告主要是對(duì)失效分析介紹，對(duì)失效機(jī)理及失效檢測(cè)方法做簡(jiǎn)單概述。依據(jù)測(cè)試經(jīng)驗(yàn)對(duì)樣品展開(kāi)外觀檢測(cè)、內(nèi)部目檢、電性能能測(cè)試、無(wú)損檢測(cè)及破壞性分析等，實(shí)現(xiàn)對(duì)對(duì)樣品失效點(diǎn)定位及失效機(jī)理確認(rèn)。

朱俊文

資 深掃描電鏡應(yīng)用專家，TPCA 講師

報(bào)告題目：PCB 最 新樣品制備與 SEM 分析方法

1. 如何快速的制備 PCB 樣品

2. ECCI 分析模式

3. PCB 分析案例分享

賀啟云

廣州皓悅新材料科技有限公司

經(jīng)理 / 研發(fā)應(yīng)用

報(bào)告題目：掃描電鏡在 PCB 相關(guān)檢測(cè)分析的應(yīng)用分享

1. PCB 樣品制作及注意事項(xiàng)

2. 電鏡模式在 PCB 檢測(cè)分析的應(yīng)用分享

3. 元素分析在 PCB 檢測(cè)分析的應(yīng)用分享

參與本次研討會(huì)將有機(jī)會(huì)獲得精美獎(jiǎng)品一份喲！

電源是電子設(shè)備中重要的組成部分，小到移動(dòng)電話，媒體播放器中的電源，大到各種電力驅(qū)動(dòng)和能源轉(zhuǎn)換設(shè)備，其核心都是電能的調(diào)節(jié)變化和分配。開(kāi)發(fā)、設(shè)計(jì)和調(diào)試這些電源設(shè)備，需要多種電子測(cè)試儀器。RIGOL作為國(guó)內(nèi)從事測(cè)量?jī)x器研發(fā)、生產(chǎn)和銷售的高新技術(shù)企業(yè)，能夠提供一整套從設(shè)計(jì)、研發(fā)到生產(chǎn)必須的測(cè)試設(shè)備。 

一、功率器件測(cè)試

功率半導(dǎo)體器件是能量轉(zhuǎn)換的核心器件，不論是MOSFET還是IGBT，都承擔(dān)著電能調(diào)整的重要指責(zé)。功率器件本身的損耗是影響電源整體效率的重要因素，高損耗將導(dǎo)致器件發(fā)熱并有可能影響電源壽命。示波器一般采用瞬時(shí)功率積分方法測(cè)量功率器件的損耗波形。

RIGOL示波器均支持功率測(cè)試，齊備的高壓差分和電流探頭可以滿足各種測(cè)試需求。PC版Ultra Power Analysis軟件更可以導(dǎo)出測(cè)試數(shù)據(jù)，完成多種參數(shù)的在線和離線測(cè)試，并生成報(bào)告。

二、紋波測(cè)試

電源紋波是評(píng)價(jià)直流電源的重要參數(shù)，紋波的構(gòu)成由工頻紋波、開(kāi)關(guān)紋波和高頻雜訊組成。準(zhǔn)確測(cè)試紋波需要測(cè)試儀器本身的紋波要盡可能小，測(cè)試系統(tǒng)對(duì)測(cè)試結(jié)果產(chǎn)生Z小的影響。

RIGOL示波器的一個(gè)重要特點(diǎn)是底噪較小，其中的DS2000A示波器更可以提供500uV/div的業(yè)內(nèi)lingxian小量程，非常適合測(cè)試電源紋波這類小信號(hào)。PVP2150/PVP2350探頭提供1：1/10：1兩種衰減比，且1X檔可以提供高達(dá)35MHz帶寬，可以直接用于紋波測(cè)試。Ultra Power Analysis軟件提供紋波分析功能模塊。

三、調(diào)制分析

為提高電源效率，開(kāi)關(guān)電源中大都采用的可以調(diào)節(jié)功率因數(shù)的FPC電路，門極驅(qū)動(dòng)脈沖可調(diào)。在變頻驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)中，雙極型的PWM驅(qū)動(dòng)脈沖也是需要仿真、測(cè)試和驗(yàn)證的。

RIGOL各種任意波形發(fā)生器可以產(chǎn)生各種脈寬調(diào)制信號(hào)，雙通道輸出時(shí)，通道間完全隔離，特別適合各類驅(qū)動(dòng)信號(hào)的模擬產(chǎn)生。示波器的測(cè)量趨勢(shì)繪圖功能，可以分析調(diào)制信號(hào)的變化規(guī)律。

四、生產(chǎn)和老化測(cè)試

電源產(chǎn)品需要完成大批量的快速參數(shù)測(cè)試和老化試驗(yàn)，這些測(cè)試必須同時(shí)測(cè)試多路參數(shù)的測(cè)量和記錄功能。對(duì)于超出限制的測(cè)試結(jié)果，系統(tǒng)需要報(bào)警提示。所有這些需求對(duì)于RIGOL M300數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)都可以輕松完成。6位半數(shù)字表的測(cè)試精度、高達(dá)250CH/s的測(cè)試速度和Z高320通道的系統(tǒng)配置能力，使M300成為理想的生產(chǎn)測(cè)試和溫濕度及老化測(cè)試的工具。大屏顯示和PC軟件讓設(shè)置和使用M300變得輕而易舉。

Rigol產(chǎn)品家族概述

Rigol是一家以技術(shù)作為核心基礎(chǔ)的技術(shù)公司，在電子測(cè)試測(cè)量行業(yè)被國(guó)外進(jìn)口設(shè)備層層包圍的形勢(shì)下，Rigol 自我改革，重視研發(fā)，使其發(fā)展在行業(yè)內(nèi)一枝獨(dú)秀，到目前為止形成了數(shù)字示波器、任意波形發(fā)生器、萬(wàn)用表、可編程線性直流電源、電子負(fù)載、頻譜分析儀、射頻信號(hào)源、數(shù)據(jù)采集儀等全面的生產(chǎn)線，從產(chǎn)量品質(zhì)到產(chǎn)品價(jià)格給廣大電子測(cè)試測(cè)量工程師給予了極大的幫助。

安泰測(cè)試是Rigol 廠家授權(quán)的西北地區(qū)產(chǎn)品服務(wù)的業(yè)務(wù)平臺(tái)，具備專業(yè)的技術(shù)能力和完善的服務(wù)體系，關(guān)于電源測(cè)試的任何問(wèn)題和需求，歡迎致電安泰測(cè)試體驗(yàn)我司的服務(wù)與支持。

Rigol提供電源測(cè)試行業(yè)全套解決方案

電源是電子設(shè)備中重要的組成部分，小到移動(dòng)電話，媒體播放器中的電源，大到各種電力驅(qū)動(dòng)和能源轉(zhuǎn)換設(shè)備，其核心都是電能的調(diào)節(jié)變化和分配。開(kāi)發(fā)、設(shè)計(jì)和調(diào)試這些電源設(shè)備，需要多種電子測(cè)試儀器。RIGOL作為國(guó)內(nèi)從事測(cè)量?jī)x器研發(fā)、生產(chǎn)和銷售的高新技術(shù)企業(yè)，能夠提供一整套從設(shè)計(jì)、研發(fā)到生產(chǎn)必須的測(cè)試設(shè)備。

一、功率器件測(cè)試

功率半導(dǎo)體器件是能量轉(zhuǎn)換的核心器件，不論是MOSFET還是IGBT，都承擔(dān)著電能調(diào)整的重要指責(zé)。功率器件本身的損耗是影響電源整體效率的重要因素，高損耗將導(dǎo)致器件發(fā)熱并有可能影響電源壽命。示波器一般采用瞬時(shí)功率積分方法測(cè)量功率器件的損耗波形。

RIGOL示波器均支持功率測(cè)試，齊備的高壓差分和電流探頭可以滿足各種測(cè)試需求。PC版Ultra Power Analysis軟件更可以導(dǎo)出測(cè)試數(shù)據(jù)，完成多種參數(shù)的在線和離線測(cè)試，并生成報(bào)告。

二、紋波測(cè)試

電源紋波是評(píng)價(jià)直流電源的重要參數(shù)，紋波的構(gòu)成由工頻紋波、開(kāi)關(guān)紋波和高頻雜訊組成。準(zhǔn)確測(cè)試紋波需要測(cè)試儀器本身的紋波要盡可能小，測(cè)試系統(tǒng)對(duì)測(cè)試結(jié)果產(chǎn)生Z小的影響。

RIGOL示波器的一個(gè)重要特點(diǎn)是底噪較小，其中的DS2000A示波器更可以提供500uV/div的業(yè)內(nèi)lingxian小量程，非常適合測(cè)試電源紋波這類小信號(hào)。PVP2150/PVP2350探頭提供1：1/10：1兩種衰減比，且1X檔可以提供高達(dá)35MHz帶寬，可以直接用于紋波測(cè)試。Ultra Power Analysis軟件提供紋波分析功能模塊。

三、調(diào)制分析

為提高電源效率，開(kāi)關(guān)電源中大都采用的可以調(diào)節(jié)功率因數(shù)的FPC電路，門極驅(qū)動(dòng)脈沖可調(diào)。在變頻驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)中，雙極型的PWM驅(qū)動(dòng)脈沖也是需要仿真、測(cè)試和驗(yàn)證的。

RIGOL各種任意波形發(fā)生器可以產(chǎn)生各種脈寬調(diào)制信號(hào)，雙通道輸出時(shí)，通道間完全隔離，特別適合各類驅(qū)動(dòng)信號(hào)的模擬產(chǎn)生。示波器的測(cè)量趨勢(shì)繪圖功能，可以分析調(diào)制信號(hào)的變化規(guī)律。

四、生產(chǎn)和老化測(cè)試

電源產(chǎn)品需要完成大批量的快速參數(shù)測(cè)試和老化試驗(yàn)，這些測(cè)試必須同時(shí)測(cè)試多路參數(shù)的測(cè)量和記錄功能。對(duì)于超出限制的測(cè)試結(jié)果，系統(tǒng)需要報(bào)警提示。所有這些需求對(duì)于RIGOL M300數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)都可以輕松完成。6位半數(shù)字表的測(cè)試精度、高達(dá)250CH/s的測(cè)試速度和Z高320通道的系統(tǒng)配置能力，使M300成為理想的生產(chǎn)測(cè)試和溫濕度及老化測(cè)試的工具。大屏顯示和PC軟件讓設(shè)置和使用M300變得輕而易舉。

Rigol產(chǎn)品家族概述

Rigol是一家以技術(shù)作為核心基礎(chǔ)的技術(shù)公司，在電子測(cè)試測(cè)量行業(yè)被國(guó)外進(jìn)口設(shè)備層層包圍的形勢(shì)下，Rigol 自我改革，重視研發(fā)，使其發(fā)展在行業(yè)內(nèi)一枝獨(dú)秀，到目前為止形成了數(shù)字示波器、任意波形發(fā)生器、萬(wàn)用表、可編程線性直流電源、電子負(fù)載、頻譜分析儀、射頻信號(hào)源、數(shù)據(jù)采集儀等全面的生產(chǎn)線，從產(chǎn)量品質(zhì)到產(chǎn)品價(jià)格給廣大電子測(cè)試測(cè)量工程師給予了極大的幫助。

安泰測(cè)試是Rigol 廠家授權(quán)的西北地區(qū)產(chǎn)品服務(wù)的業(yè)務(wù)平臺(tái)，具備專業(yè)的技術(shù)能力和完善的服務(wù)體系，關(guān)于電源測(cè)試的任何問(wèn)題和需求，歡迎致電安泰測(cè)試體驗(yàn)我司的服務(wù)與支持。

市場(chǎng)對(duì)通信設(shè)備、電子可穿戴設(shè)備、物聯(lián)網(wǎng)的需求，以及汽車和其他行業(yè)對(duì)電子產(chǎn)品的日益依賴，正推動(dòng)電子行業(yè)的快速發(fā)展。電鍍做為電子產(chǎn)品制造過(guò)程中的不可短缺的環(huán)節(jié)，快速而JZ的進(jìn)行鍍層厚度分析是產(chǎn)品質(zhì)量控制的重要方法。

隨著電子設(shè)備和電子元件越來(lái)越小、越來(lái)越復(fù)雜，制造商面臨著更薄的鍍層、更復(fù)雜的鍍層結(jié)構(gòu)、更加微小的可測(cè)試面積、以及更嚴(yán)格的偏差控制。

日立分析儀器擁有45年的鍍層分析專業(yè)知識(shí)，開(kāi)發(fā)了1,000多種鍍層應(yīng)用，其中包括一系列產(chǎn)品：微焦斑、臺(tái)式和手持式XRF儀器，以及臺(tái)式和手持式磁感應(yīng)電渦流測(cè)厚儀。日立分析儀器的X-Strata系列和FT系列X射線鍍層測(cè)厚儀提供全面的光斑尺寸、探測(cè)器、樣品臺(tái)配置，滿足客戶不同的分析目的和需求。我們的鍍層專家致力于為您提供zui優(yōu)化的鍍層分析解決方案。

由上海智能新能源汽車科創(chuàng)功能平臺(tái)有限公司主辦的“2022 新能源鋰離子電池失效分析解析與測(cè)試技術(shù)研討會(huì)”將于 2022 年 12 月 13 - 14 日在上海國(guó)際汽車城瑞立酒店舉行。

本次會(huì)議聚焦新能源鋰離子電池全生命周期失效分析解析技術(shù)，重 點(diǎn)關(guān)注不同體系、不同類型電池的熱失控機(jī)理、失效原因、材料表征、電解液及氣體分析等問(wèn)題，與參會(huì)嘉賓們一起開(kāi)展深度地技術(shù)交流。

飛納作為全 球領(lǐng)先的桌面掃描電子顯微鏡供應(yīng)商，專注于為亞微米級(jí)和納米級(jí)應(yīng)用的成像提供解決方案。針對(duì)鋰電行業(yè)痛點(diǎn)，我們?cè)阡囯娗鍧嵍确治鲆约案咄侩姌O材料表面包覆加工生產(chǎn)方面為客戶提供自動(dòng)化解決方案，幫助研究人員更加高效地完成研發(fā)與生產(chǎn)工作。歡迎各位蒞臨飛納展臺(tái)和我們共同探討交流。與此同時(shí)，我們也為與會(huì)人員準(zhǔn)備了精美禮品。飛納定制保溫杯、樂(lè)高、三合一數(shù)據(jù)線等禮物等您來(lái)拿！

飛納電鏡展位號(hào)：12號(hào)

會(huì)議時(shí)間：2022 年 12 月 13 - 14 日

會(huì)議地點(diǎn)：上海國(guó)際汽車城瑞立酒店

會(huì)議報(bào)告

鋰電池中的銅、鋅、鐵等金屬異物可能導(dǎo)致嚴(yán)重的安全事故，對(duì)金屬異物的管控也已成為行業(yè)共識(shí)。在本次大會(huì)中，我們也將圍繞這一問(wèn)題帶來(lái)精彩的報(bào)告，介紹飛納電鏡在金屬異物管控的最 新應(yīng)用進(jìn)展，進(jìn)而幫助改善生產(chǎn)條件，減少安全事故的發(fā)生。

報(bào)告主題

掃描電鏡在鋰電池金屬異物管控中的應(yīng)用

主講人

劉曉龍

飛納電鏡清潔度分析系統(tǒng)產(chǎn)品經(jīng)理

報(bào)告時(shí)間

2022年12月14日 15:00-15:30

報(bào)告地點(diǎn)

上海國(guó)際汽車城瑞立酒店二樓會(huì)議報(bào)告廳

展品推薦

ParticleX LB 鋰電清潔度分析系統(tǒng)

隨著行業(yè)法規(guī)的逐步深入，工藝技術(shù)的逐漸升級(jí)，清潔度的要求也越來(lái)越高?？刂飘a(chǎn)品清潔度的重要性和復(fù)雜性也越來(lái)越被大家所關(guān)注。

2020 年，第三屆汽車零部件清潔度控制技術(shù)峰會(huì)將帶領(lǐng)大家：

●聚焦 汽車清潔度的法規(guī)和政策

●關(guān)注 清潔度控制新工藝和新設(shè)備

●跟蹤 關(guān)鍵零部件清潔度的要求提升和優(yōu)化

●分享 汽車行業(yè)清潔度控制成果和經(jīng)驗(yàn)

●交流 汽車領(lǐng)域的清潔度新挑戰(zhàn)

●開(kāi)發(fā) 清潔度新市場(chǎng)

會(huì)議時(shí)間：2020 年 9 月 24 日 - 25 日

會(huì)議地點(diǎn)：上海金地嵐韻酒店

飛納會(huì)議報(bào)告

報(bào)告主題：

基于電鏡的汽車清潔度和鋰電清潔度自動(dòng)化檢測(cè)方案——Particle X

報(bào)告時(shí)間：

2020 年 9 月 25 日上午 10:00-10:30

Phenom ParticleX 全自動(dòng)清潔度分析系統(tǒng)集成了掃描電鏡和能譜儀，相比傳統(tǒng)的重量法和光鏡法能更有效率地監(jiān)控過(guò)程清潔度。傳統(tǒng)的方法只能提供清潔部件上大顆粒灰塵和碎片的總體重量或形狀信息，而不能全面分辨顆粒的污染源。Phenom ParticleX 取代傳統(tǒng)顆粒物清潔度檢測(cè)方法，允許工程師看見(jiàn)微米尺寸的顆粒并確定其化學(xué)成分，從而判斷出污染源。

使用自動(dòng)化 SEM-EDX 解決方案實(shí)現(xiàn)粒度、形狀和化學(xué)成分的快速、便捷分析：

●顆粒粒度分布 – zui全面的顆粒粒度范圍

●顆粒形貌分析 – 多種測(cè)量方法可供選擇

●雜質(zhì)顆粒檢測(cè) – 可檢測(cè)出數(shù)千顆粒中夾雜的微量雜質(zhì)顆粒

●高分辨率成像 – 10 nm 分辨率

參加第三屆汽車零部件清潔度控制技術(shù)峰會(huì)與飛納電鏡一起探究清潔度檢測(cè)最 新解決方案！