由上海智能新能源汽車科創(chuàng)功能平臺有限公司主辦的“2022 新能源鋰離子電池失效分析解析與測試技術(shù)研討會”將于 2022 年 12 月 13 - 14 日在上海國際汽車城瑞立酒店舉行。

本次會議聚焦新能源鋰離子電池全生命周期失效分析解析技術(shù)，重 點關(guān)注不同體系、不同類型電池的熱失控機理、失效原因、材料表征、電解液及氣體分析等問題，與參會嘉賓們一起開展深度地技術(shù)交流。

飛納作為全 球領(lǐng)先的桌面掃描電子顯微鏡供應(yīng)商，專注于為亞微米級和納米級應(yīng)用的成像提供解決方案。針對鋰電行業(yè)痛點，我們在鋰電清潔度分析以及高通量電極材料表面包覆加工生產(chǎn)方面為客戶提供自動化解決方案，幫助研究人員更加高效地完成研發(fā)與生產(chǎn)工作。歡迎各位蒞臨飛納展臺和我們共同探討交流。與此同時，我們也為與會人員準(zhǔn)備了精美禮品。飛納定制保溫杯、樂高、三合一數(shù)據(jù)線等禮物等您來拿！

飛納電鏡展位號：12號

會議時間：2022 年 12 月 13 - 14 日

會議地點：上海國際汽車城瑞立酒店

會議報告

鋰電池中的銅、鋅、鐵等金屬異物可能導(dǎo)致嚴(yán)重的安全事故，對金屬異物的管控也已成為行業(yè)共識。在本次大會中，我們也將圍繞這一問題帶來精彩的報告，介紹飛納電鏡在金屬異物管控的最 新應(yīng)用進(jìn)展，進(jìn)而幫助改善生產(chǎn)條件，減少安全事故的發(fā)生。

報告主題

掃描電鏡在鋰電池金屬異物管控中的應(yīng)用

主講人

劉曉龍

飛納電鏡清潔度分析系統(tǒng)產(chǎn)品經(jīng)理

報告時間

2022年12月14日 15:00-15:30

報告地點

上海國際汽車城瑞立酒店二樓會議報告廳

展品推薦

ParticleX LB 鋰電清潔度分析系統(tǒng)

會議邀請 

“西北五省第十三屆電鏡學(xué)術(shù)交流及技術(shù)研討會”將于 2023 年 6 月 9 日 - 12 日在甘肅省蘭州市蘭州大學(xué)舉辦。此次會議是西北五省規(guī)模最 大、影響力最 強的電子顯微學(xué)盛會。本次會議將采用會前培訓(xùn)、會議中專家報告、學(xué)術(shù)座談、廠商報告和廠家現(xiàn)場設(shè)備使用技術(shù)培訓(xùn)形式。專家學(xué)者將齊聚一堂，共赴這場電鏡盛會。

會議時間：2023 年 6 月 9 日 - 12 日

會議地點：蘭州大學(xué)電鏡中心

復(fù)納科技致力于為實驗室樣品制備與檢測提供智能、高效、可靠的高科技解決方案。其中飛納臺式掃描電鏡作為全 球 領(lǐng) 先的桌面式掃描電鏡，憑借操作簡單、成像質(zhì)量高和效率高等優(yōu)勢成為眾多研究人員的選擇。在本次會議中，我們也將現(xiàn)場展示飛納電鏡能譜一體機 ProX，由工程師現(xiàn)場開展電鏡技能培訓(xùn)與問題答疑，歡迎大家前來上機測試。

會議報告/ FUNA

本次會議中，復(fù)納科技產(chǎn)品經(jīng)理萬正宇將帶來“DENSsolutions 基于 MEMS 的原位透射電鏡技術(shù)發(fā)展 ＆ STEM 在飛納臺式電鏡上的應(yīng)用”主題報告，為大家分享最 新的原位實驗方案與 STEM 表征。歡迎各位專家老師和我們一起探討交流！

01

Pharos - STEM

作為全 球 唯 一臺式場發(fā)射 Pharos-STEM 電子顯微鏡，在較低的加速電壓下，可減少電子束對樣品的損傷，顯著提高了圖像的襯度。Pharos STEM 電子顯微鏡，利用 FEG 高亮度電子源，可在透射模式下對薄樣品進(jìn)行成像。專用的樣品夾可輕松裝載常規(guī) 3mm 直徑透射電鏡 (TEM) 載網(wǎng)，實現(xiàn)樣品的快速、安全切換。STEM 樣品杯可提供明場 (BF) 、暗場 (DF) 和高角度環(huán)形暗場 (HAADF) 像，并支持自定義選擇成像模式。

02

DENSsolutions

DENS 產(chǎn)品可以為原位 TEM 樣品施加外界刺激，捕捉 TEM 樣品在真實環(huán)境下的動態(tài)現(xiàn)象。目前提供的四種原位實驗方案：Wildfire TEM 原位加熱方案、Lightning TEM 原位熱電方案、Climate TEM 原位氣相加熱方案和 Stream TEM 原位液相加熱 / 加電方案，已經(jīng)可以在 TEM 中引入氣、液、熱、電等多種狀態(tài)。

03

Technoorg Linda

復(fù)納科技擁有 Technoorg Linda 離子研磨儀，采用離子束技術(shù)，可對樣品進(jìn)行快速研磨及表面精細(xì)加工和最 終拋光。是 SEM / TEM 樣品表面處理的有力工具。

04

NEOSCAN

Neoscan 臺式顯微 CT 采用先進(jìn) X 射線成像技術(shù)，分辨率高，對場地要求少，緊湊便攜，適用于實驗室和研究機構(gòu)日常使用。

歡迎各位老師蒞臨展位與我們探討交流，我們隨時為您提供專業(yè)的解答與支持，現(xiàn)場也有精美小禮品相送噢！

一般來說，芯片在研發(fā)、生產(chǎn)過程中出現(xiàn)錯誤是不可避免的，哪里出了問題不僅要解決問題，還要思考為什么會出現(xiàn)問題。隨著人們對產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性要求的不斷提高，失效分析工作也顯得越來越重要。

失效分析主要步驟和內(nèi)容  

• 芯片開封

• SEM 掃描電鏡 / EDX 成分分析——飛納電鏡

• FIB 聚焦離子束顯微鏡

• 定點/非定點芯片研磨——離子研磨

• 鐳射切割

• EMMI 偵測

• OBIRCH 應(yīng)用（鐳射光束誘發(fā)阻抗值變化測試）

• LG 液晶熱點偵測

• X-Ray 無損偵測

• SAM (SAT) 超聲波探傷

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 納問檢測服務(wù) 

納問實驗室以 “高通量、最便捷、質(zhì)量高、服務(wù)好” 為宗旨，為客戶提供最 優(yōu)質(zhì)的掃描電鏡測試服務(wù)。提供包括常規(guī)掃描電鏡形貌 / 能譜檢測，SEM 粒徑 / 孔洞 / 纖維 / 粗糙度分析?？商峁┍成⑸潆娮酉?/ 二次電子像 + EDS 能譜分析，同時在配套的功能軟件的幫助下，獲得更為全面的樣品信息。

彩蛋來啦！

本次活動將抽取一名幸運觀眾，為您免費測樣。

測試使用設(shè)備：僅限使用飛納臺式掃描電鏡

申請方式：需將您的樣品圖片（.jpg）及拍攝需求（文字信息）及聯(lián)系方式（單位姓名電話），發(fā)送至聯(lián)系人郵箱

聯(lián)系人：Jessica

郵箱：jessica.li@phenom-china.com

復(fù)納

INVITATION

微納科技與先進(jìn)材料創(chuàng)新大會（2023）將于 6 月 10 日 - 12 日在重慶舉辦。本次會議旨在凝聚優(yōu)勢力量、加強納米科學(xué)與微納制造技術(shù)的基礎(chǔ)研究與應(yīng)用研究，促進(jìn)多學(xué)科交叉融合，促進(jìn)先進(jìn)材料產(chǎn)業(yè)化的發(fā)展。

時間：2023 年 6 月 10 日 - 12 日

地點：重慶兩江云頂大酒店

復(fù)納科技展位號：7 號

新興的微納材料在電子、通信和物聯(lián)網(wǎng)、能源存儲、化工和燃料生產(chǎn)、醫(yī)療保健、藥物輸送等領(lǐng)域應(yīng)用廣泛。納米材料的性質(zhì)與其組成和表面形貌有很大的關(guān)系，復(fù)納科技擁有一系列高精尖的分析檢測儀器與先進(jìn)的解決方案，可以對納米材料進(jìn)行分析表征和改性。歡迎各位老師同行蒞臨【7】號展位，和我們一起探討交流！

莊思濛 復(fù)納科技產(chǎn)品經(jīng)理

報告時間：

6月12日 16:05-16:25

本次會議中，復(fù)納科技產(chǎn)品經(jīng)理莊思濛將在“微納技術(shù)在新能源電池領(lǐng)域中的應(yīng)用技術(shù)”分會場帶來《電池粉末原子層沉積包覆改性及原位電鏡表征方案》的主題報告。

1、Phenom-飛納臺式掃描電鏡

飛納臺式掃描電鏡操作簡單，效率高，成像質(zhì)量高，其優(yōu)異的低真空模式可實現(xiàn)無需噴金直接觀察不導(dǎo)電樣品。最 新的第二代場發(fā)射掃描電鏡 Phenom Pharos G2 分辨率優(yōu)于 1.5nm，是分辨率最 高的臺式掃描電鏡，是納米材料表征的強有力工具。

Phenom Pharos G2

飛納臺式場發(fā)射掃描電鏡

Phenom XL G2

飛納臺式掃描電鏡大樣品室卓 越版

Phenom ProX

飛納臺式掃描電鏡能譜一體機

2、Forge Nano-原子層沉積系統(tǒng)

ALD 原子層沉積技術(shù)已被證明可用于多種組分以及納米結(jié)構(gòu)的制備，包括單原子 / 團簇催化劑、鋰電材料表面包覆等等。Forge Nano 設(shè)備基于 ALD 工藝可實現(xiàn)從毫克到千噸級的粉末包覆處理量，能夠有效提高電池化學(xué)性能與安全性。

3、DENSsolutions-TEM 原位實驗方案

DENS 產(chǎn)品可以為 TEM 樣品施加外界刺激，實現(xiàn)在 TEM 中引入氣、液、熱、電等多種條件，捕捉 TEM 樣品在真實環(huán)境下的動態(tài)現(xiàn)象。目前提供的四種原位實驗方案：Wildfire TEM 原位加熱方案、Lightning TEM 原位熱電方案、Climate TEM 原位氣相加熱方案和 Stream TEM 原位液相加熱 / 加電方案。

Wildfire 原位加熱樣品桿

Lightning 原位熱電樣品桿

Lightning 原位熱電樣品桿

Stream 原位液相加熱/加電樣品桿

Climate 原位氣相加熱樣品桿

4、VSParticle-全自動納米研究平臺

VSParticle 設(shè)備采用火花燒蝕制備納米顆粒的技術(shù)，可對產(chǎn)生的顆粒進(jìn)行粒徑的控制，從而獲得不同粒徑中位值的單分散納米氣溶膠。此外該技術(shù)也能用于進(jìn)行快速打印以及粉末表面的納米沉積。

歡迎各位老師蒞臨展位與我們探討交流，我們將隨時為您提供專業(yè)的解答與支持，現(xiàn)場也有精美小禮品相送噢！

2023 年 6 月 15 - 16 日，行業(yè)矚目的第六屆汽車零部件清潔度控制技術(shù)峰會將在寧波舉辦。本次峰會是一場汽車零部件行業(yè)的重要盛事，旨在推動清潔度控制技術(shù)的創(chuàng)新和應(yīng)用，搭建行業(yè)交流平臺，加強行業(yè)間的合作。此次峰會的參與群體廣泛，與會者將包括業(yè)內(nèi)的專家學(xué)者、技術(shù)研發(fā)人員、質(zhì)量管理專家以及行業(yè)領(lǐng)軍企業(yè)的代表，共同探討汽車零部件清潔度控制技術(shù)的最 新趨勢、挑戰(zhàn)和解決方案。

時間：2023 年 6 月 15 日 - 16 日

地點：寧波北侖世茂希爾頓逸林酒店

清潔度一般指汽車零件、總成及整機等部位被顆粒物污染的程度，用規(guī)定的方法從特定的部件采集到顆粒物的質(zhì)量、大小、形狀、數(shù)量、材料種類等特征參數(shù)來表征。具體采用何種方法及指標(biāo)對顆粒物進(jìn)行測試分析，取決于不同顆粒物對部件性能的影響程度及清潔度控制精度要求。

飛納電鏡產(chǎn)品經(jīng)理

劉曉龍

本次會議中，飛納電鏡產(chǎn)品經(jīng)理劉曉龍將帶來“動力電池中各類金屬異物的影響及其檢測方法”的主題報告，為大家分享飛納在清潔度檢測的最 新解決方案。

報告時間：

2023 年 6 月 16 日上午 09:30-10:00

飛納 ParticleX 全自動汽車清潔度分析系統(tǒng)，以掃描電鏡和能譜儀為硬件基礎(chǔ)，可以全自動對顆?；螂s質(zhì)進(jìn)行快速識別、分析和分類統(tǒng)計，允許工程師看見微米尺寸的顆粒并確定其化學(xué)成分，從而判斷出污染源，為客戶的研發(fā)以及生產(chǎn)提供快速、準(zhǔn)確和可靠的定量數(shù)據(jù)支持。

該過程完全符合 ISO 16232 和 VDA 19 要求。只需一鍵，即可自動分析 4 片直徑 47mm 的濾膜，無需人員值守，可連續(xù)運行，并且一鍵生成報告，更有效率地監(jiān)控過程清潔度。

ParticleX汽車清潔度分析

在傳統(tǒng)燃油汽車領(lǐng)域，硬度較高的顆粒物（如Al2O3、SiO2 等）危害性更大，因此受到各大主機廠商的特別關(guān)注，在其清潔度檢測標(biāo)準(zhǔn)中，往往把硬質(zhì)顆粒物作為第 一優(yōu)先關(guān)注點。從燃油汽車到電動汽車，電池成本占到整車成本的 30% 以上，清潔度檢測的關(guān)注點也發(fā)生了改變。對動力電池生產(chǎn)來說，金屬異物（如銅、鋅、鐵、鉻、鎳等）會導(dǎo)致電池短路，有極大的安全隱患，需要嚴(yán)格管控和自動快速的檢測方法。

ParticleX Battery

SEMICON CHINA 2023 將于 6 月 29 日 - 7 月 1 日在上海新國際博覽中心盛大召開。這是一個覆蓋芯片設(shè)計、制造、封測、設(shè)備、材料、光伏、顯示等全產(chǎn)業(yè)鏈攜手合作，全 球規(guī)模最 大、最 具影響力的半導(dǎo)體專業(yè)展。來自五湖 四海的專家學(xué)者將齊聚一堂，共赴這場半導(dǎo)體嘉年華！

時間

2023 年 6 月 29 日 - 7 月 1 日

地點

上海新國際博覽中心

展位：E2 館 E2549 號

半導(dǎo)體材料一直以來都是芯片制造的“基石”，是推動集成電路產(chǎn)業(yè)發(fā)展創(chuàng)新的重要基礎(chǔ)。不管是制造還是封測，半導(dǎo)體材料幾乎貫穿整個集成電路制造過程。硅是今天最常用的半導(dǎo)體材料，其他還有各種復(fù)合半導(dǎo)體材料。應(yīng)對如此多樣的材料以及復(fù)雜的工藝，需要耗費大量時間精力。

飛納電鏡可以滿足多樣化的材料檢測需求以及復(fù)雜的制程工藝管控，可以實現(xiàn)缺陷和形貌觀察以及物性失效分析，為您提供高效、簡單、精確的半導(dǎo)體解決方案，幫助您提升工藝良率。現(xiàn)場也將有 Phenom XL G2 大樣品室卓 越版展出，歡迎各位老師蒞臨【E2 館 E2549 號】展臺測試，共同探討交流。

應(yīng)用案例

IC 封裝測試失效分析

1、對失效位置進(jìn)行切割

2、離子研磨儀中進(jìn)行切割

3、位置1. 放大后發(fā)現(xiàn)此處未連接

4、位置2. 放大后發(fā)現(xiàn)此處開裂

為推進(jìn)公 安刑事技術(shù)“專業(yè)化、規(guī)范化、信息化、職業(yè)化”建設(shè)，推動指紋檢驗技術(shù)建設(shè)發(fā)展與實戰(zhàn)應(yīng)用水平，由公 安部鑒定中心主辦，江蘇省公 安廳、揚州市公 安局承辦，北京瑞源弘德科技有限公 司（弘德網(wǎng)）協(xié)辦的“第七屆全國指紋檢驗技術(shù)建設(shè)發(fā)展與實戰(zhàn)應(yīng)用研討會”（以下簡稱指紋研討會）將于 2023 年 4 月 20 日 - 21 日在江蘇省揚州市舉辦。

會議時間：2023 年 4 月 20 日 - 21 日

會議地點：揚州會議中心

由于當(dāng)代微量物證越來越向綜合檢驗的方向發(fā)展，利用掃描電鏡進(jìn)行微觀形態(tài)和元素成分檢驗已成為必不可少的環(huán)節(jié)。飛納電鏡可以同時提供物證的微觀形貌和元素成分信息，實現(xiàn)快速微量物證鑒定。在交通事故痕跡鑒定、火災(zāi)爆 炸 物微量物證鑒定、指紋鑒定、毒品輔助鑒定、法醫(yī)硅藻識別、槍支殘留物鑒定等方面有著廣泛應(yīng)用。我們致力于提供高效的高科技辦案工具，為公 安行業(yè)賦能。歡迎各位老師朋友們蒞臨展臺，和我們一起探討交流！

溺亡案件中，硅藻作為重要物證，其檢測往往耗時耗力。硅藻 AI 自動檢測系統(tǒng)（電鏡）Diatom AI 基于掃描電鏡，依托刑科所權(quán)威法醫(yī)科研平臺，融合最 先 進(jìn)的深度學(xué)習(xí)人工智能技術(shù)開發(fā)完成，可以自動識別不同種類、不同大小的硅藻，并對其進(jìn)行統(tǒng)計分析。硅藻 AI 自動檢測系統(tǒng)（光鏡）Diatom AI OM 是基于光學(xué)顯微鏡的自動掃描系統(tǒng)，搭載與廣州市物證中心研發(fā)的硅藻數(shù)據(jù)庫，實現(xiàn)硅藻的全自動檢測，助力溺亡案件的偵破真相。

槍擊殘留物自動分析系統(tǒng) Phenom GSR 基于掃描電鏡的背散射成像，掃描樣品發(fā)現(xiàn)“可疑”的 GSR 顆粒，并結(jié)合能譜識別該顆粒的元素。該系統(tǒng)軟件硬件一體化的設(shè)計，實現(xiàn)了用戶操作的便利性、可靠性和快速分析，是槍支犯罪案件分析的利器。

飛納電鏡第三場線下用戶培訓(xùn)會要來廣州啦！本次培訓(xùn)會誠摯邀請各位用戶朋友們來到飛納電鏡最 佳 Demo 室——廣州國際生物島，讓我們一起開啟為期兩天的電鏡培訓(xùn)之旅吧！

* 若有時間沖突，請于培訓(xùn)開始前告知。

培訓(xùn)·流程

6月29日

6月30日

期待您的到來！

隨著行業(yè)法規(guī)的逐步深入，工藝技術(shù)的逐漸升級，清潔度的要求也越來越高?？刂飘a(chǎn)品清潔度的重要性和復(fù)雜性也越來越被大家所關(guān)注。

2020 年，第三屆汽車零部件清潔度控制技術(shù)峰會將帶領(lǐng)大家：

●聚焦 汽車清潔度的法規(guī)和政策

●關(guān)注 清潔度控制新工藝和新設(shè)備

●跟蹤 關(guān)鍵零部件清潔度的要求提升和優(yōu)化

●分享 汽車行業(yè)清潔度控制成果和經(jīng)驗

●交流 汽車領(lǐng)域的清潔度新挑戰(zhàn)

●開發(fā) 清潔度新市場

會議時間：2020 年 9 月 24 日 - 25 日

會議地點：上海金地嵐韻酒店

飛納會議報告

報告主題：

基于電鏡的汽車清潔度和鋰電清潔度自動化檢測方案——Particle X

報告時間：

2020 年 9 月 25 日上午 10:00-10:30

Phenom ParticleX 全自動清潔度分析系統(tǒng)集成了掃描電鏡和能譜儀，相比傳統(tǒng)的重量法和光鏡法能更有效率地監(jiān)控過程清潔度。傳統(tǒng)的方法只能提供清潔部件上大顆?；覊m和碎片的總體重量或形狀信息，而不能全面分辨顆粒的污染源。Phenom ParticleX 取代傳統(tǒng)顆粒物清潔度檢測方法，允許工程師看見微米尺寸的顆粒并確定其化學(xué)成分，從而判斷出污染源。

使用自動化 SEM-EDX 解決方案實現(xiàn)粒度、形狀和化學(xué)成分的快速、便捷分析：

●顆粒粒度分布 – zui全面的顆粒粒度范圍

●顆粒形貌分析 – 多種測量方法可供選擇

●雜質(zhì)顆粒檢測 – 可檢測出數(shù)千顆粒中夾雜的微量雜質(zhì)顆粒

●高分辨率成像 – 10 nm 分辨率

參加第三屆汽車零部件清潔度控制技術(shù)峰會與飛納電鏡一起探究清潔度檢測最 新解決方案！

原定于2022年11月9日~11日在南京舉辦“2022表面分析技術(shù)與應(yīng)用研討會年會”，主辦方前期準(zhǔn)備已就緒，但由于南京疫情原因，為避免給參會者帶來不必要的風(fēng)險，主辦方?jīng)Q定將本次會議改為線上直播的形式進(jìn)行。

本次會議的報告時間依舊安排在11月10日全天，將通過線上直播的形式進(jìn)行。

直播平臺

騰訊會議：814-558-036

鏈接：https://meeting.tencent.com/dm/OVwtmxml0BiS

時間：2022年11月10日 9:00-17:10

會議日程

掃碼登記

會務(wù)組聯(lián)系方式

張偉 18500084171 

william.zhang@coretechint.com

吳婷 13167361283 

noreen.wu@coretechint.com