介電測試儀出阻抗嗎?

影響電阻和介電特性的因素

4.2.1總則

下列參數(shù)可能會對電氣絕緣材料的介電和電阻特性產(chǎn)生影響,任何試驗報告都應(yīng)列出這些參數(shù),具

體如下:

時間;

一頻率;

溫度;

濕度;

一電場強度;

電壓;

一條件處理;

電極材料。

本部分對這些參數(shù)分別進行具體說明。

4.2.2時間

如3.11所述,極化效應(yīng)與時間密切相關(guān)。對任何一種極化而言,可指定一個松弛時間τ,在該松弛

時間內(nèi)通過時域獲取的測量值(如電阻特性),取決于施加電壓的時間。

GB/T31838.1-2015/IEC62631-1:201

有些材料的松弛時間可能會相當(dāng)長(至少要幾個月之久)。為得到正確結(jié)果,可能有必要花費很長吋間來實施測量。然而出于實踐原因,對電阻特性的測量要在電壓施加1min后進行,這要求能夠接受

這“l(fā)min后測量值”與電氣絕緣材料電阻真實值之間的誤差。

注:電阻特性可能會明顯受到充電電流的影響,并且充電電流的時間取決于電壓源的內(nèi)部電阻。

4.2.3頻率

由于介電常數(shù)與損耗因數(shù)在大頻率范圍以上不能保持恒定,所以有必要在電介質(zhì)材料被應(yīng)用的頻率下去測量介電常數(shù)與損耗因數(shù)

如圖3所示,在特定頻率下,損耗指數(shù)ε"在松弛轉(zhuǎn)變中達到了Z大值。在該松弛轉(zhuǎn)變中,介電常數(shù)

ε,'從較高值ε。(靜態(tài))下降到較低值ε灬(頻率無窮大)。這種現(xiàn)象是由極化對時間依賴所造成的(見3.6),

可用松弛時間τ來描述,見式(13):

然而,由于與極化有關(guān),實際上會出現(xiàn)多于一個的松弛轉(zhuǎn)變

介質(zhì)損耗因數(shù)tan0也與頻率相關(guān)。根據(jù)3.3.4給出的定義,以及隨頻率升高而下降的ε,,相比損耗因數(shù),tan的Z大值通過式(14)轉(zhuǎn)向更高頻率

注:時間與頻率依賴性是彼此相關(guān)的,德拜的理論對此作了描述。他的著作對這些問題提供了更多參考資料。

4.2.4溫度

隨著溫度的升高,介質(zhì)損耗因數(shù)可能會出現(xiàn)一個或多個Z大值(見圖4),這是因為溫度會影響極化

(見3.6)和松弛時間的縮短。由此,介電常數(shù)隨溫度而逐步增大。

另外,在高溫下離子和電子等粒子可以更自由地運動,使電導(dǎo)率升高

同理,絕緣電阻值和表面或體積電阻率也與溫度密切相關(guān)。

注1:熱老化效應(yīng)也會對材料的介質(zhì)損耗因數(shù)和電阻特性產(chǎn)生影響。對電氣絕緣材料和系統(tǒng)的耐熱性評估分別參照IEC60216-1和IEC60505,可能會有助于測量介電和電阻特性。

注2:在升溫情況下,由材料電阻特性產(chǎn)生的傳導(dǎo)電流可能會導(dǎo)致介質(zhì)損耗因數(shù)的明顯增大[見式(7)]

4.2.5濕度

所有介電和電阻特性,如介電常數(shù)、損耗因數(shù)、體積和表面電阻率,都會受濕度影響。因此不論在試驗前后,對試樣的條件處理,如對濕度的控制,都至關(guān)重要。

4.2.6電場強度

如果沒有電子發(fā)射或相關(guān)效應(yīng)控制,除界面極化外,所有種類的介電極化效應(yīng)都和施加電場強度呈近似線性的關(guān)系。當(dāng)界面極化存在時,自由離子的數(shù)量隨電場強度增多,介質(zhì)損耗因數(shù)Z大值和位置發(fā)

生改變。若沒有電離效應(yīng),損耗和介電常數(shù)因數(shù)對電場強度的依賴性不大。

4.2.7電壓

當(dāng)電壓或電場強度升高時,多種非線性現(xiàn)象可能發(fā)生。與時間相關(guān)的充電電流也與電壓有關(guān)。

4.2.8條件處理

大部分固體絕緣材料的電阻和介電特性都會受到以上列出的參數(shù)影響。因此,有必要按照ISO291和ISO558中所規(guī)定的內(nèi)容,對在試驗前后試樣條件處理程序的種類與持續(xù)時間進行詳細說明。

試驗前和試驗中的shou選條件為:296K士2K的溫度和50%±5%的相對濕度。

表面條件會影響材料性能,清潔試樣表面會影響試驗結(jié)果。然而在特定情況下,有必要在條件處理

前對試樣進行清潔。

4.2.9試樣

試樣的形狀和尺寸會影響測量值。試樣的Z佳尺寸應(yīng)參照GB/T31838的介電特性和電阻特性相

GB/T31838.1-2015/IEC62631-1:201

關(guān)部分的試驗過程中所使用的尺寸進行選取。然而,由于形狀和尺寸與絕緣材料的種類及其應(yīng)用密切

相關(guān),可能會出現(xiàn)形狀應(yīng)由適當(dāng)產(chǎn)品標準來決定的情況。

注:在這些標準未出版前,GB/T1409-2006、GB/T1410-2006、GB/T10064-2006、GB/T10581-2006、

IEC60377-1:1973和IEC603772:1977中所引用的尺寸仍然有效。

4.2.10電極材料

電極材料的選擇對獲取可靠的測量結(jié)果而言十分重要,將在第5章中詳細說明。

5電極系統(tǒng)

絕緣材料的電極應(yīng)是一種易于涂覆到試樣表面的材料,能與試樣緊密接觸,不會因電極電阻或試樣

污染而出現(xiàn)不可預(yù)見的誤差。電極材料在試驗條件下還應(yīng)具有抗腐蝕性。

注:對于交流電測量時,一種“非接觸電極”有時會和具有足夠低的表面電導(dǎo)率的試樣一同使用。

為了避免在測量介電和電阻特性時出現(xiàn)嚴重錯誤,應(yīng)謹慎確定電極的形狀和試樣的厚度。有關(guān)適用于特定種類測量電極系統(tǒng)的詳細信息,可參照GB/T31838的有關(guān)試驗程序部分的內(nèi)容。

6試驗程序

試驗程序參照GB/T31838的相關(guān)部分。

根據(jù)給定的試驗方法,任何可靠的試驗設(shè)備或可使用的儀器都可用于測定上述提到的性質(zhì)。不過,

對試驗儀器的精確度應(yīng)加以規(guī)定,以符合試驗材料的要求。

高、低溫介電測量系統(tǒng)用于分析寬頻、高、低溫環(huán)境條件下被測樣品的阻抗Z、電抗X、導(dǎo)納Y、電導(dǎo)G、電納B、電感L、介電損耗D、品質(zhì)因數(shù)Q等物理量，同時還可以分析被測樣品隨溫度、頻率、時間、偏壓變化的曲線，是專業(yè)從事材料介電性能、溫度弛豫、電弛豫研究的理想測試工具。用戶通過軟件可以直接得出介電間、頻率、偏壓變化的曲線，高溫介電測量系統(tǒng)是功能材料測試必備電學(xué)性能評估設(shè)備。系統(tǒng)搭配Labview系統(tǒng)開發(fā)的hcpro軟件，具備彈性的自定義功能，可進行頻率、溫度、時間、測試項等設(shè)置，符合材料測試多樣化測試的需求。

本系統(tǒng)主要用于材料在不同溫度不同頻率下的電學(xué)性能測試，系統(tǒng)包含高、低溫環(huán)境、阻抗分析儀、測試夾具，測試軟件于一體，可測試材料的介電常數(shù)，介質(zhì)損耗，阻抗譜Co-Co圖，機電耦合系數(shù)等，同時可分析被測樣品隨溫度，頻率，時間變化的曲線，測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項目要求選購；,實現(xiàn)了自動完成不同環(huán)境下的阻抗、介電參數(shù)的測量與分析。另外，還可根據(jù)用戶提供的其他LCR品牌或型號完成定制需求。軟件可根據(jù)實驗方案設(shè)計，通過測量C和D值，自動完成介電常數(shù)和介電損耗隨頻率、電壓、偏壓、溫度、時間多維變化的曲線。一次測量，同時輸出，測量效率高、數(shù)據(jù)豐富多樣。

高溫介電溫譜儀是什么？

 　　高溫介電溫譜儀是一款專門用于評估電介質(zhì)材料高溫介電機制（材料極化、儲能、馳豫、相變、微結(jié)構(gòu)變化、分子團重新取向等）的重要測量系統(tǒng)，該系統(tǒng)通過測量介電常數(shù)、介電損耗和阻抗、相位隨溫度、頻率變化的關(guān)系，直接得出電介質(zhì)材料的溫度譜、頻率譜、阻抗譜、Cole-Cole圖等重要的物理性能參數(shù)。高溫介電溫譜儀是科研實驗室新材料的開發(fā)和研究、生產(chǎn)質(zhì)量控制和生產(chǎn)工藝優(yōu)化的重要工具。

　　高溫介電溫譜儀從專業(yè)角度來說，其實就是高溫介電溫譜測量系統(tǒng)。高溫介電溫譜測量系統(tǒng)是為了滿足材料在高溫環(huán)境下的介電性能測量需求而設(shè)計的。它由硬件設(shè)備和測量軟件組成，包括高溫測試平臺、高溫測試夾具、阻抗分析儀和高溫介電測量系統(tǒng)軟件四個組成部分。高溫測試平臺是為樣品提供一個高溫環(huán)境；高溫測試夾具提供待測試樣品的測試平臺；阻抗分析儀則負責(zé)測試各組參數(shù)數(shù)據(jù)。Z后，再通過測量軟件將這些硬件設(shè)備的功能整合在一起，形成一套由實驗方案設(shè)計到溫度控制、參數(shù)測量、圖形數(shù)據(jù)顯示與數(shù)據(jù)分析于一體的高溫介電溫譜測量系統(tǒng)。

　　高溫介電溫譜測量系統(tǒng)就是可以在高溫、真空、氣氛測量條件下測量電介質(zhì)材料的介電常數(shù)和損耗、阻抗譜COLE-COLE圖、機電耦合系數(shù)Kp的科研儀器設(shè)備。除高溫介電溫譜測量系統(tǒng)外，北京華測試驗儀器有限公司還有高低溫介電溫譜測量系統(tǒng)、低溫介電溫譜測量系統(tǒng)（由低溫真空探針臺和介電測量套件組成）等。