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  gj88127 2016-10-27 00:00:00

  透射電鏡能區(qū)分兩種不同的金屬嗎 以前也畢設(shè)也做過電鏡，是大腸桿菌的細(xì)胞表面的納米金屬顆粒，掃描電鏡，透射電鏡兩個都做了.Z后寫論文的時候就用了掃描電鏡的圖，你說看主要做形貌，凡是需要看物質(zhì)表面形貌的，都可以用掃描電鏡，不過要要注意掃描電鏡目前分辨率，看看能否達(dá)到實驗要求. 兩種測試手段的適用情況 凡是需要看物質(zhì)表面形貌的，都可以用掃描電鏡，不過Z好的掃描電鏡目前分辨率在0.1nm左右.如果需要進一步觀察表面形貌，需要使用掃描探針顯微鏡SPM（AFM，STM). 如果需要對物質(zhì)內(nèi)部晶體或者原子結(jié)構(gòu)進行了解，需要使用TEM.例如鋼鐵材料的晶格缺陷，細(xì)胞內(nèi)部的組織變化.當(dāng)然很多時候?qū)τ趎m 材料的形態(tài)也使用TEM觀察. 區(qū)別 掃描電鏡觀察的是樣品表面的形態(tài)，而透射電鏡是觀察樣品結(jié)構(gòu)形態(tài)的.一般情況下，透射電鏡放大倍數(shù)更大，真空要求也更高. 掃描電鏡可以看比較“大”的樣品，Z大可以達(dá)到直徑200mm以上，高度80mm左右，而透射電鏡的樣品只能放在直徑3mm左右的銅網(wǎng)上進行觀察.

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  WT916746937 2016-10-28 00:00:00

  透射電鏡能區(qū)分兩種不同的金屬。透射電鏡可以拍攝晶體衍射花樣圖，然后得出金屬晶格類型和參數(shù)，通過晶格類型和參數(shù)來區(qū)分不同的金屬。 透射電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope，簡稱TEM)，可以看到在光學(xué)顯微鏡下無法看清的小于0.2um的細(xì)微結(jié)構(gòu)，這些結(jié)構(gòu)稱為亞顯微結(jié)構(gòu)或超微結(jié)構(gòu)。要想看清這些結(jié)構(gòu)，就必須選擇波長更短的光源，以提高顯微鏡的分辨率。1932年Ruska發(fā)明了以電子束為光源的透射電子顯微鏡，電子束的波長要比可見光和紫外光短得多，并且電子束的波長與發(fā)射電子束的電壓平方根成反比，也就是說電壓越高波長越短。目前TEM的分辨力可達(dá)0.2nm。

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