同時(shí)測(cè)試體積和表面電阻，需要配專業(yè)的測(cè)試屏蔽箱，對(duì)體積電阻和表面電阻測(cè)試進(jìn)行切換，這個(gè)在選購(gòu)儀器時(shí)需要和廠家進(jìn)行確認(rèn)，我們公司一直都在用的是北京冠測(cè)儀器公司GEST121體積表面電阻率測(cè)試儀，專門用于體積和表面電阻的測(cè)試，有專業(yè)的測(cè)試屏蔽箱，還可以根據(jù)試樣大小進(jìn)行電極的更換。

主要用于測(cè)試絕緣材料的絕緣電阻、體積電阻及表面電阻值，本儀器是一臺(tái)通用試驗(yàn)儀器，只要不超過(guò)主機(jī)的測(cè)試量程，都可以測(cè)試，配備不同的電極，適用于橡膠、塑料、薄膜、及粉體、液體、及固體和膏體形狀的各種絕緣材料體積和表面電阻值的測(cè)定

技術(shù)指標(biāo)

1、電阻測(cè)量范圍： 0.01×104Ω ～1×1018Ω。

2、電流測(cè)量范圍為： 2×10-4A～1×10-16A

3、顯 示 方 式：數(shù)字液晶顯示

4、內(nèi)置測(cè)試電壓： 10V 、50V、100V、250、500、1000V

5、基本準(zhǔn)確度：1% (*注)

6、使用環(huán)境： 溫度：0℃～40℃，相對(duì)濕度<80%

7、機(jī)內(nèi)測(cè)試電壓： 10V/50V/100/250/500/1000V 任意切換

8、供電形式： AC 220V，50HZ，功耗約5W

9、儀器尺寸： 285ｍｍ× 245ｍｍ× 120 mm

10、質(zhì)量： 約2.5KG

北京華測(cè)表面體積電阻率測(cè)試儀可以測(cè)量各種材料的高電阻，又可測(cè)微電流，測(cè)量精度達(dá)到 3‰。同時(shí)儀器具有體積小、重量輕、顯示迅速、性能穩(wěn)定、讀數(shù)方便等優(yōu)點(diǎn)。

測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 1410-2006 固體絕緣材料 體積電阻率和表面電阻率試驗(yàn)方法

體積電阻率的計(jì)算和體積電阻值、電極尺寸、試樣厚度有關(guān)系，表面電阻率的計(jì)算主要和電極尺寸有關(guān)系

體積電阻與表面電阻讀數(shù)取值

體積電阻：

按照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB1410標(biāo)準(zhǔn)中第11.1說(shuō)明規(guī)定：在試樣表面加上規(guī)定的直流電壓后開(kāi)始計(jì)時(shí)，并在如下每個(gè)電化時(shí)間做一次測(cè)量：1min、2min、5min、10min、50min、100min。如果兩次連續(xù)測(cè)量得出同樣的結(jié)果，則可以結(jié)束試驗(yàn)并用這個(gè)電流值來(lái)計(jì)算體積電阻。

作為驗(yàn)收試驗(yàn)，按照有關(guān)規(guī)范的規(guī)定，使用一個(gè)固定的電化時(shí)間如1min后的電流值來(lái)計(jì)算體積電阻率。

表面電阻：

按照GB1410標(biāo)準(zhǔn)11.2中規(guī)定：應(yīng)在1min的電化時(shí)間后測(cè)量電阻，即使在此時(shí)間內(nèi)電流還沒(méi)有達(dá)到穩(wěn)定的狀態(tài)。

 接好電源線和測(cè)試線：確保電源為220VAC/50Hz，將測(cè)試線(紅線為高壓線接紅接線柱, 屏蔽線接電流輸入端)與待測(cè)試器器件連 接好, 根據(jù)不同的測(cè)量可使用不同的電極; 連接測(cè)試樣品時(shí)要關(guān)電源，以防測(cè)試電壓電人。

量程置于104檔。 

 選擇合適的測(cè)量電壓：電壓選擇開(kāi)關(guān)在后面板，注意：在測(cè)試過(guò)程中不要隨意改動(dòng)測(cè)量電壓，可能因電壓的過(guò)高或電流過(guò)大損壞被測(cè)試器件或測(cè)試儀器。

 接通電源。

 調(diào)零：主機(jī)供電后在不接屏蔽箱前進(jìn)行調(diào)零，調(diào)零使電流表的顯示為0000。如接在電阻箱或被測(cè)量物體上時(shí)調(diào)零后測(cè)量會(huì)產(chǎn)生很大的誤差。一般一次調(diào)零后在測(cè)試過(guò)程中不需再調(diào)零。

 測(cè)試：測(cè)量時(shí)從低檔位逐漸拔往檔位，每撥一次稍停留3～5秒以使觀察顯示數(shù)字，當(dāng)被測(cè)電阻大于儀器測(cè)量量程時(shí)，電阻表顯示“1”，此時(shí)應(yīng)繼續(xù)將儀器撥到量程更高的置，當(dāng)測(cè)量?jī)x器有顯示值時(shí)應(yīng)停下，當(dāng)前的數(shù)字乘以檔次即是被測(cè)電阻值。當(dāng)有顯示數(shù)字時(shí)不要再往更高次檔撥，否測(cè)儀器會(huì)過(guò)量程，機(jī)內(nèi)保護(hù)電路開(kāi)始工作，儀器測(cè)量準(zhǔn)確度會(huì)下降。

測(cè)試完畢將量程拔至“104 ”檔后關(guān)閉電源。每測(cè)量一次均應(yīng)將量程開(kāi)關(guān)撥回到104“調(diào)零”檔或低的量程位置以免開(kāi)機(jī)或測(cè)量端短路時(shí)而損壞儀器。

 測(cè)量電流及1015Ω以上超高電阻的測(cè)量應(yīng)用測(cè)量電流后用歐姆定律以電壓除以電流計(jì)算電阻的方法，詳見(jiàn)本說(shuō)明中八、測(cè)量電流及1015Ω以上超高電阻的測(cè)量?jī)?nèi)容。

體積電阻和表面電阻轉(zhuǎn)換：在測(cè)試過(guò)程中，使用屏蔽箱在進(jìn)行體積電阻和表面電阻轉(zhuǎn)換時(shí)，必須把電源關(guān)閉后進(jìn)行檔位轉(zhuǎn)換，否則會(huì)導(dǎo)致電壓沖擊到主機(jī)無(wú)法顯示或損壞。

首先第一步需要測(cè)試體積電阻值和表面電阻值，然后根據(jù)試樣的尺寸和電極系數(shù)，根據(jù)計(jì)算公式得到體積電阻率和表面電阻率，體積和表面電阻測(cè)試時(shí)，對(duì)電壓試樣的位置不同，從而能夠不同的電阻值

在接和未接試樣時(shí)電容的變化量是通過(guò)這個(gè)電容器來(lái)測(cè)得。在測(cè)微計(jì)電極中，次要的誤差來(lái)源于電容校正時(shí)所包含的電極的邊緣電容，此邊緣電容是由于插入一個(gè)與電極直徑相同的試樣而稍微有所變化,實(shí)際上只要試樣直徑比電極直徑小2倍試樣厚度，就可消除這種誤差。首先將試樣放在測(cè)微計(jì)電極間并調(diào)節(jié)測(cè)量電路參數(shù)。然后取出試樣，調(diào)節(jié)測(cè)微計(jì)電極間距或重新調(diào)節(jié)標(biāo)準(zhǔn)電容器來(lái)使電路的總電容回到初始值?！鱃——接入試樣后，（圖1）的兩個(gè)電容讀數(shù)之差。值得注意的是在整個(gè)試驗(yàn)過(guò)程中試驗(yàn)頻率應(yīng)保持不變。貼在試樣上的電極的電阻在髙頻下會(huì)變得相當(dāng)大，如果試樣不平整或厚度不均勻，將會(huì)引起試樣損耗因數(shù)的明顯增加。這種變得明顯起來(lái)的頻率效應(yīng)，取決于試樣表面的平整度。

該頻率也可低到10MHzt因此，必須在ioMHg及更高的頻率下，且沒(méi)有貼電極的試樣上做電容的損耗因數(shù)的附加測(cè)量，假設(shè)Cw和tan<5w為不貼電極的試樣的電容和損耗因數(shù)，Cw-…帶電極的試樣電容。在一個(gè)線路兩點(diǎn)之間的接地屏蔽，可消除這兩點(diǎn)之間的所有的電容，而被這兩個(gè)點(diǎn)的對(duì)地電容所代替，因此，導(dǎo)線屏蔽和元件屏蔽可任意運(yùn)用在那些各點(diǎn)對(duì)地的電容并不重要的線路中；變壓器電橋和帶有瓦格納接地裝置的西林電橋都是這種類型的電路。從另一方面來(lái)說(shuō),在采用替代法電橋里，在不管有沒(méi)有試樣均保持不變的線路部分是不需要屏蔽的。實(shí)際上，在電路試樣、檢測(cè)器和振蕩器的連線屏蔽起來(lái)。對(duì)于100kHz數(shù)量級(jí)或更高的頻率，連線應(yīng)可能短而粗。

HEST-200A表面體積電阻率測(cè)試儀既可測(cè)量高電阻，又可測(cè)微電流。在進(jìn)行高阻測(cè)量時(shí)一定要嚴(yán)格按使用方法步驟進(jìn)行，否則有可能損壞儀器或者電人 。

１、 應(yīng)在“Ｒｘ”兩端開(kāi)路時(shí)調(diào)零  如接在電阻箱或被測(cè)量物體上時(shí)調(diào)零后測(cè)量會(huì)產(chǎn)生很大的誤差。一般一次調(diào)零后在測(cè)試過(guò)程中不需再調(diào)零，但改變測(cè)量電壓后可能要重新調(diào)零。  

２、 禁止將“Ｒｘ”兩端短路，以免微電流放大器受大電流沖擊  。

３、 在測(cè)試過(guò)程中不要隨意改動(dòng)測(cè)量電壓，因?yàn)檫@樣可能因電壓過(guò)高或電流過(guò)大導(dǎo)致被測(cè)試器件或測(cè)試儀器的損壞，且有的材料是非線性的（即電壓與電流是不符合歐姆定律），有改變電壓時(shí)由于電流不是線性變化，因此測(cè)量的電阻也會(huì)產(chǎn)生相應(yīng)的變化。 

４、 測(cè)量時(shí)從低次檔逐漸拔往高次檔  每撥一次稍停留1～2秒以便觀察顯示數(shù)字，當(dāng)有顯示值時(shí)應(yīng)停下，記錄當(dāng)前的數(shù)字即是被測(cè)電阻值。若顯示“1”時(shí)，表示欠量程應(yīng)往高次檔拔。直到有顯示數(shù)字時(shí)為止。當(dāng)有顯示數(shù)字時(shí)不能再往高次檔撥，否則有可能損壞儀器（機(jī)內(nèi)有過(guò)電流保護(hù)電路）。除104 Ω檔之外，當(dāng)顯示低于1.99，表示過(guò)量程應(yīng)換低檔。

５、 大部分絕緣材料，特別是防靜電材料的電阻值在加電壓后會(huì)有一定變化而引起數(shù)字變化   由于本儀器的分辨率很高，因而顯示值的末尾幾位數(shù)也會(huì)產(chǎn)生變化，這不是儀器本身的問(wèn)題，而是被測(cè)量對(duì)象的導(dǎo)電機(jī)理復(fù)雜而使得阻值有些變化。在這種情況下往往取2位有效數(shù)就夠了。  

６ 、接通電源后，手指不能觸及高壓線的金屬部分   本儀表有二連根線：高壓線（紅）和微電流測(cè)試線。在使用時(shí)要注意高壓線，開(kāi)機(jī)后人不能觸及高壓線，以免電人或麻手。 

７ 、測(cè)試過(guò)程中不能觸摸微電流測(cè)試端      微電流測(cè)試端Z怕受到大電流或人體感應(yīng)電壓及靜電的沖擊。所以在開(kāi)機(jī)后和測(cè)試過(guò)程中不能與微電流測(cè)試端接觸，以免損壞儀表。  

８、 在測(cè)量高阻時(shí)，應(yīng)采用屏蔽盒將被測(cè)物體屏蔽。 在測(cè)量大于1010 Ω以上時(shí)，為防止外界干擾面而引起讀數(shù)不穩(wěn)。 

９、 每次測(cè)量完后應(yīng)將量程開(kāi)關(guān)撥回“１０４ ”檔再進(jìn)行下次測(cè)試  在測(cè)量時(shí)應(yīng)逐漸將量程開(kāi)關(guān)撥到高阻檔，測(cè)完后應(yīng)將量程開(kāi)關(guān)撥回低檔，以確保下次開(kāi)機(jī)時(shí)量程開(kāi)關(guān)處在低阻量程檔。

這個(gè)是由材料的自由特性決定的，有的材料穩(wěn)定性好，我們公司使用北京冠測(cè)儀器公司GEST121絕緣電阻率測(cè)試儀做過(guò)這樣的對(duì)比試驗(yàn)，不同電壓下的阻值基本一致，有的材料施加不同的電壓后，阻值會(huì)有不同，所以在進(jìn)行數(shù)據(jù)的比對(duì)試驗(yàn)時(shí)，需要在同一電壓下測(cè)試，數(shù)據(jù)才有可比性，出現(xiàn)這種情況的原因是材料施加不同的電壓后，對(duì)試樣會(huì)有極化現(xiàn)象，從而導(dǎo)致數(shù)據(jù)不同。

1、電阻測(cè)量范圍： 0.01×104Ω ～1×1018Ω。

2、電流測(cè)量范圍為： 2×10-4A～1×10-16A

3、顯 示 方 式：數(shù)字液晶顯示

4、內(nèi)置測(cè)試電壓： 10V 、50V、100V、250、500、1000V

5、基本準(zhǔn)確度：1% (*注)

6、使用環(huán)境： 溫度：0℃～40℃，相對(duì)濕度<80%

7、機(jī)內(nèi)測(cè)試電壓： 10V/50V/100/250/500/1000V 任意切換

8、供電形式： AC 220V，50HZ，功耗約5W

9、儀器尺寸： 285ｍｍ× 245ｍｍ× 120 mm

10、質(zhì)量： 約2.5KG

使用方法

 接好電源線和測(cè)試線：確保電源為220VAC/50Hz，將測(cè)試線(紅線為高壓線接紅接線柱, 屏蔽線接電流輸入端)與待測(cè)試器器件連 接好, 根據(jù)不同的測(cè)量可使用不同的電極; 連接測(cè)試樣品時(shí)要關(guān)電源，以防測(cè)試電壓電人。

 量程置于104檔。 

 選擇合適的測(cè)量電壓：電壓選擇開(kāi)關(guān)在后面板，注意：在測(cè)試過(guò)程中不要隨意改動(dòng)測(cè)量電壓，可能因電壓的過(guò)高或電流過(guò)大損壞被測(cè)試器件或測(cè)試儀器。

 接通電源。

 調(diào)零：主機(jī)供電后在不接屏蔽箱前進(jìn)行調(diào)零，調(diào)零使電流表的顯示為0000。如接在電阻箱或被測(cè)量物體上時(shí)調(diào)零后測(cè)量會(huì)產(chǎn)生很大的誤差。一般一次調(diào)零后在測(cè)試過(guò)程中不需再調(diào)零。

測(cè)試：測(cè)量時(shí)從低檔位逐漸拔往*，每撥一次稍停留3～5秒以使觀察顯示數(shù)字，當(dāng)被測(cè)電阻大于儀器測(cè)量量程時(shí)，電阻表顯示“1”，此時(shí)應(yīng)繼續(xù)將儀器撥到量程更高的置，當(dāng)測(cè)量?jī)x器有顯示值時(shí)應(yīng)停下，當(dāng)前的數(shù)字乘以檔次即是被測(cè)電阻值。當(dāng)有顯示數(shù)字時(shí)不要再往更高次檔撥，否測(cè)儀器會(huì)過(guò)量程，機(jī)內(nèi)保護(hù)電路開(kāi)始工作，儀器測(cè)量準(zhǔn)確度會(huì)下降。

 測(cè)試完畢將量程拔至“104 ”檔后關(guān)閉電源。每測(cè)量一次均應(yīng)將量程開(kāi)關(guān)撥回到104“調(diào)零”檔或低的量程位置以免開(kāi)機(jī)或測(cè)量端短路時(shí)而損壞儀器。

測(cè)量電流及1015Ω以上超高電阻的測(cè)量應(yīng)用測(cè)量電流后用歐姆定律以電壓除以電流計(jì)算電阻的方法，詳見(jiàn)本說(shuō)明中八、測(cè)量電流及1015Ω以上超高電阻的測(cè)量?jī)?nèi)容。

 體積電阻和表面電阻轉(zhuǎn)換：在測(cè)試過(guò)程中，使用屏蔽箱在進(jìn)行體積電阻和表面電阻轉(zhuǎn)換時(shí)，必須把電源關(guān)閉后進(jìn)行檔位轉(zhuǎn)換，否則會(huì)導(dǎo)致電壓沖擊到主機(jī)無(wú)法顯示或損壞。

使用注意事項(xiàng)

注：高阻測(cè)量一定要嚴(yán)格按使用方法步聚進(jìn)行，否則有可能造成儀器損壞或電人。

7.1、 應(yīng)在“Rx”兩端開(kāi)路時(shí)調(diào)零（主機(jī)開(kāi)機(jī)）：如接在電阻箱或被測(cè)量物體上時(shí)調(diào)零后測(cè)量會(huì)產(chǎn)生很大的誤差。一般一次調(diào)零 后在測(cè)試過(guò)程中不需再調(diào)零，但改變測(cè)量電壓后可能要重新調(diào)零。

7.2、 禁止將“電壓與電流”兩端短路，以免微電流放大器受大電流沖擊。

7.3、 在測(cè)試過(guò)程中不要隨意改動(dòng)測(cè)量電壓：隨意改動(dòng)測(cè)量電壓可能因電壓的過(guò)高或電流過(guò)大損壞被測(cè)試器件或測(cè)試儀器， 而且有的材料是非線性的，即電壓與電流是不符合歐姆定律，有改變電壓時(shí)由 于電流不是線性變化，所以測(cè)量的電阻也會(huì)變化。

7.4、 測(cè)量時(shí)從低次檔逐漸拔往高次檔：每撥一次稍停留3～5秒以便觀察顯示數(shù)字，當(dāng)有顯示值時(shí)應(yīng)停下，記錄當(dāng)前的數(shù)字即是被測(cè)電阻值。若顯示“1”時(shí)，表示欠量程應(yīng)往高次檔拔。直到有顯示數(shù)字時(shí)為止。當(dāng)有顯示數(shù)字時(shí)不能再往高次檔撥，否則有可能損壞儀器(機(jī)內(nèi)有過(guò)電流保護(hù)電路)。除104Ω檔之外，當(dāng)顯示低于1.99，表示過(guò)量程應(yīng)換低檔。

7.5、 大部分絕緣材料，特別是防靜電材料的電阻值在加電壓后會(huì)有一定變化而引起數(shù)字變化：由于本儀器的分辯率很高，因而會(huì)引起顯示值的末尾幾位數(shù)也變化，這不是儀器本身的問(wèn)題，而是被測(cè)量對(duì)象的導(dǎo)電機(jī)理復(fù)雜而使得阻值有些變化。在這種情況下往往取2位有效數(shù)就夠了。

7.6、 接通電源后，手指不能觸及高壓線的金屬部分：本儀表有二連根線，高壓線(紅)和微電流測(cè)試線。在使用時(shí)要注意高壓線，開(kāi)機(jī)后人不能觸及高壓線，以免電人或麻手。

7.7、 測(cè)試過(guò)程中不能觸摸微電流測(cè)試端：微電流測(cè)試端最怕受到大電流或人體感應(yīng)電壓及靜電的沖擊。所以在開(kāi)機(jī)后和 測(cè)試過(guò)程中不能與微電流測(cè)試端接觸，以免損壞儀表。

7.8、 在測(cè)量高阻時(shí)，應(yīng)采用屏蔽盒將被測(cè)物體屏蔽：在測(cè)量大于1010Ω以上時(shí)，為防止外界干擾面而引起讀數(shù)不穩(wěn)。                                                               

7.9、 每次測(cè)量完時(shí)應(yīng)將量程開(kāi)關(guān)撥回“104 ”檔再進(jìn)行下次測(cè)試

7.10、 在測(cè)量時(shí)應(yīng)逐漸將量程開(kāi)關(guān)撥到高阻檔，測(cè)量完時(shí)應(yīng)將量程開(kāi)關(guān)撥回低檔。以 確保下次開(kāi)機(jī)時(shí)量程開(kāi)關(guān)處在低阻量程檔。