一、物相分析

根據(jù)晶體對X射線的衍射特征－衍射線的位置、強(qiáng)度及數(shù)量來鑒定結(jié)晶物質(zhì)之物相的方法，就是X射線物相分析法。一張衍射圖譜上衍射線的位置(方向)僅和原子排列周期性有關(guān)；衍射線的強(qiáng)度則取決于原子種類、含量、相對位置等性質(zhì)；衍射線的位置和強(qiáng)度就完整地反映了晶體結(jié)構(gòu)的二個特征，從而成為辨別物相的依據(jù)。

1、定性分析方法

(1)圖譜直接對比法：直接比較待測樣品和已知物相的譜圖，該法可直觀簡單的對物相進(jìn)行鑒定，但相互比較的譜圖應(yīng)在相同的實驗條件下獲取，該法比較適合于常見相及可推測相的分析。

(2)數(shù)據(jù)對比法：將實測數(shù)據(jù)(2θ、d、I/I1)與標(biāo)準(zhǔn)衍射數(shù)據(jù)比較，可對物相進(jìn)行鑒定。

(3)計算機(jī)自動檢索鑒定法：建立標(biāo)準(zhǔn)物相衍射數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)庫(PDF卡片)，將樣品的實測數(shù)據(jù)輸入計算機(jī)，由計算機(jī)按相應(yīng)的程序進(jìn)行檢索，但這種方法還在不斷地完善。

2、定量分析方法

每種物相的衍射線強(qiáng)度隨其相含量的增加而提高，由強(qiáng)度值的計算可確定物相的含量。定量分析可用來確定混合物中某一化合物的含量。

對于多相樣品，當(dāng)通過定性相分析確定了樣品中所存在的物相后，就需要更深入的了解各相的相對百分含量。目前定量方法有：外標(biāo)法、內(nèi)標(biāo)法、標(biāo)準(zhǔn)加入法、RIR值法，其中RIR值法最為簡單方便。

RIR法定量是利用各種純物質(zhì)與α三氧化二鋁按照重量比1:1混合，測試二者強(qiáng)度的比值K，制作成一個數(shù)據(jù)庫，在日常多組分混合物定量分析時，將K值引入利用計算機(jī)擬合計算各物相組分含量。

需要說明的是此定量結(jié)果為半定量，當(dāng)然在具體樣品分析時，可以將ICP-OES、碳硫氧氮等元素分析方法結(jié)合起來，提高定量準(zhǔn)確性。若樣品又含有有機(jī)物，也可將FTIR、TGA、GC-MS結(jié)合起來進(jìn)行定量分析。

測試樣品：未知化合物成分分析、某化合物中不同物相定量分析（如二氧化鈦中的銳鈦礦物相和金紅石物相含量）、輔助失效分析、輔助礦物分析、輔助高分子材料定量分析。

二、精密測定點陣參數(shù)

點陣常數(shù)是晶體物質(zhì)的基本結(jié)構(gòu)參數(shù)。點陣常數(shù)的測定是通過X射線衍射線的位置（θ）的測定而獲得的。

確定點陣參數(shù)的主要方法是多晶X射線衍射法。

X射線衍射法測定點陣參數(shù)是利用精確測得的晶體衍射線峰位2θ角數(shù)據(jù)，然后根據(jù)布拉格定律和點陣參數(shù)與晶面間距d值之間的關(guān)系式計算點陣參數(shù)的值。

點陣參數(shù)精確測定的應(yīng)用：可用于研究物質(zhì)的熱膨脹系數(shù)、固溶體類型及含量、固相溶解度曲線、宏觀應(yīng)力、化學(xué)熱處理層的分析、過飽和固溶體分解過程等。

三、宏觀應(yīng)力的測定

宏觀應(yīng)力的存在使部件內(nèi)部的晶面間距發(fā)生改變,所以可以借助X射線衍射方法來測定材料部件中的應(yīng)力。

按照布拉格定律可知：在一定波長輻射發(fā)生衍射的條件下，晶面間距的變化導(dǎo)致衍射角的變化，測定衍射角的變化即可算出宏觀應(yīng)變，因而可進(jìn)一步計算得到應(yīng)力大小。

X射線衍射法來測定試樣中宏觀應(yīng)力的優(yōu)點:

(1)可以測量試樣上小面積和極薄層內(nèi)的宏觀應(yīng)力,如果與剝層方法相結(jié)合,還可測量宏觀應(yīng)力在不同深度上的梯度變化;

(2)不用破壞試樣即可測量;           

(3)測量結(jié)果可靠性高；

四、晶粒尺寸大小的測定

材料中晶粒尺寸小于10nm時，將導(dǎo)致多晶衍射實驗的衍射峰顯著增寬。故根據(jù)衍射峰的增寬可以測定其晶粒尺寸。

在不考慮晶體點陣畸變的影響條件下，無應(yīng)力微晶尺寸可以由謝樂(Scherrer)公式計算 ：

D：晶粒尺寸（nm）

q ：衍射角

b ：衍射峰的半高寬，在計算的過程中，需轉(zhuǎn)化為弧度（rad）

l ：單色入射X射線波長

K ：為Scherrer常數(shù)

當(dāng)B為峰的半高寬時 k=0.89

當(dāng)B為峰的積分寬度時 k=0.94

五、取向分析

測定單晶取向和多晶的結(jié)構(gòu)（擇優(yōu)取向）。測定硅鋼片的取向就是一例。另外，為研究金屬的范性形變過程，如孿生、滑移、滑移面的轉(zhuǎn)動等，也與取向的測定有關(guān)。

擇優(yōu)取向度F參數(shù)的計算：

以計算一般的晶面如(hk1)的F因子為例，需計算出與該晶面方向平行的所有晶面的強(qiáng)度之和。

六、結(jié)晶度的測定

結(jié)晶性高聚物中晶體部分所占的百分比叫做結(jié)晶度。是一種重要的工藝指標(biāo)。低分子晶體，由于完全結(jié)晶，沒有結(jié)晶度問題。高分子晶體，由于長的鏈狀結(jié)構(gòu)不易完全整規(guī)排列，往往導(dǎo)致非完全結(jié)晶。

兩態(tài)分明體系的衍射圖由兩部分簡單疊加而成。一部分是晶態(tài)產(chǎn)生的衍射峰，另一部分非晶態(tài)產(chǎn)生的彌散隆峰。理論上推導(dǎo)得出如下質(zhì)量的結(jié)晶度公式：

通過軟件計算的結(jié)晶度為相對結(jié)晶度，主要是針對晶態(tài)和非晶態(tài)差別明顯的衍射圖進(jìn)行分析。常見四種結(jié)晶狀態(tài)的XRD圖譜：

（a）結(jié)晶完整的晶體，晶粒較大，內(nèi)部原子的排列比較規(guī)則，衍射譜線強(qiáng)、尖銳且對稱；（b）非晶樣品沒有衍射峰；

（b）結(jié)晶不完整的晶體，由于晶粒過于細(xì)小，晶體中有缺陷而使衍射峰形寬闊而彌散；

（d）結(jié)晶度越差，衍射能力越弱，峰形越寬。

七、XRD其他方面的應(yīng)用

*對晶體結(jié)構(gòu)不完整性的研究

包括對層錯、位錯、原子靜態(tài)或動態(tài)地偏離平衡位置，短程有序，原子偏聚等方面的研究。

*結(jié)構(gòu)分析

對新發(fā)現(xiàn)的合金相進(jìn)行測定，確定點陣類型、點陣參數(shù)、對稱性、原子位置等晶體學(xué)數(shù)據(jù)。

*液態(tài)金屬和非晶態(tài)金屬

研究非晶態(tài)、液態(tài)金屬結(jié)構(gòu)，如測定近程序參量、配位數(shù)等。

*合金相變

包括脫溶、有序無序轉(zhuǎn)變、母相新相的晶體學(xué)關(guān)系等。

*特殊狀態(tài)下的分析

在高溫、低溫和瞬時的動態(tài)分析。

*此外，小角度散射用于研究電子濃度不均勻區(qū)的形狀和大??；X射線形貌術(shù)用于研究近完整晶體中的缺陷如位錯線等。

http://www.verdegroup.cn/

更多詳細(xì)資料，可聯(lián)系上海爾迪儀器科技有限公司，撥打電話021-62211270！021-62211270！

上海爾迪儀器科技有限公司是一家從事儀器設(shè)備銷售、技術(shù)服務(wù)與工藝開發(fā)的創(chuàng)新公司，為您提供一站式采購服務(wù)。

因為樣品不能接觸空氣，所以用膠布密封的方式測試粉末樣品的xrd，但是在精修的過程中發(fā)現(xiàn)，因為膠布對xrd射線的影響，所有峰的位置向小角度偏移，沒用膠布測試的粉末樣品峰位值不偏移（用可接觸空氣的硅粉測試也是這樣），因此能確定是膠布的影響，所以想問這種情況該如何修正峰位？