對(duì)粒度進(jìn)行檢測(cè)分析的方法有很多，Z常用到的兩大類測(cè)量方法——圖像法與激光衍射法，其中圖像法包括電鏡法和顯微圖像法兩種形式。這兩類方法的測(cè)量結(jié)果通常會(huì)有差異，原因有以下三個(gè)方面：

一． 原理不同導(dǎo)致的結(jié)果不同

       假定有3個(gè)直徑分別為1、2、3的球體顆粒，不同測(cè)量原理的儀器將會(huì)采用不同的方法來(lái)計(jì)算平均粒徑。

       電鏡法：通常用帶有標(biāo)尺的格子線來(lái)測(cè)量顆粒直徑，然后把它們加在一起再除以總的數(shù)量而得到數(shù)量-長(zhǎng)度平均D[1,0]：

       圖像法：通常測(cè)量每個(gè)粒子的面積，加起來(lái)再除以顆粒的數(shù)量而得到數(shù)量-面積平均D[2,0]：

       激光衍射法：通過(guò)測(cè)量顆粒群的散射光強(qiáng)分布，可得到體積分布，并可得到體積平均粒徑 D[4,3]：

       可見(jiàn)，不同測(cè)量方法計(jì)算平均是不相同的，同樣的道理，計(jì)算粒度分布的方法也不相同，或者說(shuō)是粒度分布的基準(zhǔn)不同。例如，當(dāng)相同個(gè)數(shù)的5微米與50微米小球混合均勻后，采用不同原理所得到的原始粒度分布完全不同。

       電鏡結(jié)果與激光粒度儀結(jié)果的比較大多為數(shù)量分布與體積分布的比較，圖像儀分析結(jié)果與激光粒度儀結(jié)果的比較大多是面積分布與體積分布的比較。

       上圖表明采用不同原理方法進(jìn)行粒度測(cè)量，所得結(jié)果有明顯的差別。為方便不同原理儀器進(jìn)行比較，百特激光粒度分析系統(tǒng)和顯微圖像粒度分析系統(tǒng)中配置了數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換功能，可將體積分布轉(zhuǎn)換為面積分布或個(gè)數(shù)分布，從而實(shí)現(xiàn)不同原理、不同基準(zhǔn)下的粒度分布的互轉(zhuǎn)換。下圖所示為百特粒度儀測(cè)試一個(gè)體積平均粒徑D50為17微米左右的樣品，再將結(jié)果轉(zhuǎn)換成面積分布和數(shù)量分布后的比較。

二． 測(cè)試顆粒代表性有差異

       紅色圓圈代表電鏡法/圖像法取樣區(qū)域，很顯然漏掉了顆粒群中的10微米大顆粒，由于電鏡法/圖像法取樣數(shù)量有限，漏測(cè)一個(gè)大顆粒將對(duì)結(jié)果產(chǎn)生很大影響。激光法則不會(huì)發(fā)生這種情況，激光粒度儀因?yàn)槿恿看?，可連續(xù)重復(fù)測(cè)量，能夠得到代表所有顆粒的統(tǒng)計(jì)結(jié)果。

三．樣品分散原因

       下圖為電鏡拍攝的某粉體圖像，該粉體團(tuán)聚現(xiàn)象比較明顯，顆粒間結(jié)合緊密，不易重新分散。增大放大倍數(shù)后，電鏡法能反映局部精細(xì)結(jié)構(gòu)，給出單個(gè)粒子尺寸，這是其它測(cè)量方法難以做到的。

       下圖是激光粒度儀對(duì)上面同一粉體的測(cè)試結(jié)果?？梢钥闯觯す庋苌浞ǖ臏y(cè)量結(jié)果客觀真實(shí)地反映了團(tuán)聚粉體分散后的狀態(tài)。

       從以上三個(gè)方面的分析可以看到，電鏡法/圖像法與激光衍射法的結(jié)果差異是由于原理和基準(zhǔn)不同導(dǎo)致的，因此在應(yīng)用和進(jìn)行結(jié)果比較時(shí)不要僅僅看數(shù)據(jù)，還要看得到這些數(shù)據(jù)的基準(zhǔn)，以便進(jìn)行正確判斷，得出正確結(jié)論。

作者：丹東百特實(shí)驗(yàn)室— 管青宇

（來(lái)源：丹東百特儀器有限公司）

透射電鏡怎么分析粒徑

透射電鏡（Transmission Electron Microscopy, TEM）作為一種高分辨率的成像技術(shù)，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、生命科學(xué)及納米技術(shù)等領(lǐng)域。粒徑分析是透射電鏡技術(shù)中的一項(xiàng)重要應(yīng)用，它能夠精確地測(cè)量樣品中微小顆粒的尺寸。通過(guò)透射電鏡分析粒徑，不僅可以揭示顆粒的分布情況，還可以幫助我們理解材料的物理、化學(xué)性質(zhì)以及其在不同應(yīng)用中的表現(xiàn)。本篇文章將深入探討透射電鏡如何進(jìn)行粒徑分析，涉及基本原理、常用方法及其優(yōu)勢(shì)。

透射電鏡原理及其在粒徑分析中的作用

透射電鏡通過(guò)電子束穿透樣品，產(chǎn)生具有高分辨率的圖像，這使得其能夠觀察到納米級(jí)甚至原子級(jí)別的結(jié)構(gòu)。樣品通過(guò)電子束照射后，電子與物質(zhì)相互作用，部分電子被散射，部分電子透射通過(guò)樣品形成圖像。在圖像中，顆粒的邊緣、形態(tài)及大小都能被精確地展示出來(lái)。

粒徑分析是通過(guò)對(duì)透射電鏡圖像中顆粒的尺寸進(jìn)行測(cè)量，通常使用的是“直徑法”或“長(zhǎng)徑法”。直徑法通過(guò)測(cè)量顆粒的大橫向直徑來(lái)獲得粒徑，而長(zhǎng)徑法則通過(guò)測(cè)量顆粒的大長(zhǎng)度與大寬度，從而得出其平均粒徑。為了保證測(cè)量的準(zhǔn)確性，通常需要選擇多個(gè)圖像區(qū)域進(jìn)行分析，減少誤差。

粒徑分析常用方法

在透射電鏡中，粒徑分析的方法有多種，常見(jiàn)的包括手動(dòng)測(cè)量法和自動(dòng)化分析法。

1. 手動(dòng)測(cè)量法：這種方法較為直接，研究人員通過(guò)在透射電鏡圖像上手動(dòng)測(cè)量顆粒的尺寸，常用工具有圖像分析軟件。這種方法的優(yōu)點(diǎn)是操作簡(jiǎn)便，但缺點(diǎn)是容易受人為因素的影響，測(cè)量精度較低。

2. 自動(dòng)化分析法：自動(dòng)化圖像分析軟件通過(guò)算法自動(dòng)識(shí)別圖像中的顆粒輪廓，并計(jì)算出其尺寸。隨著圖像處理技術(shù)的進(jìn)步，自動(dòng)化分析法已成為一種高效且精確的粒徑分析工具。該方法不僅提高了分析效率，還能顯著減少人為誤差，使得粒徑分布的統(tǒng)計(jì)結(jié)果更加可靠。

透射電鏡分析粒徑的優(yōu)勢(shì)

透射電鏡在粒徑分析中的優(yōu)勢(shì)主要體現(xiàn)在其極高的分辨率和靈敏度。與光學(xué)顯微鏡相比，透射電鏡能夠觀察到更為細(xì)微的顆粒，甚至可以在原子尺度上進(jìn)行分析。它不僅能夠提供顆粒的尺寸信息，還能展示顆粒的形狀、分布及聚集狀態(tài)等重要特征。透射電鏡還能夠通過(guò)不同的成像模式（如高分辨率成像、選區(qū)電子衍射等）提供更多的結(jié)構(gòu)信息，從而更全面地理解樣品的物理性質(zhì)。

結(jié)論

透射電鏡在粒徑分析中的應(yīng)用，憑借其高分辨率、精確度以及多樣化的成像方式，成為了分析納米材料和微小顆粒尺寸的強(qiáng)有力工具。隨著自動(dòng)化技術(shù)的發(fā)展，透射電鏡在粒徑分析中的效率和精度不斷提升，為材料科學(xué)的研究提供了更加可靠的數(shù)據(jù)支持。理解透射電鏡的基本原理及分析方法，將為科研人員在納米技術(shù)、材料開(kāi)發(fā)等領(lǐng)域的研究提供更加深入的技術(shù)保障。