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問(wèn)答社區(qū)

什么是能譜分析儀

xdxcyg 2013-12-25 22:14:44 362  瀏覽
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參與評(píng)論

全部評(píng)論(2條)

  • misery19661124 2013-12-26 00:00:00
    譜分析儀是指物質(zhì)數(shù)據(jù)的儀表?

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    評(píng)論

  • 老末 2016-10-08 14:10:19
    能譜分析儀(EDS,Energy Dispersive Spectrometer)是用來(lái)對(duì)材料微區(qū)成分元素種類與含量分析,配合掃描電子顯微鏡與透射電子顯微鏡的使用。 各種元素具有自己的X射線特征波長(zhǎng),特征波長(zhǎng)的大小則取決于能級(jí)躍遷過(guò)程中釋放出的特征能量△E,能譜分析儀就是利用不同元素X射線光子特征能量不同這一特點(diǎn)來(lái)進(jìn)行成分分析的。 探頭:一般為Si(Li)鋰硅半導(dǎo)體探頭 探測(cè)面積:幾平方毫米 分辨率(MnKa):~133eV 探測(cè)元素范圍:Be4~U92

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    評(píng)論

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Filmetrics的光學(xué)膜厚儀使用的是白光干涉的原理,從而對(duì)樣品表面的膜層進(jìn)行測(cè)量,基本上所有光滑的、半透明的或者地吸收洗漱的薄膜都可以進(jìn)行測(cè)量。

不管是打算測(cè)量薄膜厚度,還是光學(xué)常數(shù),或者是打算知道材料的反射率和透過(guò)率,優(yōu)尼康科技有限公司提供的儀器都可以滿足你的需求,通過(guò)簡(jiǎn)單安裝,連接電腦,就可以很快測(cè)量出結(jié)果。

這種產(chǎn)品主要應(yīng)用在,

半導(dǎo)體行業(yè)如:光刻膠的厚度測(cè)量;加工膜層的厚度測(cè)量,介電層的厚度測(cè)量等。

液晶顯示器行業(yè)如:OLED領(lǐng)域各種透明薄膜的厚度測(cè)量,玻璃上面涂層的厚度測(cè)量等

光學(xué)鍍層行業(yè)如:硬涂層,抗反射層等涂層厚度測(cè)量。

生物醫(yī)學(xué)行業(yè)如:聚對(duì)二甲苯,YL器械等領(lǐng)域可透光涂層膜厚的測(cè)量。

光學(xué)膜厚儀應(yīng)用領(lǐng)域極其廣闊,適用于多種行業(yè)以及大學(xué)實(shí)驗(yàn)室等,提供低至納米級(jí)別的薄膜厚度測(cè)量可能。

優(yōu)尼康科技有限公司還提供專業(yè)的膜厚測(cè)量咨詢服務(wù),可以免費(fèi)測(cè)樣,幫助企業(yè)或?qū)W校定制解決方案,更有更多產(chǎn)品等你咨詢了解。


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