科學(xué)服務(wù)領(lǐng)域的世界ling導(dǎo)者賽默飛世尓科技將亮相于11月21-25日在成都舉辦的“2020 年全國電子顯微學(xué)學(xué)術(shù)年會”。 本次年會將是了解電子顯微學(xué)及相關(guān)儀器技術(shù)的前沿發(fā)展，交流基礎(chǔ)研究與應(yīng)用研究新進(jìn)展的高學(xué)術(shù)水平的大會。屆時，賽默飛電鏡業(yè)務(wù)部門將全面展示其在材料科學(xué)，生命科學(xué)，以及工業(yè)領(lǐng)域的前沿技術(shù)。我們的產(chǎn)品將以突破性的功能、GX穩(wěn)定的操作體驗展現(xiàn)賽默飛在先進(jìn)電子顯微學(xué)領(lǐng)域創(chuàng)新和研發(fā)硬實力。

午餐會，現(xiàn)場演示系列活動日程安排

提前報名的觀眾將可參與演示廳的現(xiàn)場抽獎，每場活動抽取5名幸運觀眾，獲得電鏡模型積木禮品一套?？炜鞉叽a報名吧！

地點：成都新希望高新皇冠假日酒店1樓香樟廳

2023

賽默飛半導(dǎo)體解決方案研討會

深圳站 · 邀請函

近年來，半導(dǎo)體技術(shù)的迅猛發(fā)展已經(jīng)成為全 球科技領(lǐng)域的熱點之一。然而，隨著半導(dǎo)體技術(shù)的不斷革新和應(yīng)用的深入，半導(dǎo)體失效分析日益成為制約產(chǎn)業(yè)進(jìn)一步發(fā)展的關(guān)鍵因素。

賽默飛世爾科技將于2023年4月26日在深圳舉辦2023年賽默飛半導(dǎo)體解決方案研討會-深圳站。我們榮幸地邀請您參加本次半導(dǎo)體失效分析會議。本次研討會我們將就晶片良率控制，先進(jìn)封裝，化合物半導(dǎo)體，顯示面板等各類話題與大家一起探討。

賽默飛世爾科技提供了多種高效率三維計量及失效分析工作流程的產(chǎn)品組合，可加速工藝開發(fā)、提高制程良率為集成電路設(shè)計和制造提供堅實的基礎(chǔ)。

會議時間

2023年4月26日 星期三

會議地點

深圳灣萬麗酒店3F宴會廳

會議地址

深圳市南山區(qū)科技南路18號

提前報名注冊

搶占坐席，現(xiàn)場領(lǐng)取精美禮品

演講嘉賓

依次幫你解鎖必看清單

展臺

如果您是技術(shù)咖，肯定不能錯過

●材料科學(xué)

●生命科學(xué)

●2D/3D軟件

●人事招聘

現(xiàn)場應(yīng)用培訓(xùn)

11月21日周六，大會報到當(dāng)天

上午，TEM培訓(xùn)

下午，SDB培訓(xùn)

現(xiàn)場演示

11月22日-24日，大會期間

每天定時將有我們熱門電鏡的遠(yuǎn)程演示

●冷凍電鏡

●透射電鏡

●雙束激光電鏡

以上活動報名方式請關(guān)注我們公眾號的發(fā)布

新品發(fā)布

11月23日周一中午

新一代掃描電鏡揭幕

冷凍電鏡系列新品

上周，賽默飛電鏡網(wǎng)絡(luò)講堂系列圓滿落幕，感謝眾多老鐵們的觀看及提問。賽默飛電鏡演示微直播仍在火熱進(jìn)行，未來我們還會推出更多系列的網(wǎng)絡(luò)講堂，請您持續(xù)關(guān)注！

“TEMGX高質(zhì)量掃描透射成像”直播答疑匯總

Q：Smart Tilt這個功能大概是哪年開始有的？轉(zhuǎn)角度有什么要求？

Smart Tilt是2016年推出的。裝機(jī)工程師做簡單的校準(zhǔn)后，用戶只需要使用配套的雙傾樣品桿，按演示的操作即可，非常簡便。

Q：TEM mode下不斷改放大倍數(shù)會把CCD燒了嗎？

這次演示的TEM操作是在Talos配備的熒光屏相機(jī)上進(jìn)行的，具有高動態(tài)范圍，對于透射圖像、衍射花樣和菊池線都可以直接觀察。

Q：這次演示的Velox是什么版本？框選放大功能是哪個版本有的？

這次用的是Z新的Velox 2.11。2.10版本加入了框選放大等功能。Velox還在持續(xù)保持更新，只要用戶的TEM Server版本支持即可自行免費升級。

Q：沒有球差還能看到原子像？這么厲害？

Talos F200X的STEM分辨率驗收指標(biāo)為0.16nm，實際使用時分辨率會優(yōu)于此數(shù)值，Talos上也可以拍出硅[110]帶軸的啞鈴結(jié)構(gòu)（硅啞鈴原子間距0.14nm）。

Q：為什么用鈦酸鍶，是容易看嗎？

在鈦酸鍶[100]帶軸上是可以看到原子像的，鈦和鍶兩種原子在HAADF上有比較好的襯度差異，同時也可以通過Z新iDPC技術(shù)獲取HAADF下沒辦法實現(xiàn)的氧原子位置的表征，能夠直觀地給大家展示Talos的性能。

Q：做STEM都不用調(diào)Ronchigram了嗎？

Talos上調(diào)Ronchigram不是必須的，系統(tǒng)穩(wěn)定性很好，可以直接調(diào)用STEM光路文件。日常使用也可以用我們演示的AutoSTEM功能自動調(diào)整象散。只有在狀態(tài)比較差的情況下才需要檢查Ronchigram。

賽默飛分析科學(xué)實驗室解決方案

2022全國巡演

— 鋰電專 題（常州站） —

會議通知

隨著鋰電行業(yè)的逐漸成熟和不斷快速增長，與鋰電池材料相關(guān)的分析檢測也逐漸成為熱點。在此背景下，賽默飛主辦本次鋰電專 題會議，希望通過本次會議，推動新能源與電池制造行業(yè)的持續(xù)進(jìn)步和高質(zhì)量發(fā)展。為全國相關(guān)檢測技術(shù)實驗室，鋰電相關(guān)企業(yè)人員提供學(xué)習(xí)和了解該領(lǐng)域知識并搭建一個學(xué)習(xí)空間和交流平臺。

會議安排

會議時間

2022年11月18日13:00簽到

會議地點

江南明都國際酒店三樓江南廳

            （常州市金壇區(qū)匯金路228號）

日程安排

報告前瞻

陳豐

蘇州科技大學(xué)研究生院副院長

分享內(nèi)容：鋰電池電極材料有價金屬的成分分析與智能回收

王維彬

賽默飛行業(yè)特邀嘉賓

分享內(nèi)容：“雙碳”背景下鋰電行業(yè)發(fā)展前景與趨勢

報名方式

識別上方二維碼，立即報名

防疫政策

低風(fēng)險地區(qū)：雙碼綠色+24小時核酸陰性報告

中高風(fēng)險地區(qū)人員，原則上不參會

會議聯(lián)系人

楊凱悅 13816819249  

kaiyue.yang@thermofisher.com

周三，賽默飛首次電鏡演示微直播之TEMGX高質(zhì)量掃描透射成像圓滿落幕，感謝眾多老鐵們的觀看及提問，賽默飛電鏡演示微直播還在火熱進(jìn)行，請您持續(xù)關(guān)注！

直播答疑匯總

Q：Smart Tilt這個功能大概是哪年開始有的？轉(zhuǎn)角度有什么要求？

Smart Tilt是2016年推出的。裝機(jī)工程師做簡單的校準(zhǔn)后，用戶只需要使用配套的雙傾樣品桿，按演示的操作即可，非常簡便。

Q：TEM mode下不斷改放大倍數(shù)會把CCD燒了嗎？

這次演示的TEM操作是在Talos配備的熒光屏相機(jī)上進(jìn)行的，具有高動態(tài)范圍，對于透射圖像、衍射花樣和菊池線都可以直接觀察。

Q：這次演示的Velox是什么版本？框選放大功能是哪個版本有的？

這次用的是Z新的Velox 2.11。2.10版本加入了框選放大等功能。Velox還在持續(xù)保持更新，只要用戶的TEM Server版本支持即可自行免費升級。

Q：沒有球差還能看到原子像？這么厲害？

Talos F200X的STEM分辨率驗收指標(biāo)為0.16nm，實際使用時分辨率會優(yōu)于此數(shù)值，Talos上也可以拍出硅[110]帶軸的啞鈴結(jié)構(gòu)（硅啞鈴原子間距0.14nm）。

Q：為什么用鈦酸鍶，是容易看嗎？

在鈦酸鍶[100]帶軸上是可以看到原子像的，鈦和鍶兩種原子在HAADF上有比較好的襯度差異，同時也可以通過Z新iDPC技術(shù)獲取HAADF下沒辦法實現(xiàn)的氧原子位置的表征，能夠直觀地給大家展示Talos的性能。

Q：做STEM都不用調(diào)Ronchigram了嗎？

Talos上調(diào)Ronchigram不是必須的，系統(tǒng)穩(wěn)定性很好，可以直接調(diào)用STEM光路文件。日常使用也可以用我們演示的AutoSTEM功能自動調(diào)整象散。只有在狀態(tài)比較差的情況下才需要檢查Ronchigram。

私信主編的老鐵們請注意  

錯過直播不用愁

直播視頻回放，可掃碼觀看

昨天，“TEM快速準(zhǔn)確的成分分析”微直播受到了眾多老鐵們的追捧及提問。明天周五，還有一場“FIB之GX新一代雙束電鏡” 微直播等待大家；四月我們還會推出更多系列的網(wǎng)絡(luò)講堂，請您持續(xù)關(guān)注！

“TEM快速準(zhǔn)確的成分分析”直播答疑匯總

Q：Velox可以進(jìn)行能譜基線校準(zhǔn)嗎？

在電鏡的安裝調(diào)試階段，會由安裝工程師使用專用軟件對譜線峰位進(jìn)行校準(zhǔn)。

Q：扣背底的參數(shù)可以自己調(diào)整嗎？

在Velox自動完成扣背底之后，可以在Integrated Spectra上進(jìn)行手動調(diào)整，包括背底模型、背底窗口等參數(shù)。

Q：沒有Fe等雜峰信號是Talos的特殊設(shè)計么？之前的TF20就很高。

Tecnai系列使用側(cè)插能譜，受制于能譜安裝方向和樣品傾轉(zhuǎn)角，會有較多的鏡筒干擾信號。Super-X距離樣品較近，且探頭直接朝向樣品，很少會采集到來自于鏡筒和極靴的X射線信號，顯著降低了干擾信號的接收，能夠獲得目前市面上Z干凈的能譜。電鏡鏡筒內(nèi)實測的峰背比至少超過4000。

Q：請問哪里有關(guān)于四種STEM探頭特性的介紹？四個探頭同時使用與單個探頭使用相比，圖像采集時間是否增加？

Talos 采用的四個STEM成像探頭同軸安裝于相機(jī)上方，能夠通過Velox軟件同時采集并實現(xiàn)漂移校正（DCFI）功能。不同的探頭接收不同收集角的信號，從而獲得環(huán)形暗場（ADF）、環(huán)形明場（ABF）以及明場（BF）圖像的采集。此外，調(diào)整相機(jī)長度可以改變探頭的接受角范圍，實現(xiàn)不同類型圖像信息的采集，例如用同一個探頭可以分別獲取ABF和ADF圖像。四個探頭具備獨立的信號通道，數(shù)據(jù)可以同時采集處理，與單個探頭使用相同參數(shù)設(shè)置相比，圖像采集時間沒有顯著差別。

Q：Velox的能譜數(shù)據(jù)如何導(dǎo)出原始數(shù)據(jù)，比如每個像素的計數(shù)，以便后期用其他軟件讀取處理？

Velox處理好的數(shù)據(jù)可以直接輸出tif、mrc等圖像文件和csv等數(shù)據(jù)文件。Velox的能譜原始數(shù)據(jù)使用了HyperSpy數(shù)據(jù)流格式保存，可以用相應(yīng)的軟件查看。

Q：樣品測量前已經(jīng)知道樣品中包含的元素嗎？還是通過相互作用判斷出是什么元素？

此次直播演示的樣品，預(yù)先有初步的元素信息。當(dāng)然也可以利用電鏡中的能譜，通過電子與樣品核外電子相互作用產(chǎn)生對應(yīng)于元素的特征能量X射線，來判斷元素種類。由于TEM是一種在極小尺度上進(jìn)行采樣表征的工具，微納尺度元素分布情況和宏觀有時會有出入，因此在TEM測試前如對樣品中包含元素情況有基本的了解，會更容易進(jìn)行元素分析。

Q：樣品厚度怎么測量？

樣品厚度的測量在TEM中有兩種常用的方法，一種是通過電子能量損失譜（EELS），另一種是利用匯聚束電子衍射（CBED）花樣進(jìn)行分析。

Q：如果樣品傾轉(zhuǎn)了這個吸收矯正還可以用么？四個能譜探頭一起定量？

樣品傾轉(zhuǎn)后的吸收校正在Talos電鏡中可以實現(xiàn)。Velox軟件中的吸收校正模型綜合考慮了樣品傾轉(zhuǎn)情形下樣品桿和探頭的幾何分布，能夠處理遮擋、吸收等因素造成的四個探頭收集信號不一致等影響，提高定量準(zhǔn)確度。這是其他電鏡的能譜探頭及軟件所不能夠?qū)崿F(xiàn)的。

Q：這個定量計算對樣品有什么要求嗎？

嚴(yán)格的EDS譜定量計算需要考慮樣品厚度、密度等多種因素。Velox軟件可對多種定量相關(guān)參數(shù)進(jìn)行設(shè)置，以便獲得更加準(zhǔn)確的定量結(jié)果。

Q：前處理和后處理有區(qū)別嗎？

前處理Pre-filter基于每個像素的能譜原始數(shù)據(jù)進(jìn)行處理，能夠獲得更加準(zhǔn)確可靠的定量結(jié)果，計算量較大，需要對分析相關(guān)知識和樣品情況有一定的了解；后處理Post-filter是對軟件獲得的面掃結(jié)果進(jìn)行圖像處理，簡單易用，消耗計算資源很少。

Q：采集一組EDS Tomography數(shù)據(jù)需要多少時間？

具體的采集時間與實驗條件和需求有很大關(guān)系， 可以根據(jù)需求設(shè)置單張EDS Mapping的采集時間，并根據(jù)角度范圍進(jìn)行估算。

Q：B掃不出來怎么解決？

B由于是較輕元素，相對重元素來說信號產(chǎn)生量低很多，較低含量情況中在EDS采集中比較難以獲得。在Velox軟件中，可以通過Super-X采集模式的設(shè)置，使用High Resolution模式進(jìn)行優(yōu)化。

Q：做EDX時，如果要提高FEG的電流，Talos上如何操作？極限電流可以到多少？探頭的dead time 會飽和嗎？

Talos 200X配備了特有的X-FEG高亮場發(fā)射槍，在保證束斑尺寸和分辨率相同的前提下能夠獲得更高的束斑電流。在操作上，減小Gun Lens、減小Spot Size，使用更大的聚光鏡光闌都可以獲得更高的束流。極限束流能達(dá)到幾十nA。Super-X具有極高的速度，Z高通量超過800 kcps，在正常使用中基本不會出現(xiàn)飽和情況。

錯過直播不用愁

掃碼獲得回放視頻觀看鏈接

隨著材料科學(xué)、化學(xué)化工、半導(dǎo)體及薄膜、能源、微電子、信息產(chǎn)業(yè)及環(huán)境領(lǐng)域等高新技術(shù)的迅猛發(fā)展，表面分析技術(shù)在過去的幾十年中有了長足進(jìn)步，在科學(xué)研究領(lǐng)域作用日益增長；于此同時，隨著X射線光電子能譜儀的普及，廣大客戶對XPS設(shè)備應(yīng)用培訓(xùn)的需求也日益增加。

由于今年突發(fā)疫情，受疫情影響，不能去到客戶現(xiàn)場展開應(yīng)用培訓(xùn)工作，使很多客戶不能得到及時有效的現(xiàn)場應(yīng)用培訓(xùn)服務(wù)。為了滿足廣大客戶應(yīng)用培訓(xùn)的需求，讓客戶深入了解光電子能譜技術(shù)的儀器性能特點，充分發(fā)揮已購儀器在教學(xué)科研生產(chǎn)工作中的作用，提高廣大表面分析用戶的分析測試水平，充分發(fā)揮儀器的功效，賽默飛將組織公司XPS應(yīng)用專家，在上海Demo實驗室為廣大客戶展開現(xiàn)場應(yīng)用培訓(xùn)，歡迎有應(yīng)用培訓(xùn)需求的客戶報名參加。

一．課程簡介： 

本應(yīng)用培訓(xùn)班旨在使學(xué)員熟悉儀器結(jié)構(gòu)、XPS的原理、應(yīng)用等方面的知識，提升軟件操作、數(shù)據(jù)分析、儀器維護(hù)等方面的能力。在培訓(xùn)班上，通過上機(jī)操作、理論培訓(xùn)、案例分享等方式，提高學(xué)員儀器操作、數(shù)據(jù)分析和圖譜解析的能力，提升學(xué)員XPS理論和實踐水平，助力日后的科研工作。由于本課程需要一定的理論及實踐基礎(chǔ)，有一定儀器使用經(jīng)驗的用戶報名本培訓(xùn)班效果ZJ。 

2020年度現(xiàn)場應(yīng)用培訓(xùn)班擬開班2期，每期招生5-8人，采用線上自主報名，滿員即可開班。根據(jù)學(xué)員應(yīng)用培訓(xùn)需求，定制相關(guān)培訓(xùn)內(nèi)容。

二. 授課內(nèi)容： 

本培訓(xùn)班有全方位的應(yīng)用培訓(xùn)課程，學(xué)員可根據(jù)自身需求，選擇相關(guān)培訓(xùn)內(nèi)容。應(yīng)用培訓(xùn)課程如下：

三. 授課團(tuán)隊： 

本應(yīng)用培訓(xùn)將組織賽默飛應(yīng)用專家來展開培訓(xùn)，培訓(xùn)應(yīng)用專家團(tuán)隊如下表所示：

四. 日程安排： 

2020年度XPS應(yīng)用培訓(xùn)日程安排如下：

五. 費用說明： 

該培訓(xùn)可使用儀器銷售合同中購買的應(yīng)用培訓(xùn)名額；差旅食宿費需客戶自理。 

六. 注意事項： 

1. 學(xué)員自行承擔(dān)往返交通費及培訓(xùn)期間食宿費；交通、酒店均需學(xué)員自行預(yù)訂（我們會在詳細(xì)通知中提供周邊酒店信息供學(xué)員參考）。

2. 本培訓(xùn)謝絕旁聽；學(xué)員不可帶未成年人一同前往，請理解和配合。

3. 請攜帶好身份證，以便門禁登記。

4. 本XPS培訓(xùn)班通知函會提前制作并蓋章，培訓(xùn)結(jié)束后學(xué)員可直接帶回。如XPS培訓(xùn)班通知函不滿足貴單位報銷要求，請收到培訓(xùn)邀請函后自行編輯打印出符合貴單位格式的培訓(xùn)通知函，可提前寄給相關(guān)工作人員，工作人員會給貴單位材料申請蓋章。

5. 如果報名后因其它原因不能來參加XPS培訓(xùn)班的學(xué)員，請至少提前2星期通知相關(guān)聯(lián)系人，以免影響其他學(xué)員在線占座報名，臨時取消，則名額作廢。

如您對此次培訓(xùn)班相關(guān)情況及培訓(xùn)內(nèi)容仍有任何問題或疑問，請聯(lián)系如下聯(lián)系人：

葛青親 albert.ge@thermofisher.com;  13774363530

孫文武 wenwu.sun@thermofisher.com; 18501718273

史南南 nannan.shi@thermofisher.com；15600380072

為保證培訓(xùn)效果，每次培訓(xùn)人數(shù)5~8人，歡迎有意參加本培訓(xùn)班的學(xué)員提前來電報名或給我們留言，席位有限，報名從速！

額滿后通知學(xué)員開班信息。

歡迎來自世界各地的表面分析用戶加入我們于10月15日16:00舉辦的Ignite Surface Analysis網(wǎng)絡(luò)研討會，本次研討會將邀請到多位頂 尖表面分析專家，與您分享他們的ZX想法和研究成果，以幫助您控制產(chǎn)品質(zhì)量、改進(jìn)失效分析方法，以及實現(xiàn)科研的突破。

隨著人們對高性能材料需求的增加，表面分析技術(shù)的重要性也隨之增加。材料表面是樣品和環(huán)境發(fā)生相互作用的位置，因此，只有了解材料表面或界面處發(fā)生的物理和化學(xué)相互作用，才能解決與現(xiàn)代材料相關(guān)的許多問題，諸如腐蝕速率、催化活性、粘合性能、潤濕性、接觸電勢和失效機(jī)理等。表面改性技術(shù)可用于改變或改善這些特性，因此，表面分析技術(shù)對于了解材料的表面化學(xué)性質(zhì)以及研究表面改性，材料失效機(jī)理或開發(fā)新器件非常重要。

快來加入我們與專家一起：

1 加深您對表面分析的了解

2 突破生產(chǎn)力和創(chuàng)新的界限

3 學(xué)習(xí)可靠的實驗工具和可復(fù)制的解決方案，以簡化和加速您的工作流程

此次研討會還特設(shè)“Ask the applications team”圓桌討論環(huán)節(jié)。您對如何進(jìn)行表面分析實驗或如何處理數(shù)據(jù)有疑問嗎？您想知道如何為一個復(fù)雜的樣本建立實驗流程嗎？千萬不要錯過向我們的科學(xué)家尋求幫助的機(jī)會！從XPS分析的基礎(chǔ)知識到PCA分析等高級處理，包括ISS、REELS和UPS等相關(guān)技術(shù)，我們的專家將在研討會上提供答案！

研討會日程：北京時間 10月15日

報名方式

報名后請關(guān)注郵件通知，系統(tǒng)將自動發(fā)送觀看方式。

賽默飛XPS系列產(chǎn)品

現(xiàn)在就注冊，在線參與我們的網(wǎng)絡(luò)研討會吧！