上周，賽默飛電鏡網(wǎng)絡講堂系列圓滿落幕，感謝眾多老鐵們的觀看及提問。賽默飛電鏡演示微直播仍在火熱進行，未來我們還會推出更多系列的網(wǎng)絡講堂，請您持續(xù)關注！

“TEMGX高質(zhì)量掃描透射成像”直播答疑匯總

Q：Smart Tilt這個功能大概是哪年開始有的？轉(zhuǎn)角度有什么要求？

Smart Tilt是2016年推出的。裝機工程師做簡單的校準后，用戶只需要使用配套的雙傾樣品桿，按演示的操作即可，非常簡便。

Q：TEM mode下不斷改放大倍數(shù)會把CCD燒了嗎？

這次演示的TEM操作是在Talos配備的熒光屏相機上進行的，具有高動態(tài)范圍，對于透射圖像、衍射花樣和菊池線都可以直接觀察。

Q：這次演示的Velox是什么版本？框選放大功能是哪個版本有的？

這次用的是Z新的Velox 2.11。2.10版本加入了框選放大等功能。Velox還在持續(xù)保持更新，只要用戶的TEM Server版本支持即可自行免費升級。

Q：沒有球差還能看到原子像？這么厲害？

Talos F200X的STEM分辨率驗收指標為0.16nm，實際使用時分辨率會優(yōu)于此數(shù)值，Talos上也可以拍出硅[110]帶軸的啞鈴結(jié)構(gòu)（硅啞鈴原子間距0.14nm）。

Q：為什么用鈦酸鍶，是容易看嗎？

在鈦酸鍶[100]帶軸上是可以看到原子像的，鈦和鍶兩種原子在HAADF上有比較好的襯度差異，同時也可以通過Z新iDPC技術獲取HAADF下沒辦法實現(xiàn)的氧原子位置的表征，能夠直觀地給大家展示Talos的性能。

Q：做STEM都不用調(diào)Ronchigram了嗎？

Talos上調(diào)Ronchigram不是必須的，系統(tǒng)穩(wěn)定性很好，可以直接調(diào)用STEM光路文件。日常使用也可以用我們演示的AutoSTEM功能自動調(diào)整象散。只有在狀態(tài)比較差的情況下才需要檢查Ronchigram。

昨天，“TEM快速準確的成分分析”微直播受到了眾多老鐵們的追捧及提問。明天周五，還有一場“FIB之GX新一代雙束電鏡” 微直播等待大家；四月我們還會推出更多系列的網(wǎng)絡講堂，請您持續(xù)關注！

“TEM快速準確的成分分析”直播答疑匯總

Q：Velox可以進行能譜基線校準嗎？

在電鏡的安裝調(diào)試階段，會由安裝工程師使用專用軟件對譜線峰位進行校準。

Q：扣背底的參數(shù)可以自己調(diào)整嗎？

在Velox自動完成扣背底之后，可以在Integrated Spectra上進行手動調(diào)整，包括背底模型、背底窗口等參數(shù)。

Q：沒有Fe等雜峰信號是Talos的特殊設計么？之前的TF20就很高。

Tecnai系列使用側(cè)插能譜，受制于能譜安裝方向和樣品傾轉(zhuǎn)角，會有較多的鏡筒干擾信號。Super-X距離樣品較近，且探頭直接朝向樣品，很少會采集到來自于鏡筒和極靴的X射線信號，顯著降低了干擾信號的接收，能夠獲得目前市面上Z干凈的能譜。電鏡鏡筒內(nèi)實測的峰背比至少超過4000。

Q：請問哪里有關于四種STEM探頭特性的介紹？四個探頭同時使用與單個探頭使用相比，圖像采集時間是否增加？

Talos 采用的四個STEM成像探頭同軸安裝于相機上方，能夠通過Velox軟件同時采集并實現(xiàn)漂移校正（DCFI）功能。不同的探頭接收不同收集角的信號，從而獲得環(huán)形暗場（ADF）、環(huán)形明場（ABF）以及明場（BF）圖像的采集。此外，調(diào)整相機長度可以改變探頭的接受角范圍，實現(xiàn)不同類型圖像信息的采集，例如用同一個探頭可以分別獲取ABF和ADF圖像。四個探頭具備獨立的信號通道，數(shù)據(jù)可以同時采集處理，與單個探頭使用相同參數(shù)設置相比，圖像采集時間沒有顯著差別。

Q：Velox的能譜數(shù)據(jù)如何導出原始數(shù)據(jù)，比如每個像素的計數(shù)，以便后期用其他軟件讀取處理？

Velox處理好的數(shù)據(jù)可以直接輸出tif、mrc等圖像文件和csv等數(shù)據(jù)文件。Velox的能譜原始數(shù)據(jù)使用了HyperSpy數(shù)據(jù)流格式保存，可以用相應的軟件查看。

Q：樣品測量前已經(jīng)知道樣品中包含的元素嗎？還是通過相互作用判斷出是什么元素？

此次直播演示的樣品，預先有初步的元素信息。當然也可以利用電鏡中的能譜，通過電子與樣品核外電子相互作用產(chǎn)生對應于元素的特征能量X射線，來判斷元素種類。由于TEM是一種在極小尺度上進行采樣表征的工具，微納尺度元素分布情況和宏觀有時會有出入，因此在TEM測試前如對樣品中包含元素情況有基本的了解，會更容易進行元素分析。

Q：樣品厚度怎么測量？

樣品厚度的測量在TEM中有兩種常用的方法，一種是通過電子能量損失譜（EELS），另一種是利用匯聚束電子衍射（CBED）花樣進行分析。

Q：如果樣品傾轉(zhuǎn)了這個吸收矯正還可以用么？四個能譜探頭一起定量？

樣品傾轉(zhuǎn)后的吸收校正在Talos電鏡中可以實現(xiàn)。Velox軟件中的吸收校正模型綜合考慮了樣品傾轉(zhuǎn)情形下樣品桿和探頭的幾何分布，能夠處理遮擋、吸收等因素造成的四個探頭收集信號不一致等影響，提高定量準確度。這是其他電鏡的能譜探頭及軟件所不能夠?qū)崿F(xiàn)的。

Q：這個定量計算對樣品有什么要求嗎？

嚴格的EDS譜定量計算需要考慮樣品厚度、密度等多種因素。Velox軟件可對多種定量相關參數(shù)進行設置，以便獲得更加準確的定量結(jié)果。

Q：前處理和后處理有區(qū)別嗎？

前處理Pre-filter基于每個像素的能譜原始數(shù)據(jù)進行處理，能夠獲得更加準確可靠的定量結(jié)果，計算量較大，需要對分析相關知識和樣品情況有一定的了解；后處理Post-filter是對軟件獲得的面掃結(jié)果進行圖像處理，簡單易用，消耗計算資源很少。

Q：采集一組EDS Tomography數(shù)據(jù)需要多少時間？

具體的采集時間與實驗條件和需求有很大關系， 可以根據(jù)需求設置單張EDS Mapping的采集時間，并根據(jù)角度范圍進行估算。

Q：B掃不出來怎么解決？

B由于是較輕元素，相對重元素來說信號產(chǎn)生量低很多，較低含量情況中在EDS采集中比較難以獲得。在Velox軟件中，可以通過Super-X采集模式的設置，使用High Resolution模式進行優(yōu)化。

Q：做EDX時，如果要提高FEG的電流，Talos上如何操作？極限電流可以到多少？探頭的dead time 會飽和嗎？

Talos 200X配備了特有的X-FEG高亮場發(fā)射槍，在保證束斑尺寸和分辨率相同的前提下能夠獲得更高的束斑電流。在操作上，減小Gun Lens、減小Spot Size，使用更大的聚光鏡光闌都可以獲得更高的束流。極限束流能達到幾十nA。Super-X具有極高的速度，Z高通量超過800 kcps，在正常使用中基本不會出現(xiàn)飽和情況。

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周三，賽默飛首次電鏡演示微直播之TEMGX高質(zhì)量掃描透射成像圓滿落幕，感謝眾多老鐵們的觀看及提問，賽默飛電鏡演示微直播還在火熱進行，請您持續(xù)關注！

直播答疑匯總

Q：Smart Tilt這個功能大概是哪年開始有的？轉(zhuǎn)角度有什么要求？

Smart Tilt是2016年推出的。裝機工程師做簡單的校準后，用戶只需要使用配套的雙傾樣品桿，按演示的操作即可，非常簡便。

Q：TEM mode下不斷改放大倍數(shù)會把CCD燒了嗎？

這次演示的TEM操作是在Talos配備的熒光屏相機上進行的，具有高動態(tài)范圍，對于透射圖像、衍射花樣和菊池線都可以直接觀察。

Q：這次演示的Velox是什么版本？框選放大功能是哪個版本有的？

這次用的是Z新的Velox 2.11。2.10版本加入了框選放大等功能。Velox還在持續(xù)保持更新，只要用戶的TEM Server版本支持即可自行免費升級。

Q：沒有球差還能看到原子像？這么厲害？

Talos F200X的STEM分辨率驗收指標為0.16nm，實際使用時分辨率會優(yōu)于此數(shù)值，Talos上也可以拍出硅[110]帶軸的啞鈴結(jié)構(gòu)（硅啞鈴原子間距0.14nm）。

Q：為什么用鈦酸鍶，是容易看嗎？

在鈦酸鍶[100]帶軸上是可以看到原子像的，鈦和鍶兩種原子在HAADF上有比較好的襯度差異，同時也可以通過Z新iDPC技術獲取HAADF下沒辦法實現(xiàn)的氧原子位置的表征，能夠直觀地給大家展示Talos的性能。

Q：做STEM都不用調(diào)Ronchigram了嗎？

Talos上調(diào)Ronchigram不是必須的，系統(tǒng)穩(wěn)定性很好，可以直接調(diào)用STEM光路文件。日常使用也可以用我們演示的AutoSTEM功能自動調(diào)整象散。只有在狀態(tài)比較差的情況下才需要檢查Ronchigram。

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賽默飛鋼鐵行業(yè)智能制造網(wǎng)絡研討會

回放來嘍！

就算錯過也沒關系

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滿滿干貨馬上GET

直播回放日程

本次網(wǎng)絡研討會，有來自國內(nèi)大型鋼鐵制造企業(yè)的高級工程師以及賽默飛的專家們一起探討鋼鐵生產(chǎn)制造中的前沿智能制造技術，希望通過先進、智能的解決方案讓企業(yè)在未來的發(fā)展中占據(jù)領先地位。

高攀  首鋼集團有限公司技術研究院冶煉技術首席工程師

210T轉(zhuǎn)爐自動煉鋼的應用

杜駿喜  西馬克技術（北京）電氣自動化部主任級高級工程師

改進的轉(zhuǎn)爐煙氣控制和吹煉終點預測——轉(zhuǎn)爐煙氣模型

彭永強  賽默飛環(huán)境監(jiān)測產(chǎn)品應用技術主管

賽默飛過程質(zhì)譜儀在智慧煉鋼過程中的氣體檢測應用簡介

江同收  賽默飛礦物分析產(chǎn)品銷售經(jīng)理

燒結(jié)配料的在線元素分析介紹

經(jīng)銷商招募會

作為賦能科技進步的全 球領 導者，賽默飛世爾科技從未停止過合作共贏的腳步。公司一直致力于開發(fā)渠道銷售，增強經(jīng)銷商實力，尊重和依靠廣大合作伙伴。

為了更好地滿足如今日益增長的市場需求，賽默飛光譜業(yè)務渠道團隊向全國范圍內(nèi)誠邀經(jīng)銷商加入我們合作伙伴行列。2022年12月30日（周五）下午14:00，我們將線上進行一場經(jīng)銷商招募會，向您介紹我們豐富的產(chǎn)品線、靈活多變的合作模式、成功的應用案例。歡迎廣大朋友前來，攜手并進，共創(chuàng)共贏！

我們的產(chǎn)品

我們有三大產(chǎn)品線… …

1、分光光度計系列

2、洗瓶機/酸洗機系列

3、小核磁系列

我們有廣泛的應用領域… …

如要了解更多，快來注冊我們的招募會直播！

更有諸多好禮相送！

直播時間

2022年12月30日（周五），14:00-15:00

參與方式

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進入直播間填寫報名信息并預約。

參與福利

本次直播最 后還將進行抽獎活動，隨機挑出共20名在線觀眾，送上精美的“雙飲隨手玻璃杯”或“運動束口袋”一個。

聯(lián)系人

何丹宇，158-0131-0649

esther.he@thermofisher.com

期待您加入成為我們的合作伙伴

攜手幫助客戶使世界

更健康、更清潔、更安全

親愛的制藥行業(yè)朋友們：

分析儀器是實驗室數(shù)據(jù)可靠的首要基礎，如何基于風險對分析儀器進行合規(guī)分類，并根據(jù)儀器風險程度開展正確的儀器確認是實驗室的首要任務。企業(yè)應當確定需要進行的確認或驗證工作，以證明有關操作的關鍵要素能夠得到有效控制。確認或驗證的范圍和程度應當經(jīng)過風險評估來確定。

但是，您或許會問：

儀器分類有啥意義和必要性？

都有哪些法規(guī)依據(jù)？

如何準確的判定實驗室儀器分類？

賽家的儀器在此方面又有何優(yōu)勢？

本周二19:30，賽默飛攜手允咨讀書會開辦免費直播，并特邀驗證與風險管理專家 馬義嶺教授主講《實驗室分析儀器風險評估和確認策略》，基于USP/OMCL/PDA 指南理念，對于制藥企業(yè)實驗室主流的儀器的分類評估方式進行介紹，并同時對儀器在分類評估后的全生命周期的確認策略進行描述。 

特邀講師介紹

馬義嶺，驗證與風險管理專家、北京化工大學&沈陽藥科大學顧問教授。承擔并完成多個大型制藥企業(yè)和合資藥廠的國際認證驗證項目，作為國內(nèi)專業(yè)培訓講師，先后受邀在國內(nèi)各省市藥監(jiān)局及制藥技術協(xié)會進行公益演講和培訓近百場。

文末獨 家揭秘

此次賽家紫外和紅外兩款產(chǎn)品還將在直播中壓軸登場，為您解析賽家儀器在制藥領域及實驗室合規(guī)方面的強大優(yōu)勢！在此先給大家透露一部分產(chǎn)品預告，明晚19:30來直播間，再與大家好好聊，更有意想不到的驚喜好禮相送哦~

賽默飛Evolution 350 紫外可見分光光度計

·高級QA/QC客戶及研究型實驗室；

·良好的技術指標，吸光度范圍>4；

·長壽命氙燈光源；

·附件齊全，滿足高級應用需求；

·需要大型的樣品倉；

·滿足21 CFR Part 11 法規(guī)的安全軟件；

·3Q認證。

賽默飛Nicolet Summit傅里葉紅外光譜儀

·提高數(shù)據(jù)重現(xiàn)性：Z先進的紅外光源消除了熱點遷移，使光譜數(shù)據(jù)的一致性更高，尤其適用于通過衰減全反射 (ATR) 附件得到的數(shù)據(jù)；

·低成本：干涉儀、激光和紅外光源擁有 10 年質(zhì)保期，保證了Z少的維護；

·配置靈活， 提供針對不同應用和不同預算的選擇；經(jīng)工廠驗證的性能指標保證在每一臺儀器上都能實現(xiàn)，您可以在預算內(nèi)選擇符合您實驗室樣品需求的配置；

·OMNIC Paradigm 軟件，縮短工作時間。

明晚19:30，不見不散

土壤半揮發(fā)性有機物檢測整體解決方案

超級微波技術綜述及其在元素分析中的應用

濕法消解綜述