建筑、運輸和基礎(chǔ)設(shè)施行業(yè)中的現(xiàn)代JD金屬越來越多地被設(shè)計成納米級，以提高其耐用性、可靠性和成本。即使是傳統(tǒng)工藝，現(xiàn)在也增加了顯微鏡檢測，以確定ZZ材料的元素和結(jié)構(gòu)組成。電子顯微技術(shù)的持續(xù)發(fā)展，以滿足金屬工業(yè)的嚴(yán)格需求，這使得分析不僅更具信息量，而且要快得多。在掃描電子顯微鏡（SEM）中加入聚焦離子束（FIB），可以將失效分析和界面表征帶入三維空間。

本次直播中，演講者將通過使用不同行業(yè)的案例，全面介紹FIB-SEM在金屬分析中的應(yīng)用。與會者將學(xué)習(xí)：

●如何使用FIB快速磨入缺陷區(qū)域，并用SEM成像感興趣的區(qū)域

●如何制作一系列FIB切片，并觀察裂紋如何通過渦輪葉片涂層在3D中擴展

●如何可視化鍋爐鋼板焊縫微觀結(jié)構(gòu)的變化

●鋼軌鋼產(chǎn)生裂紋的原因是什么

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隨著納米材料在生活生產(chǎn)各方面應(yīng)用的日趨廣泛，研究的愈加深入，乃至相應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)與法規(guī)的建立與完善；對納米材料的研究與檢測的需求，也從單純的形貌、結(jié)構(gòu)等微觀因素的表征分析，更進(jìn)一步到需求在更大區(qū)域上獲得更具體統(tǒng)計意義和科學(xué)意義的大量數(shù)據(jù)，這就要求更加穩(wěn)定的電鏡平臺、更加便捷的數(shù)據(jù)獲取方式、更具有重復(fù)性的數(shù)據(jù)結(jié)果、以及更加gao效的數(shù)據(jù)分析工具。

針對上述需求，基于我們目前現(xiàn)代化的高穩(wěn)定性電鏡平臺、全自動的數(shù)據(jù)采集軟件Maps、智能化的數(shù)據(jù)自動分析平臺Avizo2D，我們開發(fā)了一套完整的納米顆粒材料分析解決方案: APW (Automated NanoPartical Workflow)。它可以搭載在我們所有的電鏡平臺上，在無人值守的情況下，完成自定義大區(qū)域的在線全自動數(shù)據(jù)采集與數(shù)據(jù)分析工作，極大提高了數(shù)據(jù)的采集與分析效率，并且極大降低了人為因素的干擾，可以方便快捷地獲得大量納米顆粒各方面特性的準(zhǔn)確統(tǒng)計數(shù)據(jù)，對相應(yīng)的檢驗檢測與科學(xué)研究意義重大。

賽默飛將于8月19日上午舉辦一場關(guān)于“zui新納米顆粒材料分析解決方案”的直播講座，歡迎掃碼注冊觀看直播！

周三，賽默飛首次電鏡演示微直播之TEMGX高質(zhì)量掃描透射成像圓滿落幕，感謝眾多老鐵們的觀看及提問，賽默飛電鏡演示微直播還在火熱進(jìn)行，請您持續(xù)關(guān)注！

直播答疑匯總

Q：Smart Tilt這個功能大概是哪年開始有的？轉(zhuǎn)角度有什么要求？

Smart Tilt是2016年推出的。裝機工程師做簡單的校準(zhǔn)后，用戶只需要使用配套的雙傾樣品桿，按演示的操作即可，非常簡便。

Q：TEM mode下不斷改放大倍數(shù)會把CCD燒了嗎？

這次演示的TEM操作是在Talos配備的熒光屏相機上進(jìn)行的，具有高動態(tài)范圍，對于透射圖像、衍射花樣和菊池線都可以直接觀察。

Q：這次演示的Velox是什么版本？框選放大功能是哪個版本有的？

這次用的是Z新的Velox 2.11。2.10版本加入了框選放大等功能。Velox還在持續(xù)保持更新，只要用戶的TEM Server版本支持即可自行免費升級。

Q：沒有球差還能看到原子像？這么厲害？

Talos F200X的STEM分辨率驗收指標(biāo)為0.16nm，實際使用時分辨率會優(yōu)于此數(shù)值，Talos上也可以拍出硅[110]帶軸的啞鈴結(jié)構(gòu)（硅啞鈴原子間距0.14nm）。

Q：為什么用鈦酸鍶，是容易看嗎？

在鈦酸鍶[100]帶軸上是可以看到原子像的，鈦和鍶兩種原子在HAADF上有比較好的襯度差異，同時也可以通過Z新iDPC技術(shù)獲取HAADF下沒辦法實現(xiàn)的氧原子位置的表征，能夠直觀地給大家展示Talos的性能。

Q：做STEM都不用調(diào)Ronchigram了嗎？

Talos上調(diào)Ronchigram不是必須的，系統(tǒng)穩(wěn)定性很好，可以直接調(diào)用STEM光路文件。日常使用也可以用我們演示的AutoSTEM功能自動調(diào)整象散。只有在狀態(tài)比較差的情況下才需要檢查Ronchigram。

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葵花籽油配方中的氧化測試分析

OXITEST油脂氧化分析儀能為不同配方的食品氧化穩(wěn)定性分析提供快速可靠的分析結(jié)果，并且找到食品和飼料行業(yè)中潛在的葵花籽油替代品。

葵花籽油是許多食品和非食品生產(chǎn)線的重要基礎(chǔ)。食用油在食品，烘焙和畜牧業(yè)用面粉中備受重視。在另一方面，油酸脂對該行業(yè)也至關(guān)重要。

許多公司現(xiàn)在都面臨著下一步的挑戰(zhàn)，其中包括為他們的產(chǎn)品尋找可能的替代品。

不飽和脂肪酸的氧化是油脂和種子的保質(zhì)期研究中最關(guān)鍵的因素之一。它直接影響到產(chǎn)品保質(zhì)期的改變。

找到正確的儀器和方法來評估氧化穩(wěn)定性對新配方的影響，以確定葵花籽油的潛在替代品，對研發(fā)實驗室來說至關(guān)重要。

VELP的 解決方案是OXITEST油脂氧化分析儀，能夠獲得食品樣品在油脂氧化過程中的高附加值信息。根據(jù)標(biāo)準(zhǔn) AOCS Cd-12c-16 程序獲得可靠和準(zhǔn)確的結(jié)果。

OXITEST 方法和公式的比較功能可提供快速可靠的結(jié)果

OXITEST 油脂氧化分析儀加速氧化過程，通常持續(xù)數(shù)周或數(shù)月。將樣品置于兩個單獨的鈦室中，并在90°C/194°F的恒溫和6bar的氧分壓下經(jīng)受高氧化應(yīng)力。

抗氧化性由“誘導(dǎo)期"IP表示，即達(dá)到氧化起始點所需的時間，對應(yīng)于可檢測的酸敗水平或由于產(chǎn)品消耗的氧氣總量導(dǎo)致的氧化速率的突然變化。誘導(dǎo)期越長，氧化穩(wěn)定性越高。

強大的VELP OXISoftTM軟件可控制多達(dá)4臺儀器。選擇“配方比較"選項，可以比較不同的配方，區(qū)分產(chǎn)品的氧化穩(wěn)定性。

因此，OXITEST可以為評估葵花籽油的潛在替代品以及分析這些替代品在保質(zhì)期和產(chǎn)品質(zhì)量方面的影響提供支持。

得益于與VELP Ermes云平臺的連接，OXITEST能夠減少日常操作，您還可隨時隨地從PC、智能手機或平板電腦實時監(jiān)控儀器。

上周，賽默飛電鏡網(wǎng)絡(luò)講堂系列圓滿落幕，感謝眾多老鐵們的觀看及提問。賽默飛電鏡演示微直播仍在火熱進(jìn)行，未來我們還會推出更多系列的網(wǎng)絡(luò)講堂，請您持續(xù)關(guān)注！

“TEMGX高質(zhì)量掃描透射成像”直播答疑匯總

Q：Smart Tilt這個功能大概是哪年開始有的？轉(zhuǎn)角度有什么要求？

Smart Tilt是2016年推出的。裝機工程師做簡單的校準(zhǔn)后，用戶只需要使用配套的雙傾樣品桿，按演示的操作即可，非常簡便。

Q：TEM mode下不斷改放大倍數(shù)會把CCD燒了嗎？

這次演示的TEM操作是在Talos配備的熒光屏相機上進(jìn)行的，具有高動態(tài)范圍，對于透射圖像、衍射花樣和菊池線都可以直接觀察。

Q：這次演示的Velox是什么版本？框選放大功能是哪個版本有的？

這次用的是Z新的Velox 2.11。2.10版本加入了框選放大等功能。Velox還在持續(xù)保持更新，只要用戶的TEM Server版本支持即可自行免費升級。

Q：沒有球差還能看到原子像？這么厲害？

Talos F200X的STEM分辨率驗收指標(biāo)為0.16nm，實際使用時分辨率會優(yōu)于此數(shù)值，Talos上也可以拍出硅[110]帶軸的啞鈴結(jié)構(gòu)（硅啞鈴原子間距0.14nm）。

Q：為什么用鈦酸鍶，是容易看嗎？

在鈦酸鍶[100]帶軸上是可以看到原子像的，鈦和鍶兩種原子在HAADF上有比較好的襯度差異，同時也可以通過Z新iDPC技術(shù)獲取HAADF下沒辦法實現(xiàn)的氧原子位置的表征，能夠直觀地給大家展示Talos的性能。

Q：做STEM都不用調(diào)Ronchigram了嗎？

Talos上調(diào)Ronchigram不是必須的，系統(tǒng)穩(wěn)定性很好，可以直接調(diào)用STEM光路文件。日常使用也可以用我們演示的AutoSTEM功能自動調(diào)整象散。只有在狀態(tài)比較差的情況下才需要檢查Ronchigram。

昨天，“TEM快速準(zhǔn)確的成分分析”微直播受到了眾多老鐵們的追捧及提問。明天周五，還有一場“FIB之GX新一代雙束電鏡” 微直播等待大家；四月我們還會推出更多系列的網(wǎng)絡(luò)講堂，請您持續(xù)關(guān)注！

“TEM快速準(zhǔn)確的成分分析”直播答疑匯總

Q：Velox可以進(jìn)行能譜基線校準(zhǔn)嗎？

在電鏡的安裝調(diào)試階段，會由安裝工程師使用專用軟件對譜線峰位進(jìn)行校準(zhǔn)。

Q：扣背底的參數(shù)可以自己調(diào)整嗎？

在Velox自動完成扣背底之后，可以在Integrated Spectra上進(jìn)行手動調(diào)整，包括背底模型、背底窗口等參數(shù)。

Q：沒有Fe等雜峰信號是Talos的特殊設(shè)計么？之前的TF20就很高。

Tecnai系列使用側(cè)插能譜，受制于能譜安裝方向和樣品傾轉(zhuǎn)角，會有較多的鏡筒干擾信號。Super-X距離樣品較近，且探頭直接朝向樣品，很少會采集到來自于鏡筒和極靴的X射線信號，顯著降低了干擾信號的接收，能夠獲得目前市面上Z干凈的能譜。電鏡鏡筒內(nèi)實測的峰背比至少超過4000。

Q：請問哪里有關(guān)于四種STEM探頭特性的介紹？四個探頭同時使用與單個探頭使用相比，圖像采集時間是否增加？

Talos 采用的四個STEM成像探頭同軸安裝于相機上方，能夠通過Velox軟件同時采集并實現(xiàn)漂移校正（DCFI）功能。不同的探頭接收不同收集角的信號，從而獲得環(huán)形暗場（ADF）、環(huán)形明場（ABF）以及明場（BF）圖像的采集。此外，調(diào)整相機長度可以改變探頭的接受角范圍，實現(xiàn)不同類型圖像信息的采集，例如用同一個探頭可以分別獲取ABF和ADF圖像。四個探頭具備獨立的信號通道，數(shù)據(jù)可以同時采集處理，與單個探頭使用相同參數(shù)設(shè)置相比，圖像采集時間沒有顯著差別。

Q：Velox的能譜數(shù)據(jù)如何導(dǎo)出原始數(shù)據(jù)，比如每個像素的計數(shù)，以便后期用其他軟件讀取處理？

Velox處理好的數(shù)據(jù)可以直接輸出tif、mrc等圖像文件和csv等數(shù)據(jù)文件。Velox的能譜原始數(shù)據(jù)使用了HyperSpy數(shù)據(jù)流格式保存，可以用相應(yīng)的軟件查看。

Q：樣品測量前已經(jīng)知道樣品中包含的元素嗎？還是通過相互作用判斷出是什么元素？

此次直播演示的樣品，預(yù)先有初步的元素信息。當(dāng)然也可以利用電鏡中的能譜，通過電子與樣品核外電子相互作用產(chǎn)生對應(yīng)于元素的特征能量X射線，來判斷元素種類。由于TEM是一種在極小尺度上進(jìn)行采樣表征的工具，微納尺度元素分布情況和宏觀有時會有出入，因此在TEM測試前如對樣品中包含元素情況有基本的了解，會更容易進(jìn)行元素分析。

Q：樣品厚度怎么測量？

樣品厚度的測量在TEM中有兩種常用的方法，一種是通過電子能量損失譜（EELS），另一種是利用匯聚束電子衍射（CBED）花樣進(jìn)行分析。

Q：如果樣品傾轉(zhuǎn)了這個吸收矯正還可以用么？四個能譜探頭一起定量？

樣品傾轉(zhuǎn)后的吸收校正在Talos電鏡中可以實現(xiàn)。Velox軟件中的吸收校正模型綜合考慮了樣品傾轉(zhuǎn)情形下樣品桿和探頭的幾何分布，能夠處理遮擋、吸收等因素造成的四個探頭收集信號不一致等影響，提高定量準(zhǔn)確度。這是其他電鏡的能譜探頭及軟件所不能夠?qū)崿F(xiàn)的。

Q：這個定量計算對樣品有什么要求嗎？

嚴(yán)格的EDS譜定量計算需要考慮樣品厚度、密度等多種因素。Velox軟件可對多種定量相關(guān)參數(shù)進(jìn)行設(shè)置，以便獲得更加準(zhǔn)確的定量結(jié)果。

Q：前處理和后處理有區(qū)別嗎？

前處理Pre-filter基于每個像素的能譜原始數(shù)據(jù)進(jìn)行處理，能夠獲得更加準(zhǔn)確可靠的定量結(jié)果，計算量較大，需要對分析相關(guān)知識和樣品情況有一定的了解；后處理Post-filter是對軟件獲得的面掃結(jié)果進(jìn)行圖像處理，簡單易用，消耗計算資源很少。

Q：采集一組EDS Tomography數(shù)據(jù)需要多少時間？

具體的采集時間與實驗條件和需求有很大關(guān)系， 可以根據(jù)需求設(shè)置單張EDS Mapping的采集時間，并根據(jù)角度范圍進(jìn)行估算。

Q：B掃不出來怎么解決？

B由于是較輕元素，相對重元素來說信號產(chǎn)生量低很多，較低含量情況中在EDS采集中比較難以獲得。在Velox軟件中，可以通過Super-X采集模式的設(shè)置，使用High Resolution模式進(jìn)行優(yōu)化。

Q：做EDX時，如果要提高FEG的電流，Talos上如何操作？極限電流可以到多少？探頭的dead time 會飽和嗎？

Talos 200X配備了特有的X-FEG高亮場發(fā)射槍，在保證束斑尺寸和分辨率相同的前提下能夠獲得更高的束斑電流。在操作上，減小Gun Lens、減小Spot Size，使用更大的聚光鏡光闌都可以獲得更高的束流。極限束流能達(dá)到幾十nA。Super-X具有極高的速度，Z高通量超過800 kcps，在正常使用中基本不會出現(xiàn)飽和情況。

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