遠(yuǎn)鑄智能 (INTAMSYS) 是一家全世界領(lǐng)先的提供高性能材料3D打印和工業(yè)直接增材制造解決方案的高科技公司，由來(lái)自海內(nèi)外世界一流高科技公司從事多年精密設(shè)備開(kāi)發(fā)、高性能材料研究的工程師團(tuán)隊(duì)聯(lián)合創(chuàng)建。...

遠(yuǎn)鑄智能 (INTAMSYS) 是一家全世界領(lǐng)先的提供高性能材料3D打印和工業(yè)直接增材制造解決方案的高科技公司，由來(lái)自海內(nèi)外世界一流高科技公司從事多年精密設(shè)備開(kāi)發(fā)、高性能材料研究的工程師團(tuán)隊(duì)聯(lián)合創(chuàng)建。...

遠(yuǎn)鑄智能 (INTAMSYS) 是一家領(lǐng)先的提供高性能材料3D打印和工業(yè)直接增材制造解決方案的高科技公司，由來(lái)自海內(nèi)外世界一流高科技公司從事多年精密設(shè)備開(kāi)發(fā)、高性能材料研究的工程師團(tuán)隊(duì)聯(lián)合創(chuàng)建。 遠(yuǎn)...

NanoFlip納米壓痕儀可在真空和常壓條件下對(duì)硬度、模量、屈服強(qiáng)度、剛度和其他納米力學(xué)測(cè)試進(jìn)行高精確度的測(cè)量。在掃描電子顯微鏡（SEM）和聚焦離子束（FIB）系統(tǒng)中，NanoFlip在測(cè)試（例如柱壓...

iNano?納米壓痕儀可輕松測(cè)量薄膜、涂層和少量材料。 該儀器準(zhǔn)確、靈活，并且用戶友好，可以提供壓痕、硬度、劃痕和通用納米級(jí)測(cè)試等多種納米級(jí)機(jī)械測(cè)試。 該儀器的力荷載和位移測(cè)量動(dòng)態(tài)范圍很大，因而可以實(shí)...

NanoIndenter G200X納米級(jí)力學(xué)測(cè)試平臺(tái)，簡(jiǎn)單易用，能夠快速準(zhǔn)確的提供各種定量的力學(xué)測(cè)試結(jié)果。G200X系統(tǒng)能夠輕松表征廣泛的材料力學(xué)性能，從硬質(zhì)涂層到超軟聚合物樣品，并針對(duì)不同應(yīng)用提供...

iMicro納米壓痕儀可輕松測(cè)量硬涂層，薄膜和少量材料。該儀器準(zhǔn)確、靈活，并且用戶友好，可以提供壓痕、硬度、劃痕和通用納米級(jí)測(cè)試等多種納米級(jí)機(jī)械測(cè)試。 可互換的驅(qū)動(dòng)器能夠提供大動(dòng)態(tài)范圍的力荷載和位移，...

Zeta-388支持3D量測(cè)和成像功能，并提供整合隔離工作臺(tái)和晶圓盒到晶圓盒的晶圓傳送系統(tǒng)，可實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)測(cè)量。該系統(tǒng)采用ZDot?技術(shù)，可同時(shí)采集高分辨率3D數(shù)據(jù)和True Color（真彩）無(wú)限遠(yuǎn)焦...

Zeta-300支持3D量測(cè)和成像的功能，并提供整合隔離工作臺(tái)和靈活的配置，可用于處理更大的樣品。該系統(tǒng)采用ZDot?技術(shù)，可同時(shí)采集高分辨率3D數(shù)據(jù)和True Color（真彩）無(wú)限遠(yuǎn)焦點(diǎn)圖像。Ze...

Zeta-20是一款緊湊牢固的全集成光學(xué)輪廓顯微鏡，可以提供3D量測(cè)和成像功能。該系統(tǒng)采用ZDot?技術(shù)，可同時(shí)采集高分辨率3D數(shù)據(jù)和True Color（真彩）無(wú)限遠(yuǎn)焦點(diǎn)圖像。 Zeta-20具備M...

HRP?-260是一款高分辨率cassette-to-cassette探針式輪廓儀，可提供幾納米至300微米的臺(tái)階高度測(cè)量功能。 P-260配置支持臺(tái)階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力的2D及3D測(cè)量，其掃...

Tencor P-170是cassette-to-cassette探針式輪廓儀，可提供幾納米至一毫米的臺(tái)階高度測(cè)量功能，適用于生產(chǎn)環(huán)境。該系統(tǒng)可以對(duì)臺(tái)階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力進(jìn)行2D和3D測(cè)量，其...

Tencor P-17支持從幾納米到一毫米的臺(tái)階高度測(cè)量，適用于生產(chǎn)和研發(fā)環(huán)境。該系統(tǒng)可以對(duì)臺(tái)階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力進(jìn)行2D和3D測(cè)量，其掃描可達(dá)200mm而無(wú)需圖像拼接。

Tencor P-7支持從幾納米到一毫米的臺(tái)階高度測(cè)量，適用于生產(chǎn)和研發(fā)環(huán)境。該系統(tǒng)可以對(duì)臺(tái)階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力進(jìn)行2D和3D測(cè)量，其掃描可達(dá)150mm而無(wú)需圖像拼接。

Filmetrics? Profilm3D?和Filmetrics Profilm3D-200光學(xué)輪廓儀采用白光干涉測(cè)量(WLI)技術(shù)，是經(jīng)濟(jì)實(shí)用的非接觸式3D表面形貌測(cè)量系統(tǒng)。Profilm3D系列...

Nano Indenter? G200系統(tǒng)專為各種材料的表征和開(kāi)發(fā)過(guò)程中進(jìn)行納米級(jí)測(cè)量而設(shè)計(jì)。 該系統(tǒng)是一個(gè)完全可升級(jí)，可擴(kuò)展且經(jīng)過(guò)生產(chǎn)驗(yàn)證的平臺(tái)，全自動(dòng)硬度測(cè)量可應(yīng)用于質(zhì)量控制和實(shí)驗(yàn)室環(huán)境。