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認(rèn)證會(huì)員 第 5 年
倬昊納米科技（上海）中心
認(rèn)證：工商信息已核實(shí)
- 產(chǎn)品分類
- 品牌分類
- 原子力顯微鏡
- 晶圓厚度翹曲量測(cè)系統(tǒng)
- CMP化學(xué)機(jī)械拋光機(jī)
- 晶圓研磨減薄機(jī)
- MEMS研發(fā)制造設(shè)備
- 半導(dǎo)體光刻工藝設(shè)備
- 納米壓印光刻機(jī)
- 輪廓儀
- 臺(tái)階儀 膜厚儀
- 納米壓痕儀
- 晶圓封裝工藝
- 缺陷分析儀
- AOI自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)
- 失效分析
- （ 荷蘭）Fastmicro
- （ 俄羅斯）Sidmel
- （ 德國）德國Intego
- （ 美國）美國Lumina
- （ 瑞士）瑞士POWATEC
- （ 韓國）韓國CTS
- （ 瑞士）瑞士idonus
- （ 瑞士）瑞士SCIL
- （ 德國）德國G&N
- （ 德國）德國SENTRONICS
- （ 德國）德國Osiris
- （ 美國）美國KLA
- （ 美國）美國Nanovea
- （ 韓國）韓國Park Systems
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儀企號(hào)
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友情鏈接
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主營產(chǎn)品：薄膜測(cè)厚儀,掃描電鏡/掃描電子顯微鏡,掃描探針顯微鏡/原子力顯微鏡/掃描隧道顯微
滬公網(wǎng)安備 31011502008050號(hào)