WPA-200 雙折射殘余應(yīng)力測(cè)試儀是日本 Photonic Lattice 公司基于光子晶體技術(shù)研發(fā)的高精度檢測(cè)設(shè)備，專(zhuān)為 VR/AR 鏡片、光學(xué)薄膜、透明樹(shù)脂等材料的應(yīng)力分布分析設(shè)計(jì)。其核心價(jià)值在...

SMS-1000 可測(cè)量顯示屏像素矩陣和防眩光層表面隨機(jī)微結(jié)構(gòu)相互作用產(chǎn)生的隨機(jī)莫爾條紋，即閃點(diǎn) 。當(dāng)觀察者頭部移動(dòng)時(shí)屏幕圖像會(huì)出現(xiàn)小點(diǎn)閃爍，儀器通過(guò)特定的光學(xué)系統(tǒng)和傳感器來(lái)捕捉和分析這些閃爍現(xiàn)象，從

日本Photonic lattic相位差檢測(cè)儀WPA-200以其世界的光子晶體制造技術(shù)開(kāi)發(fā)的產(chǎn)品，測(cè)量技術(shù)，高速而又精確的測(cè)量能力使其成為*的光學(xué)測(cè)量產(chǎn)品。 該產(chǎn)品在測(cè)量過(guò)程中可以對(duì)視野范圍內(nèi)樣...