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半導(dǎo)體和電子測量

 
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NanoSystem NVM-6000P非接觸式3D表面自動測量系統(tǒng)
  • 品牌:韓國Nano System
  • 型號:NVM-6000P
  • 產(chǎn)地:亞洲 韓國
  • 白光干涉儀(WSI)能測量柔軟、正常粗糙表面的表面高度, 與NA無關(guān),提供0.5納米垂直分辨率。不損傷垂直分辨率,可使用所有倍率。 相位差干涉儀(PSI)提供0.1納米的垂直分辨率。 因此,使...