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主營產(chǎn)品：原子力顯微鏡，臺階儀，光學(xué)輪廓儀，納米壓痕儀，反射膜厚儀，探針耗材
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反射膜厚儀

 
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反射膜厚儀 -無損膜厚測量方案F20
  • 品牌：KLA
  • 型號：F20
  • 產(chǎn)地：亞洲 其它

    • KLA FilmetricsF20是一款高精度薄膜厚度測量儀，采用光譜反射技術(shù)，測量范圍覆蓋1納米至3毫米，具備一鍵操作、非接觸測量及多層結(jié)構(gòu)分析能力，廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、OLED、光伏、生物醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域...