ABET 所制造的太陽光模擬器(Solar Simulators) 及 IV、QE/IPCE 量測系統(tǒng) (IV-Testing Measurement Systems) 提供了無與倫比的價(jià)格和效能...

靈活丶高速丶定量的細(xì)胞成像系統(tǒng) 全面超越轉(zhuǎn)盤激光共聚焦的限制，為定量的活細(xì)胞成像而設(shè)計(jì)！ Opterra II 專為活細(xì)胞長時(shí)間連續(xù)成像設(shè)計(jì)，是對敏感活細(xì)胞樣本成像的最佳選擇。在蛋白質(zhì)定位和運(yùn)輸...

世界上最快的超高分辨率顯微鏡 活細(xì)胞、高速、超高分辨率、3D 成像 分辨率 20nm@XY，50nm@Z， 采用單分子定位技術(shù)，單層掃描時(shí)間 10 秒鐘。

快速、靈活的活體深層成像平臺(tái)更深 (1350um)、更快 (45FPS@12KHz)、更清楚、并適合大動(dòng)物成像。

TAS7500 系列是一套在太赫茲 (THz) 波段，可進(jìn)行快速且多功能的光譜和成像分析系統(tǒng)。本系統(tǒng)可簡單且快速地進(jìn)行藥品丶化學(xué)制品丶通訊材料等的非破壞性分析。與以往太赫茲波分析裝置不同，無需復(fù)雜的操...

特性： 頻率范圍：100 kHz ~ 8, 18, & 27 GHz 實(shí)時(shí)帶寬 (RTBW) 可高達(dá)100 MHz 實(shí)時(shí)的 FPGA 觸發(fā), 用于探測分散,無規(guī)律信號(hào) 自由動(dòng)態(tài)范圍 (...

? 完整 IV 量測曲線追蹤及分析 ? 自動(dòng)校正至標(biāo)準(zhǔn)測量條件 ? 符合 IEC 量測標(biāo)準(zhǔn) ? 暗電流及不同溫度量測分析 ? 電流量測范圍最大可達(dá) 10A ? 可控溫度及真空吸附測試臺(tái) ?...

蒸發(fā)源的排放分布特性可用于確定真空室中用于生產(chǎn)均勻厚度涂層的正確幾何形狀。 在大孔徑襯底上或者在裝載有許多小襯底的架子上生產(chǎn)均勻厚度的涂層可以通過對裝有測試件的架子進(jìn)行重復(fù)試驗(yàn)來完成。從一次試運(yùn)行到...

? CMP 設(shè)備減少動(dòng)員特殊傳感器技術(shù)選擇和 CMP 研磨儀的最佳工藝分析。 ? CMP 工藝墊，泥漿，鉆空調(diào)光盤，扣環(huán)，晶圓涂層 ? 最佳的選擇和環(huán)境技術(shù)評(píng)估環(huán)境的處理，以測試先進(jìn)設(shè)備，最先進(jìn)的...

D8 DISCOVER系列是市面上最準(zhǔn)確、功能最強(qiáng)大和最靈活的X射線衍射解決方案。從典型的粉末衍射到尖端材料研究，覆蓋范圍極廣，它還支持通過最新技術(shù)進(jìn)行定制，其中包括高性能X射線源、專用光學(xué)器件、專用...

在空氣或液體中成像速度是原來速度的 100 倍，自動(dòng)激光調(diào)節(jié)和檢測器調(diào)節(jié)，智能進(jìn)針，大大縮短了實(shí)驗(yàn)時(shí)間。自動(dòng)測量軟件和高速掃描系統(tǒng)完美結(jié)合，大幅提高實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)的可信度和可重復(fù)性。

從傳統(tǒng)的二維表面粗糙度和臺(tái)階高度測量，到更高級(jí)的三維表面成像和薄膜應(yīng)力測試，Dektak 臺(tái)階儀適用面極廣，為用戶提供準(zhǔn)確性高，重復(fù)性佳的測量結(jié)果。在教育丶科研領(lǐng)域和半導(dǎo)體制程控制，Dektak 廣泛...