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銀牌會(huì)員 第 11 年
濱松光子學(xué)商貿(mào)（中國(guó)）有限公司
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儀企號(hào)
濱松光子學(xué)商貿(mào)（中國(guó)）有限公司
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微米膜厚測(cè)量?jī)x C11011-01價(jià)格：面議- 品牌：日本濱松
- 型號(hào)：C11011-01
- 產(chǎn)地：亞洲 日本
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微米膜厚測(cè)量?jī)x C11011-01W價(jià)格：面議- 品牌：日本濱松
- 型號(hào)：C11011-01W
- 產(chǎn)地：亞洲 日本
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多點(diǎn)納米膜厚測(cè)量?jī)x C11295價(jià)格：面議- 品牌：日本濱松
- 型號(hào)：C11295
- 產(chǎn)地：亞洲 日本
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光學(xué)NanoGauge C13027-12價(jià)格：面議- 品牌：日本濱松
- 型號(hào)：C13027-12
- 產(chǎn)地：亞洲 日本
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光學(xué)NanoGauge C12562-04價(jià)格：面議- 品牌：日本濱松
- 型號(hào)：C12562-04
- 產(chǎn)地：亞洲 日本
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光學(xué)NanoGauge C10178-02價(jià)格：面議- 品牌：日本濱松
- 型號(hào)：C10178-02
- 產(chǎn)地：亞洲 日本
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光學(xué)NanoGauge C10178-03J價(jià)格：面議- 品牌：日本濱松
- 型號(hào)：C10178-03J
- 產(chǎn)地：亞洲 日本
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光學(xué)NanoGauge C10178-03E價(jià)格：面議- 品牌：日本濱松
- 型號(hào)：C10178-03E
- 產(chǎn)地：亞洲 日本
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光學(xué)NanoGauge C10323-02價(jià)格：面議- 品牌：日本濱松
- 型號(hào)：C10323-02
- 產(chǎn)地：亞洲 日本
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光學(xué)NanoGauge C10323-02E價(jià)格：面議- 品牌：日本濱松
- 型號(hào)：C10323-02E
- 產(chǎn)地：亞洲 日本
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微米膜厚測(cè)量?jī)x C11011-21價(jià)格：面議- 品牌：日本濱松
- 型號(hào)：C11011-21
- 產(chǎn)地：亞洲 日本
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微米膜厚測(cè)量?jī)x C11011-21W價(jià)格：面議- 品牌：日本濱松
- 型號(hào)：C11011-21W
- 產(chǎn)地：亞洲 日本
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膜厚測(cè)量系統(tǒng)
采用激光干涉測(cè)量和光譜干涉測(cè)量的非接觸式高精度厚度測(cè)量系統(tǒng)。
C11011-21W型光學(xué)微米膜厚測(cè)量?jī)x利用激光干涉法原理，測(cè)量速度達(dá)60Hz，適用于產(chǎn)品線上在線測(cè)量。此外，與mappi...
C11011-21型光學(xué)微米膜厚測(cè)量?jī)x利用激光干涉法原理，測(cè)量速度達(dá)60Hz，適用于產(chǎn)品在線測(cè)量。此外，選配的作圖系統(tǒng)可以...
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C10323型光學(xué)納米膜厚測(cè)量系統(tǒng)是一款微觀厚度測(cè)量系統(tǒng)。 在宏觀層面上無法測(cè)量具有不規(guī)則表面的物體，因?yàn)檫@些物體會(huì)產(chǎn)生高...
C10323型光學(xué)納米膜厚測(cè)量系統(tǒng)是一款微觀厚度測(cè)量系統(tǒng)。 在宏觀層面上無法測(cè)量具有不規(guī)則表面的物體，因?yàn)檫@些物體會(huì)產(chǎn)生高...
C10178型光學(xué)納米膜厚測(cè)量系統(tǒng)是一款利用光譜干涉法測(cè)量薄膜厚度的非接觸式測(cè)量系統(tǒng)。光譜干涉法可以快速、高精度以及高靈敏...
C10178型光學(xué)納米膜厚測(cè)量系統(tǒng)是一款利用光譜干涉法測(cè)量薄膜厚度的非接觸式測(cè)量系統(tǒng)。光譜干涉法可以快速、高精度以及高靈敏...
C10178型光學(xué)納米膜厚測(cè)量系統(tǒng)是一款利用光譜干涉法測(cè)量薄膜厚度的非接觸式測(cè)量系統(tǒng)。光譜干涉法可以快速、高精度以及高靈敏...
C12562型光學(xué)納米膜厚測(cè)量系統(tǒng)是一款小型緊湊、節(jié)省空間、安裝方便的非接觸式薄膜厚測(cè)量系統(tǒng)。在半導(dǎo)體工業(yè)中，硅通孔技術(shù)的...
C13027型光學(xué)納米膜厚測(cè)量系統(tǒng)是一款利用光譜干涉法測(cè)量薄膜厚度的非接觸式測(cè)量系統(tǒng)。C13207不僅支持PLC連接，而且...
C11295型多點(diǎn)納米膜厚測(cè)量系統(tǒng)使用光譜相干測(cè)量學(xué)，用以測(cè)量半導(dǎo)體制造過程中的薄膜厚度，以及安裝在半導(dǎo)體制造設(shè)備上的AP...
C11011-01W型光學(xué)微米膜厚測(cè)量?jī)x利用激光相干度量學(xué)原理，測(cè)量速度達(dá)60Hz，適用于產(chǎn)品線上在線測(cè)量。此外，與Map...
C11011-01型光學(xué)微米膜厚測(cè)量?jī)x利用激光相干度量學(xué)原理，測(cè)量速度達(dá)60Hz，適用于產(chǎn)品線上在線測(cè)量。此外，與mapp...
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