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銀牌會(huì)員 第 11 年
北京先鋒泰坦科技有限公司
認(rèn)證：工商信息已核實(shí)
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- 激光器
- 激光測量
- 光通訊與傳感
- 設(shè)備與光學(xué)元器件
- 光譜儀
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- 顯示測量
- 光度與色度測試儀
- 光度與色度測試系統(tǒng)
- （ 德國） 德國 Opsira
- （ 日本）日本大塚
- （ 丹麥）丹麥 Viso systems
- （ 美國）美國Labsphere
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- （ 法國）法國Pleiades
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- （ 日本）日本柯尼卡美能達(dá)
- （ 通州區(qū)）北京卓立漢光
- （ 法國）法國Pleiades
- （ 美國）美國Novanta
- （ 法國）法國Pleiades
- （ 海淀區(qū)）北京先鋒科技
- （ 英國）英國Photonic Science
- （ 英國）英國ETL
- （ 德國）德國Sill Optics
- （ 德國）德國Laser Components
- （ 韓國）韓國ATLAIM
- （ 丹麥）丹麥 Viso
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- （ 英國）牛津儀器
- （ 英國）英國LaserQuantum
- （ 德國）德國Laser Components
- （ 英國）英國安道爾
- （ 西班牙）西班牙Radiantis
- （ 瑞士）瑞士Menhir Photonics
- （ 瑞士）瑞士Dectris
- （ 日本）日本大塚
- （ 日本）日本santec
- （ 日本）日本Artray
- （ 日本）日本Alnair Labs
- （ 日本）日本ADVANTEST
- （ 以色列）以色列Mantis Vision
- （ 美國）美國VERTILON
- （ 美國）美國UpTek
- （ 美國）美國Swamp Optics
- （ 美國）美國StellarNet
- （ 美國）美國SRS
- （ 美國）美國Radiant
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- （ 美國）美國Photo Research
- （ 美國）美國Pacific Gyre
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- （ 美國）美國OPOTEK
- （ 以色列）以色列OPHIR
- （ 美國）美國Moxtek
- （ 美國）美國Modu-Laser
- （ 加拿大）加拿大Mightex
- （ 美國）美國McPherson
- （ 美國）美國LongWave Photonics
- （ 美國）美國Laservision
- （ 美國）美國Labsphere
- （ 俄羅斯）俄羅斯IPG
- （ 瑞士）瑞士Heliotis
- （ 美國）美國FEMTOCHROME
- （ 美國）美國ENERGETIQ
- （ 美國）美國CVI
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- （ 美國）美國Clark
- （ 美國）美國Bristol
- （ 美國）美國Block engineering
- （ 美國）美國Andover
- （ 美國）美國Advanced Optowave
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- （ 加拿大）加拿大Lumenera
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- （ 芬蘭）芬蘭Spectral Engines
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- （ 德國）德國XITON
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- （ 德國）德國PROXIVISION
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- （ 通州區(qū)）北京卓立漢光
- （ 臺(tái)北）臺(tái)灣UPRtek
- （ 成都）四川雙利合譜
- （ 英國）Pyreos
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- （ 以色列）以色列Acktar
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儀企號(hào)
北京先鋒泰坦科技有限公司
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OPTM 半導(dǎo)體膜厚測試儀價(jià)格：面議- 品牌：日本大塚
- 型號(hào)/貨號(hào)：optm/optm
- 產(chǎn)地：亞洲 日本
測量目標(biāo)膜的JD反射率，實(shí)現(xiàn)高精度膜厚和光學(xué)常數(shù)測試！ （分光干渉法）
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膜厚測量儀FE-3價(jià)格：面議- 品牌：日本大塚
- 型號(hào)/貨號(hào)：FE-3/FE-3
- 產(chǎn)地：亞洲 日本
對(duì)于具有波長依賴性的多層膜，可以實(shí)現(xiàn)高精度測量！
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反射式膜厚測量儀FE-3000價(jià)格：面議- 品牌：日本大塚
- 型號(hào)/貨號(hào)：FE-3000/FE-3000
- 產(chǎn)地：亞洲 日本
可WM對(duì)應(yīng)所有基板上多層膜測量的光干涉膜厚儀。實(shí)績很多。高精度，高感度從薄膜到厚膜的廣范圍多層膜分析
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膜厚測量儀FE-300價(jià)格：面議- 品牌：日本大塚
- 型號(hào)/貨號(hào)：FE-300/FE-300
- 產(chǎn)地：亞洲 日本
小型?低價(jià)格！簡單操作”非接觸”膜厚量測儀FE-300！
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橢圓偏振光測量儀FE5000價(jià)格：面議- 品牌：日本大塚
- 型號(hào)/貨號(hào)：FE5000/FE5000
- 產(chǎn)地：亞洲 日本
通過自動(dòng)多角度橢圓偏振光測量儀實(shí)現(xiàn)高速的薄膜膜厚測量和高精度的光學(xué)常數(shù)解析
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