真實環(huán)境還原：在掃描過程中施加溫度變化，有助于觀察材料結(jié)構(gòu)隨溫度變化的實時響應(yīng)。 高精度控制：溫控精度高 (±1 °C)，溫度變化速度也可定制。 兼容CT儀器：設(shè)備尺寸與CT儀器機柜相匹配，支持 ...

同步成像與循環(huán)測試：在CT掃描時即可進行充放電循環(huán)測試，獲取內(nèi)部結(jié)構(gòu)隨時間/循環(huán)的動態(tài)變化信息。 溫度+電流耦合：在不同溫度 (低溫/高溫) 下施加電流循環(huán) (最高約30 A)，真實模擬電池在極端/...

SEMI-KLEEN等離子清洗儀由美國PIE Scientific LLC公司生產(chǎn)，專為清洗各類電子及離子顯微鏡、深紫外光刻機等真空儀器設(shè)計。該設(shè)備采用低壓清洗技術(shù)和遠(yuǎn)程RF等離子源，具備即時等離子起...

加拿大KA Imaging公司推出了一款專為無損檢測設(shè)計的REVEAL R 35C便攜式三能平板X射線探測裝置。這款探測器堅固耐用，能在各種苛刻環(huán)境下提供可靠的圖像質(zhì)量。憑借其獨特的SpectralD...

加拿大KA Imaging公司的Reveal 35C便攜雙能平板X射線探測裝置專為無損檢測設(shè)計，具備便攜、無線連接等特點。其采用單次曝光即可生成三種圖像（傳統(tǒng)DR、低密度和高密度），利用Spectra...

KA Imaging推出的inCiTe 3D臺式相襯MicroCT_2μm是全球首款采用獨家高空間分辨率非晶硒探測器技術(shù)的三維X射線顯微鏡，特別適合科研和工業(yè)無損檢測。該系統(tǒng)結(jié)合了高檢測效率與高空間分...

KA Imaging的inCiTe臺式相襯MicroCT_5μm X射線掃描儀，采用獨家BrillianSe探測器技術(shù)，提供高空間分辨率和檢測效率，適用于科研和工業(yè)無損檢測。該設(shè)備特別擅長低密度材料成...

BrillianSe非晶硒高分辨X射線探測器由加拿大KA Imaging公司推出，結(jié)合了a-Se/CMOS技術(shù)，提供高空間分辨率與高量子效率。該探測器無需將X射線光子轉(zhuǎn)換為可見光，從而提高了成像質(zhì)量。...

TEM cube樣品桿清潔儲存站提供高真空環(huán)境下的TEM樣品桿儲存、泄漏檢查和等離子清潔功能，適用于多種品牌TEM樣品桿。該系統(tǒng)包括8個樣品桿適配器、等離子源和真空泵，確保樣品和樣品桿清潔。另有單獨的...

LynX T3 or M3光子計數(shù)型相機_X射線探測器由荷蘭ASI公司出品，是一款混合像素區(qū)域探測器，具備55μm像素間距和262K像素點，適用于X射線探測、成像和斷層掃描等多種應(yīng)用。該探測器采用硅、...

DPX M12000型3D數(shù)碼顯微鏡_12倍變焦3D數(shù)碼顯微鏡，具有高分辨率和準(zhǔn)確性。這款創(chuàng)新的全自動數(shù)碼顯微鏡提供了前所未有的質(zhì)量和功能：“3D形貌/3D測量”、“超景深”、“自動拼接”、自動掃描等...

丹麥DeltaPix的顯微鏡相機以其快速視頻流、低噪聲和高分辨率而特別引人注目。所有DeltaPix顯微鏡相機均由 DeltaPix在丹麥內(nèi)置，位于無塵清潔室中，以實現(xiàn)最佳質(zhì)量的相機和圖像。Inven...

荷蘭Delmic推出的METEOR / METEOR2.0集成式熒光顯微鏡，專為冷凍電子斷層掃描（cryo-ET）和冷凍光電關(guān)聯(lián)顯微技術(shù)（cryo-CLEM）設(shè)計。該系統(tǒng)直接集成于冷凍聚焦離子束（cr...

RayXpert與RayXpert 2.0是法國TRAD憑借其三十年專注于空間與輻射環(huán)境技術(shù)研發(fā)積淀推出的、融合現(xiàn)代圖形界面、物理仿真核心與高效計算引擎的先進輻射仿真平臺。它不僅降低了輻射場建模門檻，...

ASI Felis系列SEM探測器 SEM中實現(xiàn)4D-STEM等創(chuàng)新成像方案 荷蘭ASI公司推出的 Felis 系列探測器是新一代混合像素(Hybrid Pixel)電子探測器，專為掃描電鏡(SE...

美國Tousimis臨界點干燥儀（CPD）產(chǎn)品分為非潔凈室版本和潔凈室（Cleanroom）版本兩大類，前者常用于電鏡制樣，后者多用于超凈間內(nèi)的材料研究用途。 Tousimis臨界點干燥儀Cle...