儀器可輕松實(shí)現(xiàn)ASTM D1003 非補(bǔ)償法、ISO 13468補(bǔ)償法，全透光率、霧度測試。儀器可精確采集透射樣品的透過率曲線，能精準(zhǔn)輸出透射樣品的各種色度數(shù)據(jù)。硬件配置高，開放測量區(qū)域，可豎立、臥式...

WPA系列是Photonic lattice公司采用自研的光子晶體技術(shù)，開發(fā)的一款適用性高的應(yīng)力雙折射檢測設(shè)備，可測量相位差（光程差）高達(dá)3500nm，適合注塑成型的透光器件的應(yīng)力雙折射檢測，高速而的...

日本Photonic-lattice公司成立于1996年，是依托日本東北大學(xué)光子晶體研究技術(shù)組建的合資企業(yè)。公司憑借全球領(lǐng)先的光子晶體制造技術(shù)，成功研發(fā)出系列高性能測量儀器，技術(shù)實(shí)力備受行業(yè)認(rèn)可，PA...

應(yīng)力雙折射系統(tǒng)PA系列 PA系列是Photonic lattice公司采用自研的光子晶體技術(shù)，針對玻璃、SIC晶圓、藍(lán)寶石等低應(yīng)力雙折射的測量系統(tǒng)，數(shù)秒給出被測產(chǎn)品的應(yīng)力雙折射大小和分布信息。

應(yīng)力雙折射系統(tǒng)WPA系列 WPA系列是Photonic lattice公司采用自研的光子晶體技術(shù)，開發(fā)的一款適用性高的應(yīng)力雙折射檢測設(shè)備，可測量相位差（光程差）高達(dá)3500nm，適合注塑成型的透光器...

Photonic Lattice 紅外雙折射（內(nèi)應(yīng)力）測量儀WPA-200-NIR可在數(shù)秒內(nèi)完成850nm波長下的雙折射分布高速測量，適用于硫系、紅外透明樹脂等材料的光學(xué)畸變評估。配備簡便易用的WPA...

日本 Photonic-lattice 原廠出品｜PHL PA-micro 顯微型應(yīng)力雙折射儀 ? 核心技術(shù)：光子晶體制造技術(shù) ? 精準(zhǔn)檢測：顯微鏡下快速獲取雙折射相位差、空間分布及方向 ? 適...

ARMS SYSTEM無掩模光刻機(jī)UTA-IA將DLP投影儀與金相顯微鏡結(jié)合，實(shí)現(xiàn)微米級分辨率的圖案投影曝光，無需使用掩模。該設(shè)備成本較低，操作簡便，適合在多種環(huán)境下進(jìn)行電極和其他圖案的形成，廣泛應(yīng)用...

WPA-200系列應(yīng)力雙折射測試儀器由Photonic Lattice公司開發(fā)，采用光子晶體制造技術(shù)和獨(dú)特測量技術(shù)，能高速精確地測量光學(xué)薄膜或透明樹脂的應(yīng)力分布。其一次測量即可全面掌握視野范圍內(nèi)樣品的...

日本 Photonic Lattice 公司研發(fā)的 PA 系列雙折射 / 應(yīng)力測量儀，憑借高精度與快速測量核心優(yōu)勢脫穎而出。設(shè)備創(chuàng)新采用光子晶體偏光陣列片及專屬雙折射算法，可在數(shù)秒內(nèi)完成毫米級規(guī)格樣品...

OPTELICS HYBRID+是一款結(jié)合白光共聚焦和激光共聚焦技術(shù)的高性能顯微鏡，由日本Lasertec制造，集成了微分干涉觀察、垂直白光干涉測定、相差干涉測定及反射分光膜厚測定等六項(xiàng)功能。它采用雙...

空芯光纖是光通信領(lǐng)域新型傳輸介質(zhì)，以空氣（或惰性氣體 / 真空）為纖芯傳輸介質(zhì)，替代傳統(tǒng)光纖的玻璃纖芯，核心優(yōu)勢在于突破玻璃介質(zhì)對光傳輸?shù)男阅芟拗啤?/p>

空芯光纖是光通信領(lǐng)域新型傳輸介質(zhì)，以空氣（或惰性氣體 / 真空）為纖芯傳輸介質(zhì)，替代傳統(tǒng)光纖的玻璃纖芯，核心優(yōu)勢在于突破玻璃介質(zhì)對光傳輸?shù)男阅芟拗啤?/p>

空芯光纖是光通信領(lǐng)域新型傳輸介質(zhì)，以空氣（或惰性氣體 / 真空）為纖芯傳輸介質(zhì)，替代傳統(tǒng)光纖的玻璃纖芯，核心優(yōu)勢在于突破玻璃介質(zhì)對光傳輸?shù)男阅芟拗啤?/p>

空芯光纖是光通信領(lǐng)域新型傳輸介質(zhì)，以空氣（或惰性氣體 / 真空）為纖芯傳輸介質(zhì)，替代傳統(tǒng)光纖的玻璃纖芯，核心優(yōu)勢在于突破玻璃介質(zhì)對光傳輸?shù)男阅芟拗啤?/p>

Bump 3D 檢測系統(tǒng)是半導(dǎo)體及電子制造領(lǐng)域的高精度檢測設(shè)備，核心優(yōu)勢在于亞微米至納米級測量精度。它依托結(jié)構(gòu)光、激光三角測量等先進(jìn)技術(shù)，可精準(zhǔn)捕捉 Bump 高度、直徑、共面性等關(guān)鍵參數(shù)，高效識別各...