背向 +90°散射粒度?+Zeta 電位 +0°光電模塊四合一型

BeNano 180 Zeta Pro 納 米 粒 度 及 Zeta 電 位 儀 是 BeNano 90+BeNano 180+BeNano Zeta 三合一的頂級(jí)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)。 該系統(tǒng)中集成了背向...

BeNano 系列納米粒度電位儀是丹東百特儀器有限公司全新開發(fā)的測(cè)量納米顆粒粒度和Zeta電位的光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)。該系統(tǒng)中集成了動(dòng)態(tài)光散射DLS、電泳光散射ELS和靜態(tài)光散射技術(shù)SLS，可以準(zhǔn)確的檢測(cè)顆粒...

BeNano 180 Zeta 納 米 粒 度 及 Zeta 電 位 儀 是 BeNano 180+BeNano Zeta 的二合一光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)。該系統(tǒng)中集成了背向動(dòng)態(tài)光散射 DLS、電泳光散射 EL...

BeNano Zeta 電位分析儀是丹東百特儀器公司開發(fā)的測(cè)量顆粒體系 Zeta 電位的光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)。BeNano Zeta 系統(tǒng)基于電泳光散射原理，樣品分散在樣品池中，在樣品池兩端施加一個(gè)電場(chǎng)，通過...

BeNano 180 納米粒度儀是丹東百特儀器公司開發(fā)的采用背向散射技術(shù)用于檢測(cè)納米顆粒粒度及其分布的光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)。它基于動(dòng)態(tài)光散射原理，樣品分散在樣品池中，通過激光照射到樣品上，光電檢測(cè)器在背向 1...

BeNano 90 納米粒度儀是基于動(dòng)態(tài)光散射原理，樣品分散在樣品池中，通過激光照射到樣品上，光電檢測(cè)器在 90°角檢測(cè)樣品顆粒布朗運(yùn)動(dòng)造成的散射光強(qiáng)隨時(shí)間的波動(dòng)，再通過相關(guān)器進(jìn)行自相關(guān)運(yùn)算得出樣品的...