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日立科學(xué)儀器(北京)有限公司
主營產(chǎn)品:光譜,色譜,電子顯微鏡,原子力顯微鏡,電化學(xué)產(chǎn)品等
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日立科學(xué)儀器(北京)有限公司

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電子顯微鏡?原子力顯微鏡

 
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AMICS自動化礦物學(xué)分析系統(tǒng) (MLA)
  • 品牌:日立
  • 產(chǎn)地:亞洲 日本
  • AMICS(The Advanced Mineral Identification and Characterization System)是一種基于掃描電子顯微鏡的自動礦物識別與分析系統(tǒng)。它能夠精準(zhǔn)...

TM系列專用能譜儀(EDS) Quantax75
  • 品牌:日立
  • 型號:Quantax75
  • 產(chǎn)地:亞洲 日本
  • 操作簡單且直觀 *和TM4000Plus搭配應(yīng)用實例 *探測器內(nèi)置型 (制造商: 德國Bruker nano GmbH)

TM系列專用能譜儀(EDS)AZtec系列
  • 品牌:日立
  • 產(chǎn)地:亞洲 日本
  • 圖標(biāo)按操作流程順序排列,操作簡便 通過對應(yīng)譜圖可簡單確認元素重疊狀況 通過TruMap功能分離出譜峰重疊元素并準(zhǔn)確顯示(AZtecOne) *和TM4000Plus搭配應(yīng)用實例 *探測器內(nèi)置型...

光-電聯(lián)用顯微鏡法(CLEM)系統(tǒng) MirrorCLEM
  • 品牌:日立
  • 型號:MirrorCLEM
  • 產(chǎn)地:亞洲 日本
  • MirrorCLEM是一個可簡便觀察光學(xué)顯微鏡和掃描顯微鏡同一位置的CLEM*1用系統(tǒng)。 *1:CLEM (Correlative light and electron microscopy):光學(xué)...

日立熱場式場發(fā)射掃描電鏡 SU5000
  • 品牌:日立
  • 型號:SU5000
  • 產(chǎn)地:亞洲 日本
  • 操作高效便捷 創(chuàng)新的“EM Wizard”界面更加直觀,僅需要“點擊”即可得到理想的圖像。 超前的電腦輔助技術(shù)將電鏡的操作與控制提升到一個新水平。

TM4000PlusIII/TM4000III臺式掃描電鏡
  • 品牌:日立
  • 型號:TM4000PlusIII/TM4000III
  • 產(chǎn)地:亞洲 日本
日立離子研磨裝置IM4000 II
  • 品牌:日立
  • 型號:IM4000 II
  • 產(chǎn)地:亞洲 日本
日立掃描探針顯微鏡控制器
  • 品牌:日立
  • 型號:AFM5000II/RealTune?II
  • 產(chǎn)地:亞洲 日本
掃描電鏡清洗設(shè)備ZONESEMⅡ
  • 品牌:三友
  • 型號:ZONESEMⅡ
  • 產(chǎn)地:亞洲 日本
透射電鏡臭氧清洗設(shè)備ZONETEM II
  • 品牌:三友
  • 型號:ZONETEM II
  • 產(chǎn)地:亞洲 日本
高分辨熱場發(fā)射掃描電鏡 SU3900/SU3800 SE Series
  • 品牌:日立
  • 型號:SU3900/SU3800 SE Series
  • 產(chǎn)地:亞洲 日本
  • SU3900/SU3800 SE系列作為FE-SEM產(chǎn)品,配置超高分辨率與觀察能力。此系列突破了傳統(tǒng)SEM產(chǎn)品受安裝樣品尺寸與重量的限制,通過簡單的操作即可實現(xiàn)數(shù)據(jù)采集??捎糜阡撹F等工業(yè)材料,汽車、航...

日立中型掃描電鏡SU3800
  • 品牌:日立
  • 型號:SU3800
  • 產(chǎn)地:亞洲 日本
  • 可搭載的Z 大樣品尺寸:“SU3800” 標(biāo)配可搭載直徑200mm樣品的樣品倉,可應(yīng)對Z 大高度為80mm、重量為2kg的樣品。 “SU3900”作為日立高新技術(shù)的大型掃描電鏡,標(biāo)配可搭載Z 大直徑...

日立冷場發(fā)射掃描電鏡SU8600
  • 品牌:日立
  • 型號:SU8600
  • 產(chǎn)地:亞洲 日本
  • FE-SEM獲得的圖像分辨率高,信息豐富,樣品處理相對簡單,并且它可以觀察、測量并分析樣品的細微結(jié)構(gòu),因此被廣泛應(yīng)用于納米技術(shù)、半導(dǎo)體、電子器件、生命科學(xué)、材料等領(lǐng)域。近年來,以Materials I...

日立肖特基場發(fā)射掃描電鏡SU8700
  • 品牌:日立
  • 型號:SU8700
  • 產(chǎn)地:亞洲 日本
  • FE-SEM獲得的圖像分辨率高,信息豐富,樣品處理相對簡單,并且它可以觀察、測量并分析樣品的細微結(jié)構(gòu),因此被廣泛應(yīng)用于納米技術(shù)、半導(dǎo)體、電子器件、生命科學(xué)、材料等領(lǐng)域。近年來,以Materials I...

日本日立  離子研磨系統(tǒng)ArBlade5000
  • 品牌:日立
  • 型號:ArBlade5000
  • 產(chǎn)地:亞洲 日本
  • 日立ArBlade 5000離子研磨系統(tǒng)能夠?qū)崿F(xiàn)高產(chǎn)量,并制備廣域橫截面樣品。

日本日立 200kV球差校正透射電鏡HF5000
  • 品牌:日立
  • 型號:HF5000
  • 產(chǎn)地:亞洲 日本
  • 日立發(fā)布的200kV球差校正透射電鏡HF5000,具有高穩(wěn)定冷場發(fā)射電子槍,自動球差校正器,可一鍵操作實現(xiàn)自動球差校正,HAADF-STEM分辨率可以達到0.78埃;