◆ 全角度測量:發(fā)射端角度范圍0°至180° ,接收端角度范圍0°至360° ,可以實(shí)現(xiàn)反射、透射、散射、熒光和輻射的全角度光譜測量; ◆ 精確角度控制:高精度電機(jī),角度精度及重復(fù)性能優(yōu)異; ◆ ...

◆用戶可自定義測量位置; ◆無損檢測，支持成品全檢; ◆全自動(dòng)快速測量,無需人工操作,支持濾光片均勻性分析; ◆單點(diǎn)測量速度小于0.2秒。

◆用戶可自定義樣品測量位置,定位準(zhǔn)確; ◆無損檢測，支持成品全檢 ◆單點(diǎn)測量速度極快。

針對光學(xué)元件ZX厚度非接觸式測量設(shè)計(jì)，非接觸式光譜快速測量儀器。

◆大角度采集全穿透式測量; ◆ 可對多 孔進(jìn)行快速測量; ◆數(shù)字視頻對焦,使微小區(qū)域?qū)崿F(xiàn)JZ測量; ◆實(shí)時(shí)顯示測量樣品關(guān)注波長位置的透射率數(shù)據(jù)及半透波長檢測,自動(dòng)調(diào)整顯示坐標(biāo)范圍,可對批量樣品進(jìn)...

滿足球面、非球面、塑料制品等器件散透射參數(shù)JZ測量; 測試速度極快, 1秒出結(jié)果,實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品全檢; 可實(shí)現(xiàn)極小樣品的透過率檢測。

Planum-3000平面光學(xué)元件光譜分析儀可針對平面光學(xué)元件反射率、透射率、偏振光、膜性、顏色等進(jìn)行多角度快速測量。適用于棱鏡、平行平板、平晶、濾光片、紅外截止片等眾多類型光學(xué)元件參數(shù)測量。

顯微測定微小領(lǐng)域的反射率 物鏡對焦于被測物微小區(qū)域（φ60μm） CIE顏色測定 X Y色度圖，x, y, L, a, b, 飽和度，主波長等 檢測速度快 高性能探測器，能在幾秒內(nèi)實(shí)現(xiàn)重現(xiàn)...