Hiden TOF-qSIMS 飛行時間二次離子質(zhì)譜工作站設(shè)計用于多種材料的表面分析和深度剖析應(yīng)用，包括聚合物，藥物，超導(dǎo)體，半導(dǎo)體，合金，光學和功能涂層以及電介質(zhì)，檢測限低于1ppm。

與傳統(tǒng)GC相比，其光譜在不到一分鐘就能提供接近實時的數(shù)據(jù)； FastGC模式可以在需要時被激活,同時不影響常規(guī)PTR-TOF操作； 它也可以用來消除高濃度的影響。

- 超高分辨率 - 超低檢出限 - 多離子源， 快速切換

無需樣品預(yù)處理過程； 簡單、快捷、獨特的軟離子化技術(shù)，極少的碎片產(chǎn)生率； 在氣相離子化學系統(tǒng)的超低檢測限； 快速響應(yīng)時間、VOCs實時監(jiān)測、在線檢測。

微量氣體校準使用液體標準； 濃度范圍從ppt 到%通都可行； 適用各種揮發(fā)性液體混合物； 高通用性，兼容廣泛的化合物。