小麥粉加工精度測定儀采用高速工業(yè)相機(jī)和顯微鏡頭，配合高性能數(shù)字控制可調(diào)光源，利用計(jì)算機(jī)運(yùn)算平臺和圖像分析軟件，采集樣品圖像并進(jìn)行分析，根據(jù)樣品中麩星、黑點(diǎn)等雜質(zhì)與面粉本底的顏色的色差進(jìn)行區(qū)分，分別計(jì)算...

小麥品質(zhì)分析和面粉麩星檢測儀用途：快速測量小麥的粒數(shù)、千粒重、粒形、霉變率、芽麥率、黑胚率、破損率等，面粉的麩星、砂石的大小和含量。小麥品質(zhì)分析和面粉麩星檢測儀用于實(shí)驗(yàn)室快速檢測獲得批處理數(shù)據(jù)（包括小...

小麥粉麩星測定儀：用小麥粉的粉色和麩星的大小及分布的密集程度表示。長期以來,我國一直采用與實(shí)物標(biāo)準(zhǔn)樣感官對比的方法判定小麥粉的加工精度。小麥粉麩星測定儀符合國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T5504-2011《糧油檢驗(yàn)...

面粉加工精度測定儀-麩星儀，是繼英國、日本之后的世界上第三個擁有該產(chǎn)品的公司，該產(chǎn)品系本公司潛心研究多年的產(chǎn)品，研究思路源于國家標(biāo)準(zhǔn)《GB/T27628-2011 糧油檢驗(yàn)小麥粉 粉色、麩星的測定》，...

FN-IV（新國標(biāo)）型降落值測定儀采用觸摸式按鈕一鍵式操作，能自動檢測及排除故障，能準(zhǔn)確記錄每次測定的兩組降落數(shù)值和自動計(jì)算平均值，并采用了具有標(biāo)準(zhǔn)漢字庫、前換紙的進(jìn)口熱敏打印機(jī)芯，無須使用油墨和色帶...

沉降值測定儀 小麥粉沉淀值檢測儀適用于谷物、尤其是小麥粉的測定，是糧食貯藏、面粉加工、食品加工等領(lǐng)域中進(jìn)行質(zhì)量檢測的必備儀器，也可用于溶液脫色、**有效成分萃取等操作。

降落值儀使用注意點(diǎn)：1、儀器通電前，水浴桶bi須加水，嚴(yán)禁無水干燒。2、儀器用畢應(yīng)切斷電源。3、使用后將粘度攪拌器和粘度管洗凈瀝干

降落數(shù)值測定儀準(zhǔn)備工作：為保證測試結(jié)果的準(zhǔn)確性和重復(fù)性，待測樣品應(yīng)有代表性。在用一個小麥粉或全麥粉樣品測試降落數(shù)值時，要保證這個樣品具有代表性。shouxian應(yīng)該去除樣品中的雜質(zhì)(例如：石頭，灰塵，...

MJ-IIIB型雙頭面筋測定儀:1980年代我公司在面筋儀的基礎(chǔ)上**研究了測定面筋質(zhì)量的方法即面筋指數(shù)法面筋指數(shù)是指小麥粉濕面筋在離心機(jī)的離心力作用下．通過一個特制的有篩徑的篩板

面筋測定儀（數(shù)量和質(zhì)量）MJ-IIC型廣泛應(yīng)用于食品和面粉加工、糧油質(zhì)檢和科研機(jī)構(gòu)、糧食貯藏、大專院校、科研等部門根據(jù)GB/T 5506-2008新國家標(biāo)準(zhǔn)研制生產(chǎn)，該儀器是在面筋測定儀上采用的單片機(jī)...

面筋儀單頭雙頭面筋洗滌儀根據(jù)GB/T5506-2008新國標(biāo)的要求，我公司積十多年制造面粉品質(zhì)檢測儀器的豐富經(jīng)驗(yàn)，全新推出MJ系列面筋測定儀，這是在面筋測定儀上采用的單片機(jī)技術(shù)控制和面、洗滌、時間設(shè)定...

面筋洗滌儀測定濕面筋含量 (1)稱樣：用生化培養(yǎng)箱將洗水調(diào)至所需溫度，從面粉樣品中稱取定量試樣10．00g并置于常溫。 (2)將試樣面筋洗滌儀的洗滌杯中，讓面筋洗滌儀工作。

面筋數(shù)量和質(zhì)量測定儀是根據(jù)GB/T5506.2-2008《小麥和小麥粉 面筋含量第2部分：儀器法測定濕面筋》新國家標(biāo)準(zhǔn)研制生產(chǎn)的一種測定小麥粉中面筋含量的專用儀器，它是用來測定面粉中面筋含量及面筋質(zhì)...

MJH-II面筋烘干儀是測定小麥粉干面筋含量的專用儀器。本儀器與雙頭面筋測定儀、面筋數(shù)量和質(zhì)量測定儀、面筋指數(shù)儀（面筋離心儀）配套使用。

MJZ-II面筋指數(shù)測定儀帶有一數(shù)碼顯示窗，根據(jù)GB/T5506.2-2008《小麥和小麥粉 面筋含量第2部分：儀器法測定濕面筋》規(guī)定研制生產(chǎn)的一種小麥粉濕面筋脫水和面筋指數(shù)測定的專用儀器。儀器的電...

白度測定分析儀利用積分球?qū)崿F(xiàn)光譜漫反射率的測量，其光學(xué)原理是使用半導(dǎo)體光源發(fā)出的蘭色光線直接進(jìn)入積分球，蘭色光線在積分球內(nèi)壁漫反射后，照射在測試口的樣品上