MicroTEQ-S1顯微光譜測(cè)量系統(tǒng)，集成熒光、拉曼和反射光譜測(cè)量功能。通過把光譜模塊集成到顯微鏡上，實(shí)現(xiàn)顯微熒光、拉曼和其他光譜信息的測(cè)量。系統(tǒng)由光譜儀、激光器、光源、顯微鏡等部分構(gòu)成，自由靈活，...

MicroTEQ-B1顯微光譜測(cè)量系統(tǒng)，具備透反射測(cè)量功能。系統(tǒng)選用了共焦收光方式，形成了較小的收光面；除此之外，視野+成像+收光+物面的共軛，可使觀察和測(cè)試同時(shí)進(jìn)行。系統(tǒng)中的顯微反射測(cè)量模塊可適配市...

MicroTEQ-A1顯微光譜測(cè)量系統(tǒng)，集成熒光、共焦拉曼測(cè)量功能*。通過把光譜測(cè)量模塊集成到正置或倒置顯微鏡上，實(shí)現(xiàn)顯微熒光、共焦拉曼和其他光譜信息的測(cè)量。系統(tǒng)由光譜儀、激光器、顯微鏡、光譜測(cè)試模塊...

MicroTEQ-R1 顯微光譜測(cè)量系統(tǒng)，采用高精度微區(qū)光路平臺(tái)，通過加裝于正置顯微鏡光路中的拉曼光譜模塊，實(shí)現(xiàn)了共焦拉曼*測(cè)量功能。

精巧設(shè)計(jì)，無需調(diào)節(jié)，支持標(biāo)準(zhǔn)1cm光程比色皿及不同尺寸的樣品小瓶，適合Accuman系列和模塊化拉曼探頭，能隔絕環(huán)境光影響，提高測(cè)量精確性。

洋光學(xué)SERS基片專用支架，適合Accuman系列和模塊化拉曼探頭，能為測(cè)量提供精準(zhǔn)的定位，隔絕環(huán)境光影響，提高測(cè)量精確性。