1. 共聚焦模式

共聚焦技術(shù)可以用來測量各類樣品表面的形貌。它比光學(xué)顯微鏡有更高的橫向分辨率，可達0.10um.利用它可以實現(xiàn)臨界尺寸的測量。當用150倍、0.95數(shù)值孔徑的鏡頭時，共聚焦在光滑表面測量斜率達70°（粗糙表面達86°）。

共聚焦算法保證Z軸測量重復(fù)性在納米范疇。

2. 相位差干涉模式

相位差干涉是一種亞納米級精度的用于測量光滑表面高度形貌的技術(shù)。它的優(yōu)勢在于任何放大倍數(shù)都可以保證亞納米級的縱向分辨率。使用2.5倍的鏡頭就能實現(xiàn)超高縱向分辨率的大視場測量。

3. 白光干涉干涉模式

白光干涉是一種納米級測量精度的用于測量各種表面高度形貌的技術(shù)。它的優(yōu)勢在于任何放大倍數(shù)都可以保證納米級的縱向分辨率。

4. 多焦面疊加模式

多焦面疊加技術(shù)是用來測量非常粗糙的表面形貌。根據(jù)我們在共聚焦和干涉技術(shù)融合應(yīng)用方面的豐富經(jīng)驗，特別設(shè)計了此功能來補足低倍共聚焦測量的需要。該技術(shù)的最大亮點是快速(mm/s)、掃描范圍大和支援斜率大(最大86°)。此功能對工件和模具測量特別有用。

5. 真彩色共聚焦圖像

每個像素點都能還原真實的色彩。在掃描時紅、綠、藍三色LED交替照明，并將三張單色的圖片還原成一幅高分辨率的彩色圖像。相比其他品牌采用像素插值算法，S neox用這種技術(shù)獲得的圖片色彩保真度和還原性更勝一籌。

6. 3D形貌的最新體驗

超清晰的細節(jié)，用高分辨率的攝像頭將共聚焦的圖像精彩呈現(xiàn)

7. 超清晰的細節(jié)

將納米世界呈現(xiàn)給您，用高分辨率的攝像頭將共聚焦的圖像精彩呈現(xiàn)。

標準尺寸支架：

超大尺寸支架：

西班牙Sensofar品牌簡介

     Sensofar是西班牙的一家高新技術(shù)公司，成立于2001年，總部位于西班牙科技中心巴塞羅那附近的塔拉薩(Terrassa)。公司通過戰(zhàn)略合作伙伴構(gòu)成全球網(wǎng)絡(luò)，在超過20 個國家設(shè)有代表處，始終遵循先進的技術(shù)、卓越的質(zhì)量和優(yōu)質(zhì)客戶服務(wù)的宗旨。

      Sensofar公司專注于研發(fā)非接觸式3D光學(xué)表面測量技術(shù)，致力于開發(fā)、制造和供應(yīng)高端3D測量工具，并提供3D測量技術(shù)領(lǐng)域內(nèi)的咨詢服務(wù)。Sensofar持續(xù)不斷地研發(fā)和申請表面測量專利技術(shù)，在全球范圍內(nèi)創(chuàng)造了數(shù)百種表面形貌測量應(yīng)用產(chǎn)品。在高精度3D光學(xué)測量技術(shù)方面，擁有深厚的技術(shù)實力。

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     我司是西班牙Sensofar、德國徠卡、日本奧林巴斯、美國Zygo、丹麥司特爾、德國蔡司、捷克泰斯肯（TESCAN）、美國RMC、英國Linkam等著名儀器公司特許代理商。致力于為材料用戶提供全面且專業(yè)的顯微形貌分析產(chǎn)品和技術(shù)服務(wù)！

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