磁性法測(cè)厚受基體金屬磁性變化的影響（在理論使用中，低碳鋼磁性的變化可以以為是細(xì)微的），為了避免熱解決和冷加工要素的影響，應(yīng)使用與試件基體金屬具有類(lèi)似性質(zhì)的規(guī)范片對(duì)涂層測(cè)厚儀履行校準(zhǔn)；亦可用待涂覆試件履行校準(zhǔn)。
2.基體金屬電性質(zhì)
基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)測(cè)量有影響，而基體金屬的電導(dǎo)率與其材質(zhì)成分及熱解決方式相干。使用與試件基體金屬具有相異性質(zhì)的規(guī)范片對(duì)儀器履行校準(zhǔn)。
3.基體金屬厚度
每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于這個(gè)厚度，測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。
4.邊緣效應(yīng)
涂層測(cè)厚儀對(duì)試件外外表形狀的陡變敏感。因此在接近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處履行測(cè)量是不可靠的。
5.曲率
試件的曲率對(duì)測(cè)量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的增加明顯地增大。因此，在彎曲試件的外外表上測(cè)量是不靠譜的。
6.試件的變形
測(cè)頭會(huì)使軟籠罩層試件變形，因此在這些試件上不能測(cè)出正確的數(shù)據(jù)。
7.外表糙毛糙度
基體金屬和籠罩層的外外表粗糙水平對(duì)測(cè)量有影響。粗糙水平增大，影響增大。粗糙外外表會(huì)致使零碎誤差和偶然誤差，每次測(cè)量時(shí)，在不同ZY上應(yīng)添加測(cè)量的次數(shù)，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還必須在未涂覆的粗糙度類(lèi)似的基體金屬試件上取幾個(gè)地位校對(duì)涂層測(cè)厚儀的零點(diǎn)；或用對(duì)基體金屬?zèng)]有腐蝕的溶液溶解除去籠罩層后，再校對(duì)涂層測(cè)厚儀的零點(diǎn)。
8.磁場(chǎng)
周?chē)鞣N電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場(chǎng)，會(huì)嚴(yán)重地預(yù)擾磁性法測(cè)厚任務(wù)。
9.附著物質(zhì)
涂層測(cè)厚儀對(duì)那些阻礙測(cè)頭與籠罩層外外表緊密接觸的附著物質(zhì)敏感，因此，必須打消附著物質(zhì)，以保證儀器測(cè)頭和被測(cè)試件外外表間接接觸。
10.測(cè)頭壓力和側(cè)頭取向
測(cè)頭置于試件上所施加的壓力大小會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù)，因此，要維持壓力恒定。測(cè)頭的安放方式對(duì)測(cè)量有影響。涂層測(cè)厚儀在測(cè)量中，應(yīng)當(dāng)使測(cè)頭與試樣外外表維持垂直。