開關特性是由器件在開關過程中的驅動電壓、端電壓、端電流表示的功率半導體開關器件Z重要的特性之一。

一般來說，雙脈沖測試可用于設備評估，在電路設計中直接測量運行中變換器上的設備波形。

為了得出正確的結論，準確的開關過程波形非常重要。

高壓差分探頭的為差分輸入且輸入阻抗高，在電源開發(fā)過程中一般都會選擇它來測量驅動波形。

有時在使用高壓差分探頭時獲得的驅動波形顯得非常粗，這往往是由于高壓差分探頭的衰減倍數(shù)過大導致的。衰減倍數(shù)大，高壓差分探頭的量程就大，使得分辨率大幅下降，同時示波器在還原信號時還會將噪聲放大。此時就需要選擇衰減倍數(shù)較小的高壓差分探頭或選擇高壓差分探頭衰減比較小的檔位。我們使用下圖中的高壓差分探頭測量驅動電壓，衰減倍數(shù)分別選擇50倍和500倍，在下圖中可以明顯到500倍衰減倍數(shù)下驅動波形非常粗。

50倍與500倍衰減波形對比

示意圖為泰克高壓差分探頭

以上高壓差分探頭導致的驅動電壓離譜的原因，如您使用中還有其他問題，歡迎登陸西安普科電子科技www.prbtek.com進行詳細了解

西安普科電子科技有限公司公司目前致力于示波器測試附件配件研發(fā)、生產(chǎn)、銷售，涵蓋產(chǎn)品包含電流探頭、差分探頭、高壓探頭、無源探頭、電源紋波探頭、柔性電流探頭、近場探頭、邏輯探頭、功率探頭和光探頭等。