BeNano 180 Zeta Pro 納米粒度及 Zeta 電位儀

——背向 + 90°散射粒度 + Zeta 電位三合一型

  儀 器 簡(jiǎn) 介

ABOUT INSTRUEMENT

  BeNano 180 Zeta Pro 納 米 粒 度 及 Zeta 電 位 儀 是 BeNano 90+BeNano 180+BeNano Zeta 三合一的頂 級(jí)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)。該系統(tǒng)中集成了背向 +90°動(dòng)態(tài)光散射 DLS、電泳光散射 ELS和靜態(tài)光散射技術(shù) SLS，可以準(zhǔn)確的檢測(cè)顆粒的粒徑及粒徑分布，Zeta 電位，高分子和蛋白體系的分子量信息等參數(shù)，可廣泛的應(yīng)用于化學(xué)、化工、生物、制藥、食品、材料等領(lǐng)域的基礎(chǔ)研究和質(zhì)量分析與控制。

指標(biāo)與性能

Index＆performance

  粒徑測(cè)試

• 粒徑范圍：0.3 nm – 15 μm*

• 樣品量：3 μL – 1 mL*

• 檢測(cè)角度：173° & 90 ° & 12°

• 分析算法：Cumulants、通用模式、CONTIN

• 濃度上限：40% w/v*

  
  

  Zeta 電位測(cè)試

• 技術(shù)：相位分析光散射

• 檢測(cè)角度：12°

• Zeta 范圍：無實(shí)際限制

• 電泳遷移率范圍：> ±20 μm.cm/v.s

• 電導(dǎo)率范圍：0 – 260 mS/cm

• Z小樣品量：0.75 mL – 1.0 mL

• Zeta 測(cè)試粒徑范圍：2 nm – 110 μm

  
  

  分子量測(cè)試

• 分子量范圍：342 Da – 2 x 107 Da*

  
  

  趨勢(shì)測(cè)量

• 模式：時(shí)間和溫度

  
  

  粘度測(cè)試

• 粘度范圍：0.01 cp – 100 cp*

  
  

  系統(tǒng)參數(shù)

• 溫控范圍：-10° C - 110° C，精度 ±0.1° C

• 激光光源：50 mW 高性能固體激光器， 671 nm

• 相關(guān)器：Z多 4000 通道，1011 動(dòng)態(tài)線性范圍

• 檢測(cè)器：APD ，高性能雪崩光電二極管

• 光強(qiáng)控制：0.0001% - 100%，手動(dòng)或自動(dòng)

  原理圖

Optical system

儀器檢測(cè)

 Instruments Testing

  檢測(cè)參數(shù)

• 顆粒體系的光強(qiáng)、體積、面積和數(shù)量分布

• 顆粒體系的 Zeta 電位及其分布

• 分子量

• 分布系數(shù) PD.I

• 擴(kuò)散系數(shù) D

• 流體力學(xué)直徑 D H

• 顆粒間相互作用力因子 k D

• 溶液粘度

  檢測(cè)技術(shù)

• 動(dòng)態(tài)光散射

• 電泳光散射

• 靜態(tài)光散射