電容-電壓(C-V)測量廣泛用于測量半導(dǎo)體參數(shù)，尤其是MOS CAP和MOSFET結(jié)構(gòu)，C-V 測試可以方便的確定二氧化硅層厚度dox、襯底摻雜濃度N、氧化層中可動電荷面密度Q1、和固定電荷面密度Qfc等參數(shù)。

C-V測試方法

進行 C-V 測量時，通常在電容兩端施加直流偏壓，同時利用一個交流信號進行測量。一般這類測量中使用的交流信號頻率在10KHz 到10MHz 之間。所加載的直流偏壓用作直流電壓掃描，掃描過程中測試待測器件待測器件的交流電壓和電流，從而計算出不同電壓下的電容值。

C-V測試系統(tǒng)

LCR表與待測件連接圖

MOS電容的C-V測試系統(tǒng)主要由源表、LCR 表、探針臺和上位機軟件組成。LCR 表支持的測量頻率范圍在 0.1Hz~30MHz。源表(SMU) 負責(zé)提供可調(diào)直流電壓偏置，通過偏置夾具盒CT8001 加載在待測件上。以PCA1000LCR表和吉時利2450源表組成的C-V 測試系統(tǒng)為例，可以滿足精確測量的要求：

吉時利2450系統(tǒng)級應(yīng)用優(yōu)勢

吉時利2450型觸摸屏數(shù)字源表是一款集I—V特性測試、曲線追蹤儀和半導(dǎo)體分析儀功能于一體的低成本數(shù)字源表。吉時利2450豐富的功能也讓它非常適合集成到自動測試系統(tǒng)中：

●嵌入式測試腳本處理器 (TSP)：它將完整的測度程序加載到儀器的非易失性存儲器，無需依賴外部PC控制器，產(chǎn)能更高。

●TSP-Link通信總線：支持測試系統(tǒng)擴展，實現(xiàn)多臺2450儀器和其他基于TSP技術(shù)儀器的系統(tǒng)拓展，拓展的測試系統(tǒng)Z多可連接32臺2450，在一臺主儀器的TSP控制下進行多點或多通道并行測試。

●兼容的2400工作模式：除了2450 SCPI工作模式， 2450還支持2400 SCPI工作模式，并兼容現(xiàn)有的2400 SCPI程序。這保護了用戶的軟件投資，避免儀器升級換代所帶來測試軟件的轉(zhuǎn)換工作。

●PC連接和自動化：后面板三同軸電纜連接端口、儀器通信接口（GPIB、USB 2.0和LXI/Ethernet）、D型9針數(shù)字I/O端口（用于內(nèi)部/外部觸發(fā)信號及機械臂控制）、儀器安全互鎖裝置及TSP-Link連接端口簡化多儀器測試系統(tǒng)的集成。

安泰測試作為泰克吉時利長期合作伙伴，專業(yè)提供設(shè)備選型和測試方案的提供，為西安多家企業(yè)和院校提供吉時利源表現(xiàn)場演示，并獲得客戶的高度認可，如果您想了解吉時利源表更多應(yīng)用方案，歡迎訪問安泰測試網(wǎng)。