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我們致力于與您的集成需求一起不斷發(fā)展S mart 2

S mart 2變得更加靈活多樣，添加了三個新干涉物鏡，包括干涉2.5X TI和5X TI，以及明場100X EPI鏡頭。有了這些新鏡頭，顯微鏡的功能得到了大大增強。

使用CSI的膜厚模式，用戶可以獲取約為1.5微米厚的透明膜層的頂部、厚度和底部的地形數(shù)據(jù)。

CMP過程中PAD表面監(jiān)測的在線計量學

在CMP過程中，頻繁更換拋光墊常常導致停機時間增加和產(chǎn)量下降。為了解決這個問題，我們將我們的便攜式系統(tǒng)S mart 2進行了改進，以便進行在線測量，并檢測溝槽阻塞和墊片上的粗糙度情況。

S mart 2可以將拋光墊的使用壽命延長20％，為半導體、硬盤和LED晶圓制造領域提供了一種具有成本效益的解決方案。

可集成解決方案在中國取得成功

我們的技術已經(jīng)證明了其與不同制造過程和系統(tǒng)的集成性，使它成為先進的表面計量學的一種靈活而強大的工具。

通過這種集成的成功，我們有信心會有更多的集成商能夠利用我們的技術來增強他們的質(zhì)量控制流程，實現(xiàn)更高效、更準確的結(jié)果。

西班牙Sensofar品牌簡介

     Sensofar是西班牙的一家高新技術公司，成立于2001年，總部位于西班牙科技中心巴塞羅那附近的塔拉薩(Terrassa)。公司通過戰(zhàn)略合作伙伴構(gòu)成全球網(wǎng)絡，在超過20 個國家設有代表處，始終遵循先進的技術、卓越的質(zhì)量和優(yōu)質(zhì)客戶服務的宗旨。

      Sensofar公司專注于研發(fā)非接觸式3D光學表面測量技術，致力于開發(fā)、制造和供應高端3D測量工具，并提供3D測量技術領域內(nèi)的咨詢服務。Sensofar持續(xù)不斷地研發(fā)和申請表面測量專利技術，在全球范圍內(nèi)創(chuàng)造了數(shù)百種表面形貌測量應用產(chǎn)品。在高精度3D光學測量技術方面，擁有深厚的技術實力。

關于我們

，專注微觀形貌分析！

代理西班牙Sensofar三維共聚焦白光干涉儀、澤攸科技臺式電鏡/臺階儀/原位分析、德國Leica及國產(chǎn)各類型光學顯微鏡、美國RMC超薄及半薄切片機、英國Linkam冷熱臺、德國Zeiss掃描電鏡、丹麥司特爾金相制樣、陰極發(fā)光臺、防震平臺等材料制備及微觀分析儀器。

致力于為材料用戶提供準確、可靠且全面的毫米級、微米級、納米級微觀形貌分析儀器和解決方案！

讓科學研究和技術創(chuàng)新更便捷、更高效！ 

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