工業(yè)檢測領(lǐng)域再迎技術(shù)革新！S lynx 2全新升級版正式發(fā)布，以 「更好、更快、更智能」 為核心，融合尖端光學技術(shù)與自動化工具，為3D光學計量學樹立新標桿。無論面對光滑、階梯狀還是粗糙表面，它都能以亞納米級精度輕松應對。

一.技術(shù)跨越：ePSI算法開啟亞納米時代

本次升級的核心亮點是全新 ePSI干涉算法 的加入。這項技術(shù)突破帶來三大革命性提升：

1.精度躍遷：測量噪聲低至 0.1 nm（亞納米級），堪稱超光滑表面檢測的解決方案

2.復雜表面征服者：對具有臺階或局部傾斜的樣品實現(xiàn)無失真成像

3.抗干擾升級：徹底消除傳統(tǒng)干涉測量中的條紋噪聲與相位突變問題

二.智能進化：自動化程序模塊（APM）重塑工作流

全新設(shè)計的APM模塊讓復雜檢測流程變得前所未有的簡單：

1.配方革命：

單測量配方（SMR）：一鍵保存全參數(shù)配置

多測量配方（MMR）：在多個位置自動復現(xiàn)掃描程

2.效率倍增：

減少90%人工干預

批量檢測一致性提升200%

3.場景適配：特別適用于圖案化晶圓、重復質(zhì)檢等高頻任務

三.全能：多技術(shù)融合的精密引擎

S lynx 2的緊湊機身蘊藏驚人能量：

1.技術(shù)矩陣：同時集成 多焦面疊加、共聚焦、干涉測量（含CSI與ePSI）

2.智能切換：系統(tǒng)自動匹配最佳技術(shù)方案，徹底告別手動調(diào)參

3.性能鐵三角：

速度 – 毫秒級響應

精度 – 亞納米級誤差

兼容性 – 全表面類型通吃

四.為什么選擇升級版S lynx 2？

1.航天級精度：0.1 nm分辨率滿足最嚴苛標準

2.智能減負：APM模塊讓操作員專注價值決策

3.未來兼容：開放式架構(gòu)支持后續(xù)功能擴展