01

為什么精密測量1微米都不能錯？

芯片報廢:封裝偏移引發(fā)電路短路

植入失效:人工關節(jié)表面粗糙度影響愈合

鏡頭畸變:自由曲面精度不足導致成像模糊

02

3大核心優(yōu)勢，解決行業(yè)痛點

1. 智能雙模式，測量快又準

白光干涉:納米級表面粗糙度檢測

共聚焦:高深寬比結構（如TSV通孔）成像

自動切換:無需人工干預，適應復雜樣品

2. AI算法加持，數(shù)據(jù)更可靠

10萬+工業(yè)樣本訓練，自動過濾環(huán)境噪聲

缺陷檢出率＞99%，遠超人工檢測

3. 一站式分析，效率提升3倍

3D建模+參數(shù)計算一鍵完成

數(shù)據(jù)直通MES系統(tǒng)，無縫對接生產(chǎn)流程

03

真實案例：從“測不準”到“零缺陷”

某封測大廠：

問題：Bump高度測量誤差導致良率下降

方案：Sensofar光學測量儀 + AI分析

結果：
測量速度提升3.8倍
缺陷檢出率99.2%
 年節(jié)省成本超500萬