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在掃描透射電子顯微鏡（STEM）時，您是否曾在定位樣品或如何獲得最佳圖像質(zhì)量時遇到困難？
TESCAN TENSOR 4D-STEM 將通過其直觀的操作和自動化圖像采集功能，徹底改變您的工作流程。
視頻展示了 TESCAN TENSOR 的兩大特點：
便捷的樣品定位
像使用在線地圖一樣輕松定位您的樣品，避免頻繁切換模式和過度曝光
快速的明場/暗場成像
樣品放入后15分鐘內(nèi)，即可獲得高質(zhì)量的明場（BF）和環(huán)形暗場（ADF）STEM圖像。
TESCAN TENSOR 配備了創(chuàng)新的用戶界面 ExploreTM，通過最小化掃描透射電子顯微鏡繁瑣的調(diào)整和校準(zhǔn)需求，簡化了用戶體驗。
啟動數(shù)據(jù)采集和分析會話后，ExploreTM 會自動收集樣品的低倍率概覽圖像，通常大小約為 1x1 毫米或 2x2 毫米。對于 STEM 來說，這是一個異常大的視野范圍，使用戶能夠快速且直觀地識別并導(dǎo)航到感興趣的區(qū)域。在放大到更高倍率的同時，顯微鏡在后臺自動進(jìn)行調(diào)整，以確保最佳圖像質(zhì)量。
然后，可以在放大的概覽圖像上繪制感興趣的區(qū)域，并選擇任何可用的測量方式，例如明場/暗場 STEM 成像。
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