~~ 研討會詳情 ~~
題目:The Expert Guide to Leaf Area Index: Theory, Methods, and Application
主講人:Jeff Ritter,Product Manager,METER Group
主辦方:METER Group
日期和時間:2024年2月28日(星期三)上午 1:00-2:00 (北京時間)
平臺: Go to Webinar
可預(yù)約回放
這次研討會將討論如下話題:
為什么要測量LAI
直接取樣法,包括落葉收集法
基于地面的間接方法,包括半球成像法
透射與反射對比法
衛(wèi)星遙感方法
方法的選擇,如何權(quán)衡精確性與工作強度
~~ 主講嘉賓 ~~
Jeff Ritter是METER Group的產(chǎn)品經(jīng)理,負責(zé)植物、冠層及大氣監(jiān)測產(chǎn)品。他曾獲華盛頓州立大學(xué)植物生理學(xué)碩士學(xué)位,研究方向是葉片表面氣體交換,以及植物生物化學(xué)對全球碳循環(huán)測量的影響。Jeff Ritter還曾在華盛頓州立大學(xué)作物和土壤科學(xué)系擔(dān)任研究教職。
~~ 如何參加 ~~
您可以點擊閱讀原文,直接報名。
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