做光譜分析的您，是不是也常被這些難題困??？譜線展寬模糊，無法區(qū)分波長極近的信號；雜散光干擾嚴(yán)重，微弱信號根本測不到；成像變形失真，定量分析誤差居高不下……這些問題的核心瓶頸，正是光譜儀難以規(guī)避的光學(xué)像差。

深耕光譜領(lǐng)域20余載的卓立漢光，帶著全新解決方案來了 ——Omni-500S系列500mm焦距影像校正光譜儀新品上市，以多項(xiàng)針對性升級，用 “小改動” 實(shí)現(xiàn)性能的 “大跨越”，重新定義光譜分析的精度上限。

從第一款國產(chǎn)通用型三光柵光譜儀，到全焦面影像校正光譜儀的迭代，卓立漢光始終走在國產(chǎn)光譜技術(shù)的創(chuàng)新道路上：

作為本次升級的核心亮點(diǎn)，Omni-500S 搭載的多曲面影像校正技術(shù)，可有效校正像散、彗差等多種光學(xué)像差，全面優(yōu)化系統(tǒng)分辨率、對比度與信噪比。

對比實(shí)驗(yàn)顯示，經(jīng)校正后的譜線更窄更銳利，半高全寬（FWHM）顯著降低，可輕松分辨波長差異更小的光譜細(xì)節(jié)；光纖束成像清晰無拖尾，從根源上降低定量分析的誤差。

儀器箱體采用硬模鑄造一體成型工藝，抗拉強(qiáng)度、屈服強(qiáng)度等機(jī)械性能全面升級，可極大提升光譜儀的長期運(yùn)行穩(wěn)定性，哪怕在復(fù)雜的實(shí)驗(yàn)與工業(yè)環(huán)境中，也能保持性能穩(wěn)定不漂移。

針對傳統(tǒng)光譜儀紫外波段光柵多次衍射產(chǎn)生的雜散光難題，Omni-500S采用非對稱光路結(jié)構(gòu)，結(jié)合專屬光路優(yōu)化設(shè)計(jì)，徹底消除該類雜散光，大幅提升系統(tǒng)信噪比，保證輸出光譜的純凈度，讓弱信號探測不再困難。

儀器搭載擁有自主發(fā)明專利（專利號：ZL 202310878354.5）的自動對焦系統(tǒng)，可獨(dú)立精準(zhǔn)控制各光柵的焦距，切換光柵時自動匹配最佳性能，同時適配多種不同焦深的相機(jī)，讓光譜儀在全波段范圍都能保持最佳的分辨率與成像質(zhì)量，完美滿足復(fù)雜的多場景實(shí)驗(yàn)需求。

儀器的出入口可靈活適配多種規(guī)格的光源、探測器、相機(jī)、光纖等外部設(shè)備，同時配套豐富的可選配件，無需額外定制改造，一臺設(shè)備即可覆蓋多種測試場景，大幅降低用戶的配套成本。

配套軟件搭載智能化分析與控制平臺，具備強(qiáng)大的智能數(shù)據(jù)處理能力，支持實(shí)時譜圖顯示、數(shù)據(jù)擬合分析、多譜圖對比、測試數(shù)據(jù)自動保存，界面友好、操作簡單，大幅簡化測試流程，降低儀器使用門檻，讓新手也能快速上手完成專業(yè)光譜測試。

憑借全面升級的性能與靈活的適配能力，Omni-500S光譜儀可廣泛覆蓋科研與工業(yè)的多元場景：

從第一款光譜儀到全新 Omni-500S 系列，卓立漢光始終以研發(fā)創(chuàng)新為核心，深耕光譜技術(shù)領(lǐng)域，不斷突破國產(chǎn)高端科學(xué)儀器的性能邊界。未來，卓立漢光也將持續(xù)以技術(shù)創(chuàng)新為驅(qū)動力，為廣大科研與工業(yè)用戶提供更優(yōu)質(zhì)、更可靠的光譜儀器解決方案，助力中國高端科學(xué)儀器的自主可控與創(chuàng)新發(fā)展。