評(píng)價(jià)一款測(cè)繪設(shè)備的精度時(shí),我們總是將其與業(yè)內(nèi)公認(rèn)的更高精度的設(shè)備的測(cè)量值做比較,在傳統(tǒng)測(cè)繪領(lǐng)域,全站儀是業(yè)內(nèi)公認(rèn)精度最高的設(shè)備;在三維激光掃描領(lǐng)域,架站式掃描儀(TLS)的數(shù)據(jù)被認(rèn)為是高于移動(dòng)式掃描儀的。那么我們就將全站儀和TLS的測(cè)量數(shù)據(jù)作為精度的參考基準(zhǔn),通過(guò)對(duì)比來(lái)評(píng)價(jià)VLX的掃描數(shù)據(jù)。
需要說(shuō)明的是,移動(dòng)掃描儀的數(shù)據(jù)精度與測(cè)量環(huán)境有關(guān),所以聲稱某移動(dòng)掃描設(shè)備達(dá)到了一個(gè)通用的精度是不負(fù)責(zé)任的。NavVis則通過(guò)不同的場(chǎng)景進(jìn)行精度分析。
與全站儀的對(duì)比分析
早在2020年VLX 1發(fā)布之后,NavVis就對(duì)VLX 1在室內(nèi)的掃描精度做了全面的分析,針對(duì)一個(gè)小型辦公室場(chǎng)景,我們使用高精度全站儀測(cè)量并制作了CAD模型,然后在CAD模型中進(jìn)行手動(dòng)測(cè)量(在下方圖中用黑色數(shù)字表示測(cè)量值),然后在點(diǎn)云模型中測(cè)量同一位置(在下方圖中用藍(lán)色數(shù)字表示測(cè)量值);并標(biāo)注兩組數(shù)據(jù)的偏差(在下方圖中用紅色數(shù)字表示)。
考慮局部(一個(gè)房間內(nèi))精度時(shí),如圖1所示, 在24個(gè)測(cè)量值中,22個(gè)測(cè)量值的偏差小于5mm;2個(gè)測(cè)量值的偏差在6-10mm之間。
圖1 局部精度對(duì)比
考慮全局(多個(gè)房間或整體模型)精度時(shí),如圖2所示,7個(gè)測(cè)量值中,3個(gè)偏差小于5mm,2個(gè)偏差在6-10mm之間,2個(gè)在11-15mm之間。
圖2 全局精度對(duì)比
表1統(tǒng)計(jì)了所有的測(cè)量值對(duì)比結(jié)果,這樣的對(duì)比方式非常直觀,在既有建筑的平面圖制作或者模型創(chuàng)建時(shí)可以提供準(zhǔn)確的尺寸參考。例如,如果建模人員根據(jù)點(diǎn)云建立了一個(gè)5米乘5米的房間模型,他們可以很有把握的說(shuō),這個(gè)模型的誤差在5mm以內(nèi)。
相對(duì)精度 局部點(diǎn)到點(diǎn) | 絕對(duì)精度 全局點(diǎn)到點(diǎn) | |
偏差小于5mm 的測(cè)量值數(shù) | 22 | 3 |
偏差在6mm到 10mm的測(cè)量值數(shù) | 2 | 2 |
偏差在11mm到 15mm的測(cè)量值數(shù) | 0 | 2 |
表1 局部和全局測(cè)量分析表
然而,在點(diǎn)云和CAD模型中
手動(dòng)測(cè)量的方式未能充分利用到所有的點(diǎn)
其測(cè)量值的數(shù)量較少
也就是說(shuō)采樣率較低
要知道,一個(gè)點(diǎn)云模型可是由
幾千萬(wàn)到幾億甚至幾十億個(gè)點(diǎn)組成
我們能不能利用更多的數(shù)據(jù)
做更全面的分析呢?
當(dāng)然可以!我們可以利用
與TLS的點(diǎn)云數(shù)據(jù)做云對(duì)云的對(duì)比
與TLS的對(duì)比分析
01
室內(nèi)場(chǎng)景
對(duì)比之前,我們有必要介紹一下TLS是如何表述精度的,當(dāng)我們提到TLS的精度時(shí),我們指的是單個(gè)位置離散測(cè)量值的精度。對(duì)于一個(gè)站點(diǎn)的掃描,TLS的規(guī)格表通常會(huì)提到與標(biāo)準(zhǔn)偏差相關(guān)的置信度,通常是1西格瑪,即置信度為68%,有時(shí)是2西格瑪,即置信度為95%。
我們可以舉個(gè)例子來(lái)幫助大家理解,如果說(shuō)標(biāo)準(zhǔn)偏差為5毫米,置信度為1西格瑪或68%,這意味著在所有的測(cè)量結(jié)果中,68%的測(cè)量必須在5毫米的精度范圍內(nèi)。
在對(duì)VLX 1和VLX 2的精度分析中,均使用了業(yè)內(nèi)領(lǐng)先的TLS對(duì)同一室內(nèi)場(chǎng)景進(jìn)行了掃描,本文中我們著重講解VLX 2的精度分析方法。針對(duì)VLX 2掃描的同一個(gè)數(shù)據(jù)集,我們采取了兩種不同的處理方式:
??
一種是使用控制點(diǎn)(CP)將點(diǎn)云注冊(cè)到指定坐標(biāo)系但是不做精度優(yōu)化;
??
另一種使用控制點(diǎn)將點(diǎn)云注冊(cè)到指定坐標(biāo)系的同時(shí)優(yōu)化了點(diǎn)云精度;
然后將TLS掃描的點(diǎn)云模型作為精度基準(zhǔn)來(lái)進(jìn)行全面的計(jì)算對(duì)比,對(duì)比結(jié)果代表了VLX 2的絕對(duì)精度。
在分別使用TLS和VLX 2對(duì)圖3的辦公室進(jìn)行掃描獲取點(diǎn)云模型后,我們使用一個(gè)內(nèi)部工具對(duì)比點(diǎn)云模型。
圖3. 辦公室點(diǎn)云模型
圖5表示了TLS點(diǎn)云與NavVis VLX 2點(diǎn)云之間偏差的累積分布情況??梢钥吹剑诓皇褂每刂泣c(diǎn)優(yōu)化精度的情況下,68%的測(cè)量值是低于5.1mm的, 95%的測(cè)量值是低于12.9mm的;在使用了控制點(diǎn)優(yōu)化精度后,68%的測(cè)量值低于4.5mm, 95%的測(cè)量值低于12.7mm。
圖5
相比與手動(dòng)的測(cè)量對(duì)比,點(diǎn)云與點(diǎn)云的對(duì)比更加全面,從圖5的對(duì)比結(jié)果來(lái)看,以TLS的數(shù)據(jù)作為精度基準(zhǔn)時(shí),我們可以說(shuō):
??
在不使用控制點(diǎn)優(yōu)化精度的情況下,VLX 2的絕對(duì)精度在68%的可信度下是小于5.1mm的;在95%的可信度下是小于12.9mm的。
??
在使用控制點(diǎn)優(yōu)化精度后,VLX 2的絕對(duì)精度在68%的可信度下是小于4.5mm的;在95%的可信度下是小于12.7mm的。
絕對(duì)精度 | 不使用控制點(diǎn) 優(yōu)化點(diǎn)云 | 使用控制點(diǎn) 優(yōu)化點(diǎn)云 |
68%的測(cè)量偏差小于 | 5.1mm | 4.5mm |
95%的測(cè)量偏差小于 | 12.9mm | 12.7mm |
表 2
值得注意的是,在這樣一個(gè)室內(nèi)辦公室場(chǎng)景中,即使不使用控制點(diǎn)優(yōu)化,VLX 2的絕對(duì)精度與使用了控制點(diǎn)優(yōu)化的精度也相差無(wú)幾,所以我們有理由相信,在類似的環(huán)境中,NavVis VLX 2完全可以在無(wú)控制點(diǎn)的情況下為客戶提高精度的數(shù)據(jù)。
02
室外場(chǎng)景
盡管VLX 2的設(shè)計(jì)初衷是數(shù)字化室內(nèi)空間,隨著技術(shù)發(fā)展和客戶需求增加,VLX 2也針對(duì)室外環(huán)境優(yōu)化了掃描算法,我們一起來(lái)看看其在室外掃描的精度表現(xiàn),選擇一個(gè)建筑的外立面,長(zhǎng)31.3m,高20.3m。同樣以高精度TLS掃描點(diǎn)云作為精度基準(zhǔn),與VLX 2掃描的點(diǎn)云做全局對(duì)比。結(jié)果如圖7所示:
絕對(duì)精度 | |
68%的測(cè)量偏差小于 | 5.6mm |
95%的測(cè)量偏差小于 | 12.2mm |
圖7 外立面全局點(diǎn)云對(duì)比
在掃描外立面時(shí),越高的地方離掃描儀越遠(yuǎn),獲取的點(diǎn)數(shù)量越少,精度也隨之下降。所以我們可以更深入地分析不同高度區(qū)間內(nèi)VLX 2的精度表現(xiàn)。為了排除地面移動(dòng)物體的干擾,我們將外立面分為三個(gè)高度區(qū)間,1.55m-7.8m,7.8m-14.05m, 14.05m-20.3m, 結(jié)果如下:
從分區(qū)的對(duì)比結(jié)果來(lái)看,VLX 2在外立面低區(qū)的精度與室內(nèi)的掃描精度相當(dāng),在中區(qū)和高區(qū)略為衰減,這樣的精度表現(xiàn)在移動(dòng)掃描領(lǐng)域無(wú)疑是領(lǐng)先的,為既有建筑BIM建模提供堅(jiān)實(shí)的基礎(chǔ)。
本文介紹了NavVis在分析自身產(chǎn)品(VLX 1, VLX 2)精度時(shí)采用的分析方法和在不同場(chǎng)景下達(dá)到的精度。更多的分析細(xì)節(jié),大家可以查閱NavVis官網(wǎng)提供的精度白皮書,今后,我們將繼續(xù)對(duì)其他建筑環(huán)境進(jìn)行研究測(cè)量,并從長(zhǎng)遠(yuǎn)來(lái)看,我們將把這種精度評(píng)估的范圍擴(kuò)展到具有挑戰(zhàn)性的戶外場(chǎng)景,如森林、公園和人工結(jié)構(gòu)較少的開(kāi)放區(qū)域。
資料參考:
VLX 1 精度白皮書:NavVis VLX 1精度白皮書
VLX 2 精度白皮書:NavVis VLX 2精度白皮書
上海滬敖信息科技
副總兼市場(chǎng)總監(jiān)
滬敖3D是一家致力于三維數(shù)字化行業(yè)解決方案的技術(shù)型企業(yè),擁有豐富的三維項(xiàng)目經(jīng)驗(yàn),公司以行業(yè)應(yīng)用為出發(fā)點(diǎn),為客戶提供三維數(shù)字化采集、三維數(shù)據(jù)處理、三維數(shù)據(jù)管理等一系列應(yīng)用服務(wù)。
滬敖3D擁有結(jié)構(gòu)光拍照式三維掃描儀、手持三維掃描儀(大小空間)、地面三維激光掃描儀、無(wú)人機(jī)傾斜攝影測(cè)量、3D打印等多種技術(shù)手段,從幾厘米到幾百米的物體或三維空間,從幾個(gè)微米到幾個(gè)厘米的精度,滬敖均可提供涵蓋軟硬件產(chǎn)品和項(xiàng)目服務(wù)的完整解決方案。
滬敖3D目前主要服務(wù)于制造業(yè)(汽車、航空航天、船舶、模具、鑄造以及各種機(jī)械)、建筑業(yè)(建筑設(shè)計(jì)、施工、裝修等)、文化遺產(chǎn)(博物館、古建筑、考古等)、數(shù)字化工廠、警用公共安全、影視制作、教育等行業(yè)。提供質(zhì)量檢測(cè)、三維建模、逆向工程、數(shù)字存檔、GD/T分析、有限元分析、虛擬安裝、干涉分析、工程測(cè)繪、形變監(jiān)測(cè)、3D打印等技術(shù)方案。
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